-
公开(公告)号:CN112496859A
公开(公告)日:2021-03-16
申请号:CN202011418148.9
申请日:2020-12-07
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
IPC: B23Q17/00
Abstract: 本发明公开了一种液体静压导轨综合性能的动态测量装置及方法,该装置包括设于工作台上的加载单元及测量单元,加载单元可对液体静压导轨进行加载,模拟其实际工作过程中的加工状态;测量单元包括用于对液体静压导轨的位移变化量进行检测的位移测量组件以及两个光栅尺,其中一个光栅尺用于反馈和控制液体静压导轨的位置,另一个光栅尺用于测量液体静压导轨的位置和速度。该方法基于装置实施,可对动态液体静压导轨进行定位精度、运动平稳性、水平及垂直方向的运动直线度和对应方向静刚度的动态测量。本发明不仅方便对液体静压导轨进行拆装更换,普适性较强,而且能够统一进行相应指标的动态测量,既可缩短测量周期,又能提高测量结果的参考价值。
-
公开(公告)号:CN112414705A
公开(公告)日:2021-02-26
申请号:CN202011390463.5
申请日:2020-12-02
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
IPC: G01M13/025 , G01M13/04 , G01M5/00
Abstract: 本发明公开了一种静压主轴\轴承用角刚度检测装置及方法,涉及静压主轴\轴承性能检测技术领域,该装置包括检测平台、装载单元、加载单元和测量单元,装载单元上用于安装被测样品,并设置有与被测样品固定连接的检测棒,加载单元作用于被测样品,其载荷施加端处安装有用于检测施力大小的力传感器,测量单元包括对被测样品位移变化量进行测量的第一位移传感器以及对检测棒不同位置处位移变化量进行测量的第二位移传感器和第三位移传感器;该方法基于上述装置对真实工作状态模拟下的被测样品进行测量和检测,本发明辅以单点力加载,三点位移测量的方法可以获得被测样品的角刚度,且多次多点测量可提高角刚度值的准确性和高价值参考性。
-
公开(公告)号:CN111561882A
公开(公告)日:2020-08-21
申请号:CN202010565143.2
申请日:2020-06-19
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
Abstract: 本发明公开了一种回转轴六自由度的动态测量装置,包括机架、动力机构、数据采集系统和数据分析系统,机架上设置有测量机构和运动接头机构;数据采集系统与测量机构相连,对测量机构的测量数据进行采集;数据分析系统与数据采集系统相连,用于对数据采集系统采集到的数据进行分析;所述测量机构包括角度测量机构和位移测量机构;本发明还公开了一种用于回转轴六自由度的动态测量装置的测量方法,步骤包括S1安装、S2调整、S3数据采集和S4数据处理;本发明在同一设备中就可完成回转轴的六自由度测量,解决了回转轴误差多平面分开测量和角度误差分开测量造成测量耗时多、测量过程繁杂等问题;具有测量效率高、结构简单、安装方便等优点,同时也大大降低了检测成本。
-
公开(公告)号:CN110686634A
公开(公告)日:2020-01-14
申请号:CN201910998075.6
申请日:2019-10-21
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
Abstract: 本发明公布了回转轴线几何精度检测所用位移传感器微调装置,该装置包括姿态微调单元、位置微调单元;所述姿态微调单元能进行传感器支架的姿态调节,以保证传感器支架与被测回转轴线平行;所述位置微调单元能分别进行位移传感器位置调整,以保证位移传感器始终对准标准棒上标准球的高点;所述位置微调单元通过螺钉与姿态微调单元固定连接。本发明的回转轴线几何精度检测所用位移传感器微调装置能有效降低传感器支架安装倾斜与位移传感器未对准标准球高点引入的测量误差,从而提高了回转轴线几何精度检测精度。
-
公开(公告)号:CN112629443B
公开(公告)日:2024-10-29
申请号:CN202011640807.3
申请日:2020-12-31
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明涉及主轴\轴承性能检测技术领域,具体涉及一种回转轴系倾角检测装置;采用的技术方案是:一种回转轴系倾角检测装置,包括机架,所述机架上转动连接有可回转的测量摆台;所述测量摆台中部设有用于竖向安装被测轴系的安装孔,所述摆台一端设有自准直仪;所述安装孔上方从上往下依次设有折光镜和平面反射镜,所述折光镜用于将自准直仪发出的光线垂直射入平面反射镜,所述平面反射镜与安装孔端部平行。本发明可直接检测出轴系处于非立式安装状态时转子在重力作用下相对轴系外壳的倾斜程度,能够准确检测转子倾角,具有通用性好的特点。
