用于光掩模的表膜及其制造方法

    公开(公告)号:CN110609435A

    公开(公告)日:2019-12-24

    申请号:CN201910504878.1

    申请日:2019-06-12

    Inventor: 金文子 丁昶荣

    Abstract: 公开用于光掩模的表膜及其制造方法。所述用于光掩模的表膜包括表膜膜片。所述表膜膜片包括具有第一表面和与所述第一表面相反的第二表面的基础层、和覆盖所述基础层的所述第一表面的第一恢复层。在所述第一恢复层中包含的碳原子之间的SP2共价键的含量小于或等于在所述基础层中包含的碳原子之间的SP2共价键的含量。

    光罩护膜组件、光罩组件、光罩盒和光罩护膜测量方法

    公开(公告)号:CN119270578A

    公开(公告)日:2025-01-07

    申请号:CN202410844830.6

    申请日:2024-06-27

    Abstract: 本公开提供了光罩护膜组件、光罩组件、光罩盒和光罩护膜测量方法。一种光罩护膜组件可以包括:光罩护膜框架,配置为提供第一开口;光罩护膜,在光罩护膜框架上;以及多个光罩护膜电极,沿着光罩护膜的边缘布置并彼此间隔开。光罩护膜可以包括具有四边形或矩形框架形状的光罩护膜边界以及位于光罩护膜边界的顶表面上并且联接到光罩护膜边界的顶表面的光罩护膜膜状物。每个光罩护膜电极可以包括位于光罩护膜膜状物的顶表面上并与光罩护膜膜状物的顶表面接触的接触构件。

    用于防止热积累的保护膜和具有其的极紫外线光刻装置

    公开(公告)号:CN106154766A

    公开(公告)日:2016-11-23

    申请号:CN201610290516.3

    申请日:2016-05-04

    Abstract: 一种用于包括极紫外线(EUV)光刻的光刻工艺的保护膜可以减轻在保护膜的隔膜中的热积累。保护膜包括隔膜和在隔膜的至少一个表面上的至少一个热缓冲层。热缓冲层的发射率可以大于隔膜的发射率。热缓冲层的碳含量可以大于隔膜的碳含量。多个热缓冲层可以在隔膜的分开的表面上,热缓冲层可具有不同的性能。盖层可以在至少一个热缓冲层上,盖层可以包括抗氢材料。热缓冲层可以在隔膜的表面的某些部分或全部之上延伸。热缓冲层可以在至少两个隔膜之间。

    用于光掩模的表膜及其制造方法

    公开(公告)号:CN110609435B

    公开(公告)日:2024-10-11

    申请号:CN201910504878.1

    申请日:2019-06-12

    Inventor: 金文子 丁昶荣

    Abstract: 公开用于光掩模的表膜及其制造方法。所述用于光掩模的表膜包括表膜膜片。所述表膜膜片包括具有第一表面和与所述第一表面相反的第二表面的基础层、和覆盖所述基础层的所述第一表面的第一恢复层。在所述第一恢复层中包含的碳原子之间的SP2共价键的含量小于或等于在所述基础层中包含的碳原子之间的SP2共价键的含量。

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