一种用于双面快速抛光机床的抛光液循环装置

    公开(公告)号:CN119427215A

    公开(公告)日:2025-02-14

    申请号:CN202411777140.X

    申请日:2024-12-05

    Abstract: 一种用于双面快速抛光机床的抛光液循环装置,包括一柜体,柜体内设有循环水箱、精密过滤器和PLC控制器,循环水箱设有进水口和出水口与进水管路、出水总管相连,出水总管分为二路:第一路通过出水总阀与精密过滤器相连接,抛光液经精密过滤器过滤后输送至抛光区域;第二路通过回流阀与循环水箱的回流口相连接,双面快速抛光机床下抛光盘的四周设置抛光液收集槽,下抛光盘外侧设有对抛光液收集槽内沉积的抛光粉进行清扫的回收清洁板,抛光液收集槽的底部设有收集口,收集口通过回流管路与循环水箱相连,柜体内还设有对循环水箱进行冷却的恒温控制器。本发明具有结构合理紧凑、自动化程度高、精度高、运行稳定等特点,可应用于抛光液的循环利用。

    一种非球面光学元件加工方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119952539A

    公开(公告)日:2025-05-09

    申请号:CN202510208634.4

    申请日:2025-02-25

    Abstract: 本发明公开了一种非球面光学元件加工方法,其特征在于包括有以下步骤:步骤一、建立加工表面质量与加工时间数据库;步骤二、开始光学元件加工,当工件Ⅰ完成磨削及检测后等待抛光或完成一轮抛光及检测后等待补偿抛光时,判断抛光机床加工状态;步骤三(a)、各工位最佳时间匹配:步骤三(b)、各工位最短时间匹配:步骤四、调整工件Ⅲ磨削阶段的目标表面质量等级再进行后续加工。与现有技术相比,本发明的非球面光学元件加工方法能够提高整体加工效率。

    一种光学元件表面缺陷检测装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114689596A

    公开(公告)日:2022-07-01

    申请号:CN202210278836.2

    申请日:2022-03-17

    Abstract: 本发明涉及一种光学元件表面缺陷检测装置,包括有:激光光源模块,用于发出激光光束并入射到待检测光学元件的表面;成像模块,用于收集散射光以形成检测图像;其特征在于:还包括:隔振平台,所述激光光源模块和成像模块均放置于该隔振平台上,用于在激光光源模块和成像模块扫描运动时隔离外界引起的振动。本发明的优点在于:通过设置隔振平台隔离激光光源模块和成像模块扫描运动时外界引起的振动,从而能减小外界扰动对系统的检测灵敏度和重复性造成影响,进而提高缺陷检测的抗干扰能力。因此该缺陷检测装置的检测灵敏度高且检测准确率高。

    一种光学元件表面缺陷识别方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114742767A

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202210267849.X

    申请日:2022-03-17

    Abstract: 本发明涉及一种光学元件表面缺陷识别方法,包括以下步骤:步骤1、图像采集;步骤2、对所有光学元件的子孔径缺陷图像进行拼接,得到光学元件完整的全口径缺陷图像;步骤3、采用全局阈值对光学元件完整的全口径缺陷图像进行预处理分割,使灰度图像背景与缺陷分割开;步骤4、对缺陷灰度图进行预处理,并对缺陷的特征和形态参数进行提取;步骤5、对根据缺陷的特征和形态参数进行分类,得到缺陷分类结果。本发明的优点在于:通过全局阈值对光学元件完整的全口径缺陷图像进行预处理分割,使灰度图像背景与缺陷分割开,因此该方法无需人为识别缺陷,通过灰度将背景和缺陷分割开来,提高了缺陷识别的准确率,且通过自动化操作,提高了缺陷识别速度。

    一种抛光压力可调节的上抛光盘装置

    公开(公告)号:CN120055994A

    公开(公告)日:2025-05-30

    申请号:CN202510310426.5

    申请日:2025-03-17

    Abstract: 一种抛光压力可调节的上抛光盘装置,包括有:基座和抛光组件,抛光组件包括有旋转杆、抛光盘安装组件及抛光盘,旋转杆的下端通过抛光盘安装组件连接有抛光盘;移动组件包括有气缸,气缸活动端的下端通过可旋转连接结构连接旋转杆;其特征在于移动组件包括有压力调节装置,平衡缸的活塞杆下端连接可旋转连接结构,承担抛光盘和可旋转连接结构的重力;压力缸的活塞杆下端连接可旋转连接结构,推动抛光盘上下升降并施加抛光压力;压力传感器设在活塞杆下端和可旋转连接结构之间,用于测量抛光压力并输出压力信号;控制器的信号输入端接收输出压力信号,对应地,压力缸和平衡缸所对应电控阀门,结构简单、成本低、操作方便而且抛光压力测量准确。

    一种高效率复合加工非球面光学元件的方法

    公开(公告)号:CN119658476A

    公开(公告)日:2025-03-21

    申请号:CN202411889936.4

    申请日:2024-12-20

    Abstract: 一种高效率复合加工非球面光学元件的方法,步骤:根据待加工光学元件形状制作工装夹具,将光学元件坯料下表面磨平抛光,固定在工装夹具上;通过粗磨+精磨对光学元件毛坯上表面进行非球面成型加工,得到非球面样件;采用轮廓仪测量非球面样件面形数据;将面形数据导入气囊抛光机床,计算得到补偿加工的NC代码,将工装夹具与非球面样件一同固定在抛光机床的过渡夹具上采用不同气囊抛光头对非球面样件的上表面进行粗抛和精抛;加工完成后采用轮廓仪测量非球面样件面形数据,合格后将非球面样件及工装夹具浸泡在丙酮溶液中,取出样件。本发明工艺科学合理,能实现对元件面形的快速测量,减少装夹误差,提高加工质量和加工效率,降低生产成本。

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