测量单晶晶向的方法、系统及介质

    公开(公告)号:CN116930226A

    公开(公告)日:2023-10-24

    申请号:CN202210343742.9

    申请日:2022-04-02

    Abstract: 本发明提供一种测量单晶晶向的方法、系统及介质,涉及晶体学凝聚态物理和粒子衍射技术领域,包括:步骤S1:扫描单晶样品,录得一部分衍射图案,依据布拉格衍射条件计算标准衍射图案,配准两类衍射图案以得到各个实验衍射图案对应的晶向角、图案中心坐标值;步骤S2:根据几何关系对图案中心坐标值做拟合计算,得到样品表面相对于衍射探测器的位置;步骤S3:应用拟合所得的样品表面的位置来计算单晶样品的实际晶向角。本发明能够纠正实验操作误差、精确测量单晶晶向。

Patent Agency Ranking