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公开(公告)号：CN101087989A
公开(公告)日：2007-12-12
申请号：CN200580039773.X
申请日：2005-10-17
Applicant: 摩根研究股份有限公司
IPC: G01B9/02
CPC classification number: G01B11/18 , G01B11/161 , G01B11/168 , G01J3/453 , G01J4/00 , G01M11/085
Abstract: 本发明提供了通过快速且简单的测量来确定经历可能导致降低结构寿命、强度或可靠性的损害的结构上的位置的能力。传感元件是偏振维持(“PM”)光纤的连接部分，其中PM光纤的长度表示完全分布的传感器阵列。应力引起的传感器的变化通过白光偏振干涉测量法来测量。测量的输出是表示沿传感器的长度的位置的阵列处的应力集中大小的数组。在一种应用中，已知结构上的光纤位置加上沿光纤长度的应力位置的测量允许用户确定结构上具有大的应力集中的位置。这些位置可表示结构损坏。该知识允许用户采用更加复杂的系统，尽管较大且较慢，以充分地表征和评价可能的损坏区域并采取适当的行动。
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公开(公告)号：CN1155797C
公开(公告)日：2004-06-30
申请号：CN98807726.4
申请日：1998-08-06
Applicant: 罗伯特·博施有限公司
IPC: G01B11/06
CPC classification number: G01B11/065 , G01J4/00
Abstract: 本发明涉及一种用于测定一个基底上覆盖层厚度的椭圆计-测量装置。具有一个发出入射光(9)的光源(3)，一个将偏振化的入射光(9)导至基底的照射点(P)处的发射镜组，以及一个接受镜组，后者将基底的照射点(P)处形成的反射光(10)导至一个光接受装置(5.7)、具有一个检偏振器(5.4)，其中，入射光(9)与检偏振器(5.4)的偏振方向随时间相互相对改变，由此产生的强度变化被借助一个数据处理装置(7)用来确定覆盖层厚度。简便的操作和覆盖层厚度的准确测量，即使在难于接近并且曲率不同的被测物体上也能实现。这是由于设置了一个角度测量装置(5.7，7.1)，通过它可获得反射光束(10)相对于基底上照射点(P)处切平面的角度(β)，而覆盖层厚度能够借助于数据处理装置(7)根据测得的角度(β)来确定出。
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公开(公告)号：CN1105297C
公开(公告)日：2003-04-09
申请号：CN97191384.6
申请日：1997-08-15
Applicant: K·C·刘
IPC: G01J4/00
Abstract: 一个六轴激光测量系统(300)，包括一个新颖的5-D测量装置和精密的激光滚动探测器系统(100)，5-D系统具有一个激光头(102)和探测器座(302)对纵倾，横摆、x、y、z位移进行测量，激光滚动探测器(100)利用偏振棱镜(104)，例如Glan-Thompson棱镜，以及至少二个光探测器(D1，D2，D3，D4)，一束线性偏振激光束进入棱镜(104)，光束被分成二束偏振分量，其强度随着探测器(104)相对偏振光束的滚动取向而改变，将二个探测器(D1，D2)的输出分别连接至提供滚动输出的高增益差分放大器(108)的正和负输入端。
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公开(公告)号：CN109374132A
公开(公告)日：2019-02-22
申请号：CN201811104499.5
申请日：2018-09-21
Applicant: 南京奥谱依电子科技有限公司
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/0224 , G01J4/00
Abstract: 本发明公开了一种可调节偏振和光谱的成像探测芯片，包括从上到下平行设置、且透光面积完全相同的电调偏振模块、电调光谱模块、以及光敏阵列，电调偏振模块包括从上到下平行设置的电调偏振图案电极引线层、第一基片、电调偏振图案电极、第一液晶定向层、第一液晶层、第二基片、以及光学介质层，电调光谱模块包括从上到下平行设置的第三基片、第一电调光谱电极、第二液晶定向层、第二液晶层、第三液晶定向层、第二电调光谱电极、以及第四基片。本发明能解决现有偏振成像探测技术存在的应用范围有限、能量利用率低、探测性能会被光栅影响的技术问题，以及现有谱光成像探测技术存在的无法实现谱偏振光探测的技术问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105209868B
公开(公告)日：2018-07-13
申请号：CN201480016422.6
