公开(公告)号：CN101087989A

公开(公告)日：2007-12-12

申请号：CN200580039773.X

申请日：2005-10-17

Applicant: 摩根研究股份有限公司

Inventor： J·L·威廉姆斯 ,  M·S·克兰茨 ,  L·C·海顿

IPC: G01B9/02

CPC classification number: G01B11/18 ,  G01B11/161 ,  G01B11/168 ,  G01J3/453 ,  G01J4/00 ,  G01M11/085

Abstract: 本发明提供了通过快速且简单的测量来确定经历可能导致降低结构寿命、强度或可靠性的损害的结构上的位置的能力。传感元件是偏振维持(“PM”)光纤的连接部分，其中PM光纤的长度表示完全分布的传感器阵列。应力引起的传感器的变化通过白光偏振干涉测量法来测量。测量的输出是表示沿传感器的长度的位置的阵列处的应力集中大小的数组。在一种应用中，已知结构上的光纤位置加上沿光纤长度的应力位置的测量允许用户确定结构上具有大的应力集中的位置。这些位置可表示结构损坏。该知识允许用户采用更加复杂的系统，尽管较大且较慢，以充分地表征和评价可能的损坏区域并采取适当的行动。

公开(公告)号：CN101087989B

公开(公告)日：2011-06-08

申请号：CN200580039773.X

申请日：2005-10-17

Applicant: 摩根研究股份有限公司

Inventor： J·L·威廉姆斯 ,  M·S·克兰茨 ,  L·C·海顿

IPC: G01B9/02

CPC classification number: G01B11/18 ,  G01B11/161 ,  G01B11/168 ,  G01J3/453 ,  G01J4/00 ,  G01M11/085

Abstract: 本发明提供了通过快速且简单的测量来确定经历可能导致降低结构寿命、强度或可靠性的损害的结构上的位置的能力。传感元件是偏振维持(“PM”)光纤的连接部分，其中PM光纤的长度表示完全分布的传感器阵列。应力引起的传感器的变化通过白光偏振干涉测量法来测量。测量的输出是表示沿传感器的长度的位置的阵列处的应力集中大小的数组。在一种应用中，已知结构上的光纤位置加上沿光纤长度的应力位置的测量允许用户确定结构上具有大的应力集中的位置。这些位置可表示结构损坏。该知识允许用户采用更加复杂的系统，尽管较大且较慢，以充分地表征和评价可能的损坏区域并采取适当的行动。