公开(公告)号：CN113764395A

公开(公告)日：2021-12-07

申请号：CN202010485565.9

申请日：2020-06-01

Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司

Inventor： 单伟君 ,  沈晔晖 ,  单智阳 ,  廖少武 ,  金伟 ,  王立辉 ,  李清 ,  俞军

IPC: H01L25/18 ,  H01L23/49 ,  H01L21/50

Abstract: 一种闪存芯片模块和闪存芯片模块的封装方法，其中，闪存芯片模块包括：封装载体，包括若干外部共享引脚；位于所述封装载体上的闪存芯片，包括若干第一共享引脚以及若干第一内部引脚，所述第一共享引脚与所述外部共享引脚互连；位于所述封装载体上的应答保护单调计数器芯片，包括若干第二内部引脚，所述第二内部引脚与所述第一内部引脚互连。从而，降低了闪存芯片模块的设计复杂度、封装难度，增加了闪存芯片模块的成品率，并减小闪存芯片模块的功耗。

公开(公告)号：CN118471301A

公开(公告)日：2024-08-09

申请号：CN202310098975.1

申请日：2023-02-07

Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司

Inventor： 陈斌 ,  周泉 ,  许灵达 ,  薛柏林 ,  黎旺 ,  金伟 ,  张瑞耕 ,  施丽丽

IPC: G11C16/26 ,  G11C16/12 ,  G11C29/56

Abstract: 本发明公开一种存储器读出电路、测试电路及测试方法、芯片，该存储器读出电路包括：电流比较电路、预充电电路、选择开关、参考电流产生电路、列解码电路、限流电路、与参考电流产生电路连接的测试开关、与测试开关连接的测试接口；列解码电路通过位线分别与第一存储单元和第二存储单元连接，还通过选择开关与电流比较电路连接；参考电流产生电路通过选择开关与所述电流比较电路连接；限流电路连接在存储单元的源线和地之间；预充电电路与电流比较电路、选择开关连接。利用本方案，无需增加额外的测试电路即可实现对存储阵列和读通路的测试。

公开(公告)号：CN212380424U

公开(公告)日：2021-01-19

申请号：CN202020970460.8

申请日：2020-06-01

Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司

Inventor： 单伟君 ,  沈晔晖 ,  单智阳 ,  廖少武 ,  金伟 ,  王立辉 ,  李清 ,  俞军

IPC: H01L25/18 ,  H01L23/49 ,  H01L21/50

Abstract: 一种闪存芯片模块，包括：封装载体，包括若干外部共享引脚；位于所述封装载体上的闪存芯片，包括若干第一共享引脚以及若干第一内部引脚，所述第一共享引脚与所述外部共享引脚互连；位于所述封装载体上的应答保护单调计数器芯片，包括若干第二内部引脚，所述第二内部引脚与所述第一内部引脚互连。从而，降低了闪存芯片模块的设计复杂度、封装难度，增加了闪存芯片模块的成品率，并减小闪存芯片模块的功耗。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利