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公开(公告)号：CN101295402B
公开(公告)日：2012-12-12
申请号：CN200810093557.9
申请日：2008-04-24
Applicant: 佳能株式会社
IPC: G06T7/00
CPC classification number: G06K9/209 , G06K9/3216 , G06K2009/3225 , G06T7/80 , G06T2207/30208
Abstract: 本发明提供一种信息处理设备和信息处理方法。标志检测单元(110)从拍摄图像中检测标志的图像坐标。标志配置信息更新单元(160)使用标志的图像坐标和这些标志各自的配置信息来计算摄像设备的位置和方位。此外，标志配置信息更新单元(160)对具有表示配置信息不可靠的可靠度的不可靠标志的配置信息进行再校准。标志配置信息更新单元(160)将由标志配置信息保持单元(140)与不可靠标志相关联地保持的配置信息更新为再校准后的配置信息和表示配置信息可靠的可靠度。
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公开(公告)号：CN102573650A
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN201080047989.1
申请日：2010-10-18
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G06T7/0032 , G06T7/344 , G06T2207/10072 , G06T2207/10132 , G06T2207/30068
Abstract: 一种用于使原图像变形的信息处理装置包括：被配置为通过使由原图像的变形导致的特征区域的移动与变形相关联来获得变形规则的获得单元；和被配置为使用关于对象图像的特征区域和原图像的对应区域的位置信息作为约束条件来根据变形规则使原图像变形的变形单元。
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公开(公告)号：CN101266652B
公开(公告)日：2012-06-06
申请号：CN200810085544.7
申请日：2008-03-17
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G06T7/70 , G06T7/80 , G06T2207/30244
Abstract: 本发明涉及一种信息处理设备、信息处理方法和校准工具。当包括摄像装置(100)的校准工具(50)在摄像装置(200)的图像拍摄范围内移动时，提取由摄像装置(200)拍摄到的多个图像中的摄像装置(100)上的指标物(110)的图像坐标。提取由摄像装置(100)拍摄到的多个图像中的环境分配指标物(300)的图像坐标。信息处理设备(1000)基于所提取的指标物(110)和环境分配指标物(300)的图像坐标计算摄像装置(200)的照相机参数。
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公开(公告)号：CN102473206A
公开(公告)日：2012-05-23
申请号：CN201080034895.0
申请日：2010-07-23
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G06F19/321 , G06F19/00 , G16H15/00 , G16H50/20 , G16H50/30
Abstract: 一种医疗诊断支援装置包括：项目显示单元，其在显示器上显示多个项目，能够对于所述多个项目输入用于导出诊断支援信息的参数；暂时输入单元，其对于通过所述项目显示单元显示的所述多个项目输入多个不同的值作为暂时输入值；导出单元，其通过参照医疗信息导出多条诊断支援信息，每一条诊断支援信息与多个不同的暂时输入值的组合中的一个对应；以及提示单元，其在所述显示器上与所述多个项目的显示一起以列表的格式提示通过所述导出单元导出的所述多条诊断支援信息。
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公开(公告)号：CN101286234B
公开(公告)日：2012-05-09
申请号：CN200810089948.3
申请日：2008-04-11
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 佐藤清秀
CPC classification number: G01C11/02 , G01C21/16 , G01C25/00 , G06T7/80 , G06T2207/30208
Abstract: 本发明提供了一种信息处理设备和信息处理方法。方位测量值获取单元(145)获取由安装在摄像设备(120)上的方位传感器(110)所测得的方位测量值和由安装在现实物体(125)上的传感器(115)所测得的方位测量值。图像处理单元(135)获取配置在现实物体(125)上的标志在拍摄图像上的图像坐标。校准单元(160)使用两个方位测量值和图像坐标，来计算传感器(110)相对于摄像设备(120)的配置信息和传感器(115)相对于现实物体(125)的配置信息至少之一。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1847789B
