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公开(公告)号：CN115963572B
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202111670901.8
申请日：2021-12-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/22 , G01N23/04 , G01N23/046 , B65G47/82
Abstract: 本公开涉及检测设备技术领域，更具体地，涉及一种姿态调整结构、传输装置、辐射成像系统。一种姿态调整结构包括：基体，沿X向延伸布置，基体具有承载面，承载面上适于放置被测物；第一调整组件，设置在基体上，用以驱动被测物在承载面上发生绕Y向的偏移以及用以驱动被测物沿X向的移动；至少一第二调整组件，设置在基体上，用以驱动被测物发生绕Z向的转动。本公开中的姿态调整结构对薄膜或者胶层检测时，通过对被测物的偏移调整，可保证光机产生光束的主束面与被测物的被测层面保持平行，保证检测的准确性。
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公开(公告)号：CN115144919B
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN202110344190.9
申请日：2021-03-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 提供一种射线检查设备和车载安检系统。射线检查设备包括：支撑框架，所述支撑框架内形成适用于检查目标的检查空间；传输机构，所述传输机构包括外部传输机构和设置在所述支撑框架中的内部传输机构；射线收发装置，安装在所述支撑框架上，以对所述检查空间内的目标进行扫描检查；以及第一驱动机构，所述第一驱动机构被构造成驱动所述外部传输机构靠近所述支撑框架的闲置状态和将远离所述支撑框架的工作状态之间转动。适用于放置目标的外部传输机构不会占据车辆的箱体的内部空间，从而允许射线检查设备的检查空间具有足够的长度。
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公开(公告)号：CN114518606B
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202011305516.9
申请日：2020-11-19
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 提供一种射线检查设备，包括：多个检查通道、扫描装置、驱动装置和控制器。多个检查通道并排布置，每个检查通道适用于承载被检查的目标。扫描装置包括：安装在所述多个检查通道的外部的辐射源；以及安装在所述多个检查通道的外部、并适用于接收从所述辐射源发射的辐射束的接收装置。驱动装置适用于驱动所述辐射源和接收装置移动到每个所述检查通道的附近。控制器适用于控制移动到所述多个检查通道中的一个检查通道的附近的扫描装置对所述一个检查通道内的目标进行扫描检查。多个检查通道可以共用一个扫描装置，可以对每个检查通道中的被检查目标进行独立扫描检查。
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公开(公告)号：CN115144918B
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN202110344188.1
申请日：2021-03-30
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/22
Abstract: 提供一种射线检查设备、以及检查目标的方法。射线检查设备包括：支撑框架，所述支撑框架内形成适用于检查目标的检查空间，所述检查空间具有与外部连通的第一开口；传输机构，适用于承载所述目标穿过所述检查空间移动；屏蔽门帘，安装在所述第一开口处；以及驱动机构，安装在所述支撑框架上，并被构造成驱动所述屏蔽门帘整体移动，以打开或者关闭所述开口。由于驱动机构可以驱动屏蔽门帘的升降，可以确保重量较轻的目标能够顺利进入到检查空间中以进行后续的射线扫描检查。
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公开(公告)号：CN107807404B
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN201711006506.3
申请日：2017-10-25
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V8/20
Abstract: 本发明涉及一种探测装置以及扫描成像设备。探测装置包括：环形底座以及设置于环形底座内侧的多个探测器，多个探测器沿环形底座的周向分布；其中，环形底座具有沿自身轴向间隔设置的第一环部以及第二环部，第一环部和第二环部均朝向环形底座的轴线延伸；每个探测器通过周向定位部件与第一环部连接定位，周向定位部件能够限制对应的探测器沿环形底座的周向移动，每个探测器通过连接部件与第二环部连接固定。本发明的探测装置中包括的探测器能够自定位至环形底座，不需要外部工具辅助定位，从而能够使得探测器与环形底座组装过程操作简单快捷，省时省力。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117192630A
