公开(公告)号：CN118471301A

公开(公告)日：2024-08-09

申请号：CN202310098975.1

申请日：2023-02-07

Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司

Inventor： 陈斌 ,  周泉 ,  许灵达 ,  薛柏林 ,  黎旺 ,  金伟 ,  张瑞耕 ,  施丽丽

IPC: G11C16/26 ,  G11C16/12 ,  G11C29/56

Abstract: 本发明公开一种存储器读出电路、测试电路及测试方法、芯片，该存储器读出电路包括：电流比较电路、预充电电路、选择开关、参考电流产生电路、列解码电路、限流电路、与参考电流产生电路连接的测试开关、与测试开关连接的测试接口；列解码电路通过位线分别与第一存储单元和第二存储单元连接，还通过选择开关与电流比较电路连接；参考电流产生电路通过选择开关与所述电流比较电路连接；限流电路连接在存储单元的源线和地之间；预充电电路与电流比较电路、选择开关连接。利用本方案，无需增加额外的测试电路即可实现对存储阵列和读通路的测试。