表膜和包括其的掩模版
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110119064B

    公开(公告)日:2025-04-01

    申请号:CN201910066838.3

    申请日:2019-01-24

    Abstract: 本发明涉及表膜和包括其的掩模版。提供待用于光刻工艺的表膜。该表膜包括如下的膜,所述膜的至少一部分包括碳同素异形体。所述膜具有第一表面和与所述第一表面相反的第二表面,该膜包括包含掺杂剂的掺杂区域,该掺杂区域与所述第一表面相邻,所述掺杂剂包括硼或氮的至少一种,以及所述掺杂区包括所述掺杂剂的至少一种的原子与碳原子之间的键。

    用于光掩模的表膜及其制造方法

    公开(公告)号:CN110609435A

    公开(公告)日:2019-12-24

    申请号:CN201910504878.1

    申请日:2019-06-12

    Inventor: 金文子 丁昶荣

    Abstract: 公开用于光掩模的表膜及其制造方法。所述用于光掩模的表膜包括表膜膜片。所述表膜膜片包括具有第一表面和与所述第一表面相反的第二表面的基础层、和覆盖所述基础层的所述第一表面的第一恢复层。在所述第一恢复层中包含的碳原子之间的SP2共价键的含量小于或等于在所述基础层中包含的碳原子之间的SP2共价键的含量。

    用于光掩模的表膜及其制造方法

    公开(公告)号:CN110609435B

    公开(公告)日:2024-10-11

    申请号:CN201910504878.1

    申请日:2019-06-12

    Inventor: 金文子 丁昶荣

    Abstract: 公开用于光掩模的表膜及其制造方法。所述用于光掩模的表膜包括表膜膜片。所述表膜膜片包括具有第一表面和与所述第一表面相反的第二表面的基础层、和覆盖所述基础层的所述第一表面的第一恢复层。在所述第一恢复层中包含的碳原子之间的SP2共价键的含量小于或等于在所述基础层中包含的碳原子之间的SP2共价键的含量。

    用于暴露到极紫外光的护膜以及光刻系统

    公开(公告)号:CN108663898B

    公开(公告)日:2022-07-26

    申请号:CN201810264409.2

    申请日:2018-03-28

    Abstract: 根据示例性实施例,提供一种用于暴露到极紫外光(extreme ultraviolet light,EUVL)的护膜以及一种光刻系统,所述护膜包括护膜膜片以及贴合到所述护膜膜片的框架,其中所述护膜膜片包括碳系主层以及硼系增强层,所述碳系主层具有彼此相对的第一表面与第二表面,所述硼系增强层覆盖选自所述第一表面与所述第二表面中的至少一个表面。根据示例性实施例的护膜可在极紫外光曝光环境中使用较长的时间段。

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