公开(公告)日：2023-12-08
申请号：CN202311381878.X
申请日：2020-11-19
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 一种射线检查设备，包括：固定框架、多个检查通道、扫描装置和控制器。固定框架具有大致的圆环形。多个检查通道在固定框架的内部沿周向方向布置，每个检查通道适用于承载被检查的目标。扫描装置包括：辐射源2，安装在固定框架的中心，所述辐射源产生的辐射束能够辐射到每个检查通道；以及接收装置，以在所述周向方向上延伸的方式安装在固定框架上，并适用于接收穿过每个所述检查通道的所述辐射束。控制器适用于控制所述扫描装置对依次对每个检查通道内的目标进行扫描检查。每个检查通道包括：第一传感器，适用于检测检查通道中是否存在所述目标，控制器控制扫描装置仅在第一传感器检测到检查通道中具有目标时才对目标进行扫描检查。
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公开(公告)号：CN116773565A
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN202310693558.1
申请日：2023-06-12
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/046 , G01N23/18 , G01B15/00
Abstract: 本发明公开了一种检测装置及用于电芯检测的检测方法，所述检测装置包括：支撑机构、旋转机构、传送机构、转动机构以及检测机构。旋转机构设置于支撑机构，旋转机构包括：旋转支架和旋转盘，旋转支架设置于支撑机构，旋转盘可相对于旋转支架进行周向转动；传送机构穿过旋转盘，且传送机构适于传送电芯；转动机构设于支撑机构与旋转机构之间，旋转机构可在转动机构的支撑下与支撑机构发生相对转动；检测机构设置于旋转盘，检测机构包括：射线源和探测器，射线源与探测器适于对传送机构上的电芯进行检测，且射线源与探测器适于在旋转盘上进行周向旋转。由此，检测装置可在降低电芯摆放需求的同时，提高检测质量以及检测效率。
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公开(公告)号：CN116763329A
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN202211698118.7
申请日：2022-12-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: A61B6/03 , A61B6/00 , G01N23/046
Abstract: 本发明公开了一种CT成像系统及CT检测装置，CT成像系统包括：连接平板、强支架、弱支架、发射器、探测器、电器件和屏蔽盒。其中，连接平板为环形且具有旋转轴线，强支架连接在连接平板的一侧，强支架包括沿连接平板的周向间隔分布的第一强支架和第二强支架，弱支架与强支架连接在连接平板的同一侧，发射器连接在第一强支架上，探测器连接在第二强支架上，电器件连接在弱支架上，屏蔽盒连接在至少一个弱支架上。本申请的CT成像系统能够实现整体的轻量化。
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公开(公告)号：CN115963572A
公开(公告)日：2023-04-14
申请号：CN202111670901.8
申请日：2021-12-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00 , G01N23/04 , G01N23/046 , B65G47/82
Abstract: 本公开涉及检测设备技术领域，更具体地，涉及一种姿态调整结构、传输装置、辐射成像系统。一种姿态调整结构包括：基体，沿X向延伸布置，基体具有承载面，承载面上适于放置被测物；第一调整组件，设置在基体上，用以驱动被测物在承载面上发生绕Y向的偏移以及用以驱动被测物沿X向的移动；至少一第二调整组件，设置在基体上，用以驱动被测物发生绕Z向的转动。本公开中的姿态调整结构对薄膜或者胶层检测时，通过对被测物的偏移调整，可保证光机产生光束的主束面与被测物的被测层面保持平行，保证检测的准确性。
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公开(公告)号：CN115963124A
公开(公告)日：2023-04-14
申请号：CN202111173186.7
申请日：2021-10-08
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/046
Abstract: 本申请公开了一种CT成像系统，包括：沿第一方向布置的扫描通道；设置在扫描通道一侧的射线源组件，射线源组件用于发出射线束；设置在扫描通道另一侧的探测器组件，探测器组件与射线源组件相对设置，用于接收射线束，射线束在射线源组件与探测器组件之间形成成像区域，其中，探测器组件包括至少两个探测区域以及一个空白区域，成像区域具有延伸通过射线源组件的主束面，探测区域的位置与空白区域的位置相对于主束面互补。本申请的CT成像系统，借助旋转扫描依靠数据对称性，可通过算法补偿得到缺失的数据，得到完整的投影数据，用于待测物体的图像信息复原。
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