申请日：2014-01-16
Applicant: 莱顿大学
Inventor： 克里斯托夫-乌利齐·凯勒 , 法兰斯·斯尼克
CPC classification number: G01J3/0224 , G01J1/0425 , G01J1/4228 , G01J3/0218 , G01J3/14 , G01J4/00 , G01J4/04 , G02F1/0136
Abstract: 一种偏振测量装置，其包括多条柔性光导管和各偏振调制器，每条所述光导管具有第一和第二端，所述偏振调制器与每条光导管相关联，其中每条光导管被配置成经由所述第一端接收来自空间中的不同预定区域的入射光，并且使所述光经由该第二端传输至检测器，其中所述偏振调制器被配置成调制光的偏振，以使得入射光的部分或完全偏振状态能够由针对每条光导管的检测器单元来确定。
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公开(公告)号：CN105637345B
公开(公告)日：2018-06-12
申请号：CN201480036523.X
申请日：2014-05-20
Applicant: 海因兹仪器公司
CPC classification number: G01N21/23 , G01J4/00 , G01N21/21 , G01N2201/0621 , G01N2201/0683
Abstract: 本公开通常针对于用于将光学材料样品的偏振性质成像的系统。作为一个方面，提供用于在宽范围的入射角上进行样品材料的面内与面外双折射性质两者的精确、同时成像的系统。除作为优选实施例而论述的面内和面外双折射测量之外，此处所述的空间分辨成像方法适用于宽范围的偏振性质的确定。
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公开(公告)号：CN105492889B
公开(公告)日：2018-06-08
申请号：CN201480047682.X
申请日：2014-05-13
Applicant: 韩国标准科学研究院
IPC: G01N21/17
CPC classification number: G01N21/211 , G01J4/00 , G01J4/04 , G01J2004/001 , G01N2021/213 , G01N2201/0683 , G01N2201/11
Abstract: 提供一种光学元件旋转类型的穆勒矩阵椭圆偏振仪，其用于解决由于在根据现有技术的能够测量任何样品的穆勒矩阵的一些或所有元素的双光学元件旋转类型的穆勒矩阵椭圆偏振仪中光源的剩余偏振、光检测器的偏振依赖性、高次项的傅立叶系数的测量值而引起的测量准确性和测量精度的问题。
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公开(公告)号：CN107884876A
公开(公告)日：2018-04-06
申请号：CN201711411832.2
申请日：2017-12-23
Applicant: 长安大学
Abstract: 本发明公开了一种基于波导光栅耦合器的光偏振态检测芯片，包括具有光栅区域以及四个输出端口的波导光栅耦合器，波导光栅耦合器的四个输出端口划分为相互垂直的两组，两组输出端口分别通过第一单模波导连接同一个多模干涉耦合器，并分别通过第二单模波导连接两个第一光电探测器；所述的第一单模波导、第二单模波导与波导光栅耦合器的输出端口之间均通过模式转换器连接；所述的多模干涉耦合器通过两个第三单模波导连接两个第二光电探测器。本发明所涉及的器件基于光波导器件，能够集成在同一衬底上，具有较高的集成度，能够在光通信、片上/片间光互连领域得到应用。
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公开(公告)号：CN105899920B
公开(公告)日：2017-10-31
申请号：CN201580004000.1
申请日：2015-01-20
Applicant: J.A.伍兰牡股份有限公司
IPC: G01J4/00
CPC classification number: G02B17/0621 , G01J1/0411 , G01J1/0414 , G01J4/00 , G01J4/04 , G01N21/21 , G02B19/0023 , G02B19/0076 , G02B27/0012 , G02B27/286
Abstract: 一种反射型光学器件系统(RFO)，优选地需要具有射束反射表面的凸面(M3)和凹面(M4)反射镜的存在，其应用实现了将电磁辐射的射束聚焦到样本(OB)上，(其可以沿着与入射射束(IB)的轨迹不同的轨迹)，基于来自于所涉及的各个反射镜(M1)(M2)(M3)(M4)的经调整的入射角和反射角，偏振状态对输入射束的偏振状态具有最小化的影响。
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