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公开(公告)号：CN113074917A
公开(公告)日：2021-07-06
申请号：CN202110355599.0
申请日：2021-04-01
Applicant: 南京信息工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种基于Bessel光束离焦扫描的微纳结构特征参数测量方法及装置，装置包括上位机、控制器、电源模块、测量模块、电动聚焦平移台、电动扫描平移台和待测样品；电动聚焦平移台带动测量模块连续移动，改变其与待测样品表面的距离，使得聚焦光点成像的状态从离焦至聚焦至离焦连续发生变化，移动中拍摄待测样品表面图像；电动扫描平移台用于改变待测样品表面的测量区域；所述测量模块通过Bessel光束实现待测样品表面成像；上位机包括不同微纳结构特征参数所对应的三维图像栈分布数据库，通过分析待测样品表面图像形成图像栈，与数据库进行对比确定微纳结构特征参数。本发明为非接触测量，不会损伤表面且成本较低，效果更优。
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公开(公告)号：CN113010841A
公开(公告)日：2021-06-22
申请号：CN202110178735.3
申请日：2021-02-08
Applicant: 南京信息工程大学
Abstract: 本发明公开了基于数值化正交变换的任意孔径光学元件面形重构方法，包括：获得任意孔径被测光学元件的面形数据以及各个面形数据点的位置；选用相应孔径形状的正交基函数，对正交基函数进行数值化正交变换；将变换后得到的正交多项式展开式表示为矩阵形式，数值化变换矩阵为M；引入中间矩阵Q；计算数值化变换矩阵M和数值化正交多项式数据矩阵F；将基函数线性组合形式表示为矩阵形式W＝Fa，根据模式化法计算面形数据矩阵W，计算面形系数矩阵a；由面形系数矩阵a对被测光学元件面形进行分析。本发明能够用于任意孔径形状且适应离散数据点的光学元件面形检测与分析，具有通用性和一般性。
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公开(公告)号：CN112882214A
公开(公告)日：2021-06-01
申请号：CN202110084547.4
申请日：2021-01-21
Applicant: 南京信息工程大学
IPC: G02B15/173 , G02B15/14
Abstract: 本发明是一种可见光连续变焦望远光学系统，包括沿着光线传播方向从物空间到像空间顺次设置前固定透镜组份、变倍透镜组份、补偿透镜组份和后固定透镜组份，孔径光阑位于补偿透镜组份和后固定透镜组份之间；前固定透镜组份具有正光焦度，变倍透镜组份具有负光焦度，补偿透镜组份具有正光焦度，后固定透镜组份具有正光焦度；变倍透镜组份和补偿透镜组份通过沿着光轴同步相向或相对移动用于实现望远光学系统短焦到长焦或从长焦到短焦变化；望远光学系统的F数为固定值。该种望远光学系统具有较大的焦距变化范围，从短焦到长焦或从长焦到短焦变化过程中系统具有固定的F数，有益于在各个焦距下系统的分辨率具有一致性，保持系统成像性能稳定。
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公开(公告)号：CN112126897A
公开(公告)日：2020-12-25
申请号：CN202011070429.X
申请日：2020-10-09
Applicant: 南京信息工程大学
Abstract: 一种alpha相氧化镓薄膜的制备方法，包括如下步骤：对m面蓝宝石衬底进行清洗，吹干后放入衬底托盘；将衬底载入真空室，待真空室的真空度达到3×10‑6 Pa后，通入高纯氩气，气体流量控制在40 sccm，调节真空室真空度为1Pa；对高纯Ga2O3陶瓷靶材进行预处理；采用磁控溅射法在衬底上沉积薄膜，衬底温度为25摄氏度，射频功率设置为40W，沉积时间为2小时；将制备好的薄膜放入管式炉中进行后退火处理，后退火温度为500‑800摄氏度，退火时间为2小时。本发明方法制备的alpha相氧化镓薄膜沉积面积大且粒径分布均匀。
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公开(公告)号：CN111913291A
公开(公告)日：2020-11-10
申请号：CN202010771404.6
申请日：2020-08-04
Applicant: 南京信息工程大学