-
公开(公告)号:CN111561882B
公开(公告)日:2024-07-02
申请号:CN202010565143.2
申请日:2020-06-19
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
Abstract: 本发明公开了一种回转轴六自由度的动态测量装置,包括机架、动力机构、数据采集系统和数据分析系统,机架上设置有测量机构和运动接头机构;数据采集系统与测量机构相连,对测量机构的测量数据进行采集;数据分析系统与数据采集系统相连,用于对数据采集系统采集到的数据进行分析;所述测量机构包括角度测量机构和位移测量机构;本发明还公开了一种用于回转轴六自由度的动态测量装置的测量方法,步骤包括S1安装、S2调整、S3数据采集和S4数据处理;本发明在同一设备中就可完成回转轴的六自由度测量,解决了回转轴误差多平面分开测量和角度误差分开测量造成测量耗时多、测量过程繁杂等问题;具有测量效率高、结构简单、安装方便等优点,同时也大大降低了检测成本。
-
公开(公告)号:CN112629443A
公开(公告)日:2021-04-09
申请号:CN202011640807.3
申请日:2020-12-31
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明涉及主轴\轴承性能检测技术领域,具体涉及一种回转轴系倾角检测装置;采用的技术方案是:一种回转轴系倾角检测装置,包括机架,所述机架上转动连接有可回转的测量摆台;所述测量摆台中部设有用于竖向安装被测轴系的安装孔,所述摆台一端设有自准直仪;所述安装孔上方从上往下依次设有折光镜和平面反射镜,所述折光镜用于将自准直仪发出的光线垂直射入平面反射镜,所述平面反射镜与安装孔端部平行。本发明可直接检测出轴系处于非立式安装状态时转子在重力作用下相对轴系外壳的倾斜程度,能够准确检测转子倾角,具有通用性好的特点。
-
公开(公告)号:CN111595238A
公开(公告)日:2020-08-28
申请号:CN202010493879.3
申请日:2020-06-03
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开一种基于多站法的激光跟踪仪精度现场评价系统,包括:测量点运动驱动设备、多个激光跟踪仪和精度评价计算装置;激光跟踪仪追踪测量出测量点运动驱动设备上在激光跟踪仪坐标系B下各目标点的测量坐标和激光跟踪仪到目标点的绝对测量距离;精度评价计算装置根据激光跟踪仪到目标点的绝对测量距离计算出在测量点运动驱动设备坐标系A下目标点的第一空间位置坐标,再进行坐标转换得到坐标系B下第二空间位置坐标,然后计算出目标点的测量坐标与第二空间位置坐标的差值,用概率统计方法得到激光跟踪仪测角和测长精度评价,本方案在激光跟踪仪精度现场评价中具备测量速度快,成本低等优点,在具备理论坐标位置的测量设备或三坐标空间精度检测过程中具有更高的现场实用性和可操作性。
-
公开(公告)号:CN109945786A
公开(公告)日:2019-06-28
申请号:CN201910238893.6
申请日:2019-03-27
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
Abstract: 本发明公开了一种平面轨迹测量装置及其安装、测量方法,包括内部带有长光栅的测量杆,测量杆的两端分别连接小球Ⅰ、小球Ⅱ;运动接头组件包括用于连接在被测主轴上的磁力座、连接在磁力座下方的磁力接头,磁力接头的底部具有与小球Ⅰ相匹配的球窝;底座组件包括设置在工作台面上的旋转底座、转动连接在旋转底座上的磁力杆、固定套设在磁力杆外的圆光栅,磁力杆的顶部具有与小球Ⅱ相匹配的球窝。本发明利用长光栅与圆光栅分别记录测量点的位移值和角度值,不同于球杆仪的一维位移测量,采集的信息更多;将精密小球安装于磁性接头与磁力杆两个重复性接头之间,不同于平面光栅对测量平面的局限性,可实现空间任一平面的平面轨迹测量。
-
公开(公告)号:CN112343919B
公开(公告)日:2024-12-27
申请号:CN202011295654.3
申请日:2020-11-18
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
Abstract: 本发明提供了一种基于密珠轴承的高精度正交回转轴系统,包括水平左密珠轴系、水平右密珠轴系和垂直密珠轴系;所述水平左密珠轴系和水平右密珠轴系镜像对称设置,且之间留有空隙,所述水平左密珠轴系和水平右密珠轴系均设在垂直密珠轴系顶部,所述垂直密珠轴系的轴承轴线位于水平左密珠轴系和水平右密珠轴系之间,且和水平左密珠轴系的轴承轴线相互垂直;所述水平左密珠轴系与水平右密珠轴系的轴承小径端部之间用于夹持测量模块。采用本方案,很大程度增加了轴系回转的精度和精密测量仪器的测量精度,还有利于降低热变形对于轴系精度的影响。
-
-
-
-
-
-
-
-
-