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公开(公告)号：CN116230032A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202211551740.5
申请日：2022-12-05
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C5/14
Abstract: 一种存储设备，包括：控制器，被配置为通过接口连接到外部主机；多个存储器件，被配置为存储数据；以及电力管理设备，被配置为使用通过接口接收的外部电源电压输出用于多个存储器件的操作的内部电源电压，并且具有用于当控制器无法识别多个存储器件中的至少一个存储器件时从控制器接收标志信号的标志信号焊盘，其中，当接收到标志信号时，电力管理设备改变内部电源电压的斜率，并且向多个存储器件提供具有改变的斜率的内部电源电压。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117636979A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311058578.8
申请日：2023-08-22
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供操作存储器装置的方法、半导体装置和数据恢复方法。操作存储器装置的方法包括：利用读取电压从第一存储器块读取其中包含至少一个磨损存储器单元的存储器单元的第一页；以及利用读取电压读取在第一存储器块中邻近于第一页延伸的存储器单元的第二页。执行操作以确定第一页中的包括“0”比特的列的位置与第二页中的包括“0”比特的列的位置之间的匹配率。此后，当匹配率超过阈值匹配率时，通过调整施加至第一存储器块中的另一页的字线的读取通过电压来读取第二页。
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公开(公告)号：CN114664364A
公开(公告)日：2022-06-24
申请号：CN202111200412.6
申请日：2021-10-14
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 一种存储设备包括多个非易失性存储器件、存储控制器电路和泄露检测电路。所述存储控制器电路控制多个非易失性存储器件，所述存储控制器电路包括多个连接端子，所述多个连接端子中的每一个经由多个连接节点中的对应的连接节点与包括在所述多个非易失性存储器件中的多个引脚中的对应的引脚集共同连接。包括在每个引脚集中的引脚具有相同的属性。所述泄露检测电路被配置为基于由连接到每个引脚集的连接节点生成的合并信号确定在每个引脚集处是否出现泄露，并且被配置为向所述存储控制器电路提供对确定结果加以指示的检测信号。
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公开(公告)号：CN120032701A
公开(公告)日：2025-05-23
申请号：CN202411634949.7
申请日：2024-11-15
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C29/52 , G11C29/42 , G11C11/4097 , G11C11/4096 , G11C11/408
Abstract: 提供非易失性存储器装置及其操作方法、以及包括非易失性存储器装置和存储控制器的存储装置的操作方法。存储控制器的存储装置的操作方法包括：由存储控制器向非易失性存储器装置发送包括检错启用信息的设定特征命令；由存储控制器向非易失性存储器装置发送编程命令和写入数据；响应于编程命令，由非易失性存储器装置在将写入数据编程到存储器单元之前对页缓冲器电路的写入数据执行检错操作；当在写入数据中检测到错误时，由非易失性存储器装置将写入数据作为错误数据发送到存储控制器；以及当在写入数据中未检测到错误时，由非易失性存储器装置将写入数据编程到存储器单元。
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公开(公告)号：CN110018972B
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN201811566898.3
申请日：2018-12-19
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了一种操作存储装置的方法和一种用于存储装置的系统。操作连接到主机的存储装置的方法包括：进入认证模式；以及响应于进入所述认证模式而执行认证操作。执行所述认证操作包括：从所述主机接收读取命令和第一随机认证地址；基于所述第一随机认证地址的至少一部分来执行认证过程；以及响应于执行所述认证过程而生成结果数据。
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公开(公告)号：CN110018972A
公开(公告)日：2019-07-16
申请号：CN201811566898.3
申请日：2018-12-19
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了一种操作存储装置的方法和一种用于存储装置的系统。操作连接到主机的存储装置的方法包括：进入认证模式；以及响应于进入所述认证模式而执行认证操作。执行所述认证操作包括：从所述主机接收读取命令和第一随机认证地址；基于所述第一随机认证地址的至少一部分来执行认证过程；以及响应于执行所述认证过程而生成结果数据。
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