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公开(公告)号:CN113992871A
公开(公告)日:2022-01-28
申请号:CN202111277400.3
申请日:2021-10-29
Applicant: 西安微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于CMOS图像传感器芯片级ADC的双位移位校正系统,包括依次连接的SH电路、多级串联的编码器电路和flash ADC电路,SH电路用于电荷分享或者电容翻转结构实现,每级编码器电路输出4位数字码,含两位校正码;根据电容的电荷守恒原理,采用电荷分享采样技术,实现了双位移位校正功能,每级4bit输出,两位校正算法,级间闭环增益只有4倍,采用非交叠时钟控制,前级采样,后级放大输出,流水线工作,降低了级间闭环增益,降低了后级量化范围,提升了校正区间,对于ADC的整体性能提升具有显著效果。采用多级串联的编码器电路,可有效降低系统功耗、提升量化输入摆幅并极大提升SFDR等关键动态参数,具有很高的实用性。
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公开(公告)号:CN113873184A
公开(公告)日:2021-12-31
申请号:CN202111277411.1
申请日:2021-10-29
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: H04N5/374 , H04N5/3745 , H04N17/00
Abstract: 本发明公开了一种图像传感器芯片级ADC修调系统,包括修调控制模块和修调预写入模块,修调控制模块连接修调预写入模块,修调控制模块用于输出控制信号给修调预写入模块,修调预写入模块的修调输出连接到ADC模块的控制端,与ADC模块的各待修正模块连接,用于输出修调控制信号,针对系统修调预写入、电容失配修调、功耗修调和误差修调,可有效弥补工艺偏差失配、工艺角偏离等因素引起的性能参数下降和功耗超差、提升ADC的关键动态和静态参数,具有很高的实用性。
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公开(公告)号:CN112992863A
公开(公告)日:2021-06-18
申请号:CN202110222735.9
申请日:2021-02-26
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: H01L23/538 , H01L31/02 , H01L25/065 , H01L27/144
Abstract: 本发明提供了一种覆盖可见光波段和红外波段的光电探测器,包括光电探测器本体,所述光电探测器本体包括靠近光线由顶至底设置的第一晶圆、第二晶圆和第三晶圆;所述第一晶圆、第二晶圆和第三晶圆依次叠加设置;所述第一晶圆上装配有若干个可见光像元和读出电路;所述第二晶圆上装配有若干个红外读出电路;所述第三晶圆上装配有若干个红外像元阵列;第一晶圆与第二晶圆硅片键合设置,所述第三晶圆通过第一晶圆与第二晶圆硅片键合后互联设置,实现可见光波段图像和红外波段图像的探测,该光电探测器结构简单,操作方便,便于在复杂的光照条件下进行成像,满足星体追踪,目标识别,深空探测等多领域的应用需求。
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公开(公告)号:CN112422955A
公开(公告)日:2021-02-26
申请号:CN202011166168.1
申请日:2020-10-27
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: H04N17/00
Abstract: 本发明公开了一种用于CMOS图像传感器的ADC固有噪声分析方法,属于仿真分析领域。一种用于CMOS图像传感器的ADC固有噪声分析方法,包括以下步骤:1)对ADC比较器的翻转进行仿真分析,得出翻转区间偏移;2)计算所述翻转区间偏移分布在ADC计数器的一个时钟周期内的概率和跨越多个时钟周期的概率,并计算由此而引起的CMOS图像传感器噪声电压;3)将所述CMOS图像传感器噪声电压和对应的概率相乘,得到由ADC固有噪声引起的CMOS图像传感器噪声的计算值。本发明的分析方法,确定了由ADC固有噪声而引起CMOS图像传感器的整体噪声,在设计阶段有利于明确设计值是否满足设计要求,为噪声设计改进提供依据。
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公开(公告)号:CN111294530A
公开(公告)日:2020-06-16
申请号:CN202010100289.X
申请日:2020-02-18
Applicant: 西安微电子技术研究所
Abstract: 本发明属于图像传感器技术领域,公开了一种用于图像传感器的自由亚采样型行逻辑电路及其工作方法。本发明通过开窗译码模块、亚采样状态标识模块、LATCH阵列、全局控制器及成像控制逻辑模块完成对图像传感器像元行的控制;支持多种曝光模式;通过像元阵列的亚采样标识,实现超大规模像元阵列的全面阵自由亚采样;通过地址标识及亚采样指针链的设计,支持开窗范围内的小区域亚采样标记;支持亚采样一键关断;通过时钟门控设计,令亚采样标识与像元成像工作频率不同,实现亚采样快速标定。设计结构简单、配置灵活、适用范围广、支持复用拼接,可应用于不同类型的图像传感器芯片电路。
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公开(公告)号:CN110190833A
公开(公告)日:2019-08-30
申请号:CN201910592633.9
申请日:2019-07-03
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: H03K3/013 , H03K3/3562
Abstract: 本发明公开了一种抗单粒子翻转的自检测自恢复同步复位D触发器,D触发器的时钟信号输入电路分别与时钟信号输入端C、自检测自恢复同步复位主锁存器和自检测自恢复同步复位从锁存器连接,能够产生一个与时钟信号输入端C逻辑状态相反和相同的输出信号CN、CP;SEU监测电路分别与自检测自恢复同步复位主锁存器及自检测自恢复同步复位从锁存器连接;自检测自恢复同步复位主锁存器分别与数据信号输入端D、复位信号输入端RN及自检测自恢复同步复位从锁存器连接;自检测自恢复同步复位从锁存器与输出电路连接;输出电路与第一输出端Q及第二输出端QN连接。本发明触发器状态可控能力强,抗单粒子翻转能力强,工作方式灵活。
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