-
-
-
公开(公告)号：CN1571918A
公开(公告)日：2005-01-26
申请号：CN02820533.2
申请日：2002-10-16
Applicant: 海因兹仪器公司
Inventor： 王宝良
IPC: G01J4/00
Abstract: 提供采用Soleil－Babinet补偿器(101)作为校准双折射测量系统的标准的系统和方法。通过这里描述的方法可以实现高精度和可重复的校准，因为除了其它优点外，该具有创造性的方法可以计算Soleil－Babinet补偿器(101)整个表面的不同双折射。这里描述的校准技术可以用于具有测量双折射水平范围的各种光学装置和各种频率的光源的双折射测量系统中。
-
公开(公告)号：CN101449134A
公开(公告)日：2009-06-03
申请号：CN200780015862.X
申请日：2007-05-01
Applicant: 海因兹仪器公司
Inventor： 王宝良
IPC: G01J4/00
CPC classification number: G01N21/19 , G01M11/0285
Abstract: 一种用于测量光学元件中的线性或圆形双衰减的系统，包括：样品旋转台，用于固定光学元件样品；光源模块，用于产生光源光束；和检测器模块。光源模块和检测器模块布置成样品旋转台在它们之间，从而允许光源光束传播通过可以固定在样品台中的样品并到达检测器模块。提供光源模块和检测器模块的直线运动控制以及光源模块、样品旋转台和检测器模块的倾斜控制，从而有助于由检测器模块检测与固定在样品台中的光学样品的双衰减特性相对应的调制后的光强信息。
-
公开(公告)号：CN101449134B
公开(公告)日：2011-08-03
申请号：CN200780015862.X
申请日：2007-05-01
Applicant: 海因兹仪器公司
Inventor： 王宝良
IPC: G01J4/00
CPC classification number: G01N21/19 , G01M11/0285
Abstract: 一种用于测量光学元件中的线性或圆形双衰减的系统，包括：样品旋转台，用于固定光学元件样品；光源模块，用于产生光源光束；和检测器模块。光源模块和检测器模块布置成样品旋转台在它们之间，从而允许光源光束传播通过可以固定在样品台中的样品并到达检测器模块。提供光源模块和检测器模块的直线运动控制以及光源模块、样品旋转台和检测器模块的倾斜控制，从而有助于由检测器模块检测与固定在样品台中的光学样品的双衰减特性相对应的调制后的光强信息。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101076714A
公开(公告)日：2007-11-21
申请号：CN200580036436.5
申请日：2005-10-24
Applicant: 海因兹仪器公司
Inventor： 王宝良
IPC: G01J4/00
CPC classification number: G01N21/23
Abstract: 提供用于确定诸如聚合物薄膜的光学材料的双折射等级的方法。在一个实施例中，该方法利用具有已知的系统参考角度的光学组件的装置。样品(136)可以是快轴角度在样品(136)中具有预定定向的拉伸的聚合物薄膜。系统(120)被操作以将样品(136)的快轴方向对准该系统的参考角度，并且在样品(136)的一个位置处测量双折射等级。作为本发明的一个方面，描述了用于在非常宽的范围且高达数万纳米上精确地确定双折射等级的实施例和方法。
-
公开(公告)号：CN105637345A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201480036523.X
申请日：2014-05-20
Applicant: 海因兹仪器公司
CPC classification number: G01N21/23 , G01J4/00 , G01N21/21 , G01N2201/0621 , G01N2201/0683
Abstract: 本公开通常针对于用于将光学材料样品的偏振性质成像的系统。作为一个方面，提供用于在宽范围的入射角上进行样品材料的面内与面外双折射性质两者的精确、同时成像的系统。除作为优选实施例而论述的面内和面外双折射测量之外，此处所述的空间分辨成像方法适用于宽范围的偏振性质的确定。
-
公开(公告)号：CN101076714B
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN200580036436.5
申请日：2005-10-24
Applicant: 海因兹仪器公司
Inventor： 王宝良
IPC: G01J4/00
CPC classification number: G01N21/23
Abstract: 提供用于确定诸如聚合物薄膜的光学材料的双折射等级的方法。在一个实施例中，该方法利用具有已知的系统参考角度的光学组件的装置。样品(136)可以是快轴角度在样品(136)中具有预定定向的拉伸的聚合物薄膜。系统(120)被操作以将样品(136)的快轴方向对准该系统的参考角度，并且在样品(136)的一个位置处测量双折射等级。作为本发明的一个方面，描述了用于在非常宽的范围且高达数万纳米上精确地确定双折射等级的实施例和方法。
-
公开(公告)号：CN105637345B
公开(公告)日：2018-06-12
申请号：CN201480036523.X
申请日：2014-05-20
Applicant: 海因兹仪器公司
CPC classification number: G01N21/23 , G01J4/00 , G01N21/21 , G01N2201/0621 , G01N2201/0683
Abstract: 本公开通常针对于用于将光学材料样品的偏振性质成像的系统。作为一个方面，提供用于在宽范围的入射角上进行样品材料的面内与面外双折射性质两者的精确、同时成像的系统。除作为优选实施例而论述的面内和面外双折射测量之外，此处所述的空间分辨成像方法适用于宽范围的偏振性质的确定。
-
公开(公告)号：CN102099661B
公开(公告)日：2013-06-19
申请号：CN200980126831.0
申请日：2009-07-02
Applicant: 海因兹仪器公司
Inventor： 王宝良
IPC: G01J4/00
CPC classification number: G01N21/23 , G02F1/0131
Abstract: 提高用于测量光学样本的双折射的系统的通量包括用于引导多个光束通过该系统的光弹性调制器构件的技术，以便连同被扩展以适合多个光束的检测机构一起地，横跨样本的、迄今的行扫描(经由单一光束)被显著地放大，从而覆盖样本区域的“条带”的几行被本发明的系统所扫描。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
12
records
(took 0.021 seconds)