公开(公告)日：2010-05-12
申请号：CN200610073877.9
申请日：2006-04-06
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G01C11/00 , G02B2027/0138 , G06T7/73 , G06T2207/30204 , G06T2207/30244
Abstract: 不执行迭代运算而获得其上安装了倾斜传感器的图像捕捉设备或目标的位置及姿态。一种位置及姿态测量方法，包括以下步骤：输入倾斜传感器的测量倾斜值，该倾斜传感器安装在目标和图像捕捉设备的至少一个上；输入来自图像捕捉设备的被捕捉图像；根据被捕捉图像检测目标上的标记；以及基于测量倾斜值、被检测出的标记的图像坐标和关于被检测出的标记的已知的位置信息，计算其上安装了倾斜传感器的目标和图像捕捉设备其中之一的位置及姿态，而不执行迭代运算。
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公开(公告)号：CN100489833C
公开(公告)日：2009-05-20
申请号：CN200410000530.2
申请日：2004-01-12
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G06F3/0325 , G01B11/002
Abstract: 提供一种位置姿势测量方法。求出第1标识的图像坐标和第1标识的推测图像坐标的第1误差坐标，该第1标识的图像坐标配置于现实空间中，在第1摄像单元所拍摄的第1图像上；该第1标识的推测图像坐标，根据具有按照以前计算出的位置姿势参数的位置姿势的第1摄像机构和第1标识的位置姿势关系，被推测为位于第1图像上。另一方面，求出第2标识的图像坐标和第2标识的推测图像坐标的第2误差坐标，该第2标识的图像坐标配置于第1摄像机构中，在包含第1摄像机构的第2图像上；该第2标识的推测图像坐标，根据具有按照上述位置姿势参数的位置姿势的第1摄像机构和第2标识的位置姿势关系，被推测为位于第2图像上。用第1、第2误差坐标来修正上述位置姿势参数。
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公开(公告)号：CN100430686C
公开(公告)日：2008-11-05
申请号：CN200510068068.4
申请日：2005-05-16
Applicant: 佳能株式会社
Abstract: 一种信息处理设备，用于获取提供在摄像装置上的要被校准的标记关于摄像装置的放置信息，包括：第一幅图像获取单元，获取用摄像装置拍摄的第一幅图像；第二幅图像获取单元，获取摄像装置从俯瞰视角位置拍摄的第二幅图像；第一个检测单元，从第一幅图像上检测关于置于场景中的参考标记的图像坐标信息；第二个检测单元，从第二幅图像上检测关于要被校准的标记的图像坐标信息；校准信息计算单元，使用关于第一个检测单元和第二个检测单元检测到的参考标记的图像坐标的信息获取校准信息。
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公开(公告)号：CN101286234A
公开(公告)日：2008-10-15
申请号：CN200810089948.3
申请日：2008-04-11
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 佐藤清秀
CPC classification number: G01C11/02 , G01C21/16 , G01C25/00 , G06T7/80 , G06T2207/30208
Abstract: 本发明提供了一种信息处理设备和信息处理方法。方位测量值获取单元(145)获取由安装在摄像设备(120)上的方位传感器(110)所测得的方位测量值和由安装在现实物体(125)上的传感器(115)所测得的方位测量值。图像处理单元(135)获取配置在现实物体(125)上的标志在拍摄图像上的图像坐标。校准单元(160)使用两个方位测量值和图像坐标，来计算传感器(110)相对于摄像设备(120)的配置信息和传感器(115)相对于现实物体(125)的配置信息至少之一。
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公开(公告)号：CN100417197C
公开(公告)日：2008-09-03
申请号：CN200410062666.6
申请日：2004-07-08
Applicant: 佳能株式会社
IPC: H04N5/232
CPC classification number: G06T7/73 , G06T7/80 , G06T2207/30244
Abstract: 本发明提供一种位置姿势测量方法及装置。输入表示摄像装置的姿势变化的信号(S302)，用过去求得的位置姿势预测当前时刻的位置姿势(S306)。另外，对从由摄像装置拍摄的现实空间的图像中检测出的标识，和在从所预测的位置姿势拍摄时包含在图像中的标识之间的对应关系进行识别(S308)。利用根据由被识别出的标识对的数量而确定的修正方法，对预测出的摄像机的位置姿势的全部自由度或者其中的一部分进行修正(S312、S313)；或者原样使用预测出的摄像机的位置姿势(S314)。据此，能够在摄像装置的位置姿势测量中，通过简便的结构而获得高精度的测量结果。
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