Abstract: 本发明公开了一种大相对孔径离轴两反自由曲面望远光学系统，包括入射光瞳、观察反射镜、会聚反射镜和探测器，采用折转光路的形式，光线经过外置的入射光瞳后依次经过观察反射镜和会聚反射镜，到达探测器像面。本发明采用孔径离轴的方式，提高系统集光能量；利用分视场拓展优化，提升各个视场的成像性能；结合XY多项式自由曲面的多优化自由度，且仅用了前四阶项，有效地平衡了系统的离轴像差，兼容了物理结构紧凑、大相对孔径、宽视场与高成像性能的光学特点，能够满足机载或空间望远光学系统等特定应用的系统小型化与成像性能优良相融合的要求。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111061047A
公开(公告)日：2020-04-24
申请号：CN202010102169.3
申请日：2020-02-19
Applicant: 南京信息工程大学
Abstract: 本发明公开了一种大相对孔径长焦距日盲紫外镜头及光学系统，大相对孔径长焦距日盲紫外镜头包括由物方到像方依次排列的第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜、第五透镜、第六透镜、第七透镜和第八透镜，其光学系统还包括位于第四、第五透镜之间的孔径光阑及第八透镜后侧的紫外探测像面，其中，第一、第七透镜均为负光焦度凸凹透镜，第二、第四和第六透镜均为正光焦度双凸透镜，第三透镜为负光焦度平凹透镜，第五透镜为负光焦度双凹透镜，第八透镜为正光焦度凸凹透镜。本发明的大相对孔径长焦距日盲紫外光学系统具有快焦比、长焦距、高分辨率、高精度探测等优点，适用于日盲紫外光谱区的紫外告警、电晕检测和森林防火等方面的光电探测系统应用。
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公开(公告)号：CN109764817A
公开(公告)日：2019-05-17
申请号：CN201910031967.9
申请日：2019-01-14
Applicant: 南京信息工程大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明提供一种非接触式透镜中心厚测量系统，包括：探头、上位机、样件夹持装置、Z轴电动平移台模块、电子控制模块及探头支撑结构。本发明还提供一种非接触式透镜中心厚测量方法，Z轴电动平移台模块带动待测透镜移动，每移动一定距离拍摄物点阵列的反射图像，上位机实时计算物点图像的尺寸，记录每个物点对应的共轭平面位置信息并拟合获得透镜表面中心处的面形，进一步计算两个表面顶点的距离获得透镜中心厚。具有非接触的优点，避免了测量对透镜表面质量的影响，同时克服了透镜安装倾斜的影响，提高了测量效率。
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公开(公告)号：CN105789021A
公开(公告)日：2016-07-20
申请号：CN201610080850.6
申请日：2016-02-05
Applicant: 南京信息工程大学
CPC classification number: H01J49/06 , H01J49/067 , H01J49/34
Abstract: 本发明公开了一种双极光电子光离子成像仪的离子透镜装置，其特征在于，包括：激光作用区、第一类极板区、第二类极板区、电子端自由飞行管、离子端自由飞行管，第一类极板区、第二类极板区并排设置，激光作用区位于第一类极板区的一侧和第二类极板区的一侧之间；电子端自由飞行管一侧与第一类极板区的另一侧相接，电子端自由飞行管另一侧设置有电子端MCP&PS成像探测器；离子端自由飞行管一侧与第二类极板区的另一侧相接，离子端自由飞行管另一侧设置有离子端MCP&PS成像探测器。本发明设计了一种双极光电子光离子成像仪的离子透镜装置，可以同时实现对光与物质作用产生的电子和离子进行成像，操作非常方便。
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公开(公告)号：CN211786339U
公开(公告)日：2020-10-27
申请号：CN202020703923.4
申请日：2020-04-30
Applicant: 南京信息工程大学
Abstract: 本实用新型涉及一种大口径长焦距紫外光学系统，包括自前至后依次设置的第一透镜组、第二透镜组、第三透镜组、光阑、第四透镜组、紫外滤光片和紫外探测像面；所述第一透镜组包括自前至后依次设置的正光焦度平凸透镜和第一正光焦度凸凹透镜；所述第二透镜组包括自前至后依次设置的第一正光焦度凹凸透镜、第二正光焦度凹凸透镜和负光焦度双凹透镜；所述第三透镜组包括自前至后依次设置的正光焦度双凸透镜和第一负光焦度凸凹透镜；所述第四透镜组包括自前至后依次设置的第二正光焦度凸凹透镜和第二负光焦度凸凹透镜。该光学系统具有高通量和高精度探测优势。
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