多层配线的形成方法和存储介质
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111630654A

    公开(公告)日:2020-09-04

    申请号:CN201980009315.3

    申请日:2019-01-23

    Abstract: 实施方式的多层配线的形成方法是埋入型的多层配线的形成方法,其包括:在通孔(70)中配线(50)露出的底面(73)形成单分子膜(80)的工序,其中该通孔(70)在设置于基片的配线(50)上的绝缘膜(60)的规定的位置形成并贯通至配线(50);在通孔(70)的侧面(72)形成阻挡膜(81)的工序;除去单分子膜(80)的工序;将露出于通孔(70)的底面(73)的配线(50)作为催化剂,从通孔(70)的底面(73)起形成无电解镀膜(82)的工序。

Patent Agency Ranking