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公开(公告)号：CN102803894A
公开(公告)日：2012-11-28
申请号：CN201080065476.3
申请日：2010-11-02
Applicant: 三洋电机株式会社
CPC classification number: G01V8/14 , G01S7/4811 , G01S17/89 , G06F3/017 , G06F3/0304
Abstract: 本发明提供一种在激光的光轴方向上可谋求投射光学系统的小型化的信息取得装置以及搭载该信息取得装置的物体检测装置。信息取得装置具备：出射规定波段的激光的激光光源(111)、将从激光光源出射的激光变换成平行光的准直透镜(112)、接收从目标区域反射的反射光并输出信号的CMOS图像传感器(125)、以及基于从CMOS图像传感器(125)输出的信号来取得存在于目标区域的物体的三维信息的CPU。在准直透镜(112)的出射面(112b)一体式形成了通过衍射将激光变换成具有点图案的激光的光衍射部(112c)。
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公开(公告)号：CN102933934A
公开(公告)日：2013-02-13
申请号：CN201180027926.4
申请日：2011-05-17
Applicant: 三洋电机株式会社
CPC classification number: G01V8/12 , G01B11/00 , G02B5/1842 , G03H2001/2247 , G06T19/006
Abstract: 本发明提供一种信息获取装置及搭载该信息获取装置的物体检测装置。信息获取装置(1)具备射出波长为830nm左右的激光的激光光源(111)、偏振光束分光器(PBS)(113)、1/4波长板(114)、DOE(116)和PD(117)。DOE(116)以规定光点图形向目标区域照射激光。PD(117)接受由DOE(116)衍射及反射后的激光的一部分。由此，以紧凑的构成就能够检测衍射光学元件的劣化。
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公开(公告)号：CN102753932A
公开(公告)日：2012-10-24
申请号：CN201080063886.4
申请日：2010-11-01
Applicant: 三洋电机株式会社
Abstract: 本发明提供一种能够以简单构成高精度地取得目标区域的信息的信息取得装置及搭载该信息取得装置的物体检测装置。信息取得装置(1)具有：激光光源(111)，射出波长为830nm程度的激光；投射光学系统(10)，朝向所述目标区域投射激光；以及CMOS图像传感器(125)，接收来自所述目标区域的反射光并输出信号。从在射出了激光时由CMOS图像传感器(125)输出的第1摄像数据之中减去在没有射出激光时由CMOS图像传感器(125)输出的第2摄像数据，并将减法结果存储于存储器(25)。3维距离运算部(21c)基于存储于存储器(25)的减法结果来运算并取得3维距离信息。
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公开(公告)号：CN102686975A
公开(公告)日：2012-09-19
申请号：CN201180005133.2
申请日：2011-06-02
Applicant: 三洋电机株式会社
Abstract: 本发明公开一种即使激光的点图案因衍射光学元件的形状、位置及激光的波长等而变化，也能够适当地检测到检测对象物体的距离的信息取得装置及搭载该信息取得装置的物体检测装置。信息取得装置(1)具有：射出波长为830nm左右的激光的激光光源(111)；将激光朝向所述目标区域投射的投射光学系统(11)；对来自所述目标区域的反射光进行受光并输出信号的CMOS图像传感器(124)；保持基准样板的存储器(25)，该基准样板通过将由CMOS图像传感器(124)所受光的光的基准图案利用呈矩阵状排列的基准分段区域划分而成；更新基准样板的更新部(21b)。更新部(21b)根据在基准样板上设定的参照分段区域的实测时的位移来更新基准样板。
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