-
公开(公告)号：CN107427271B
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN201680021003.0
申请日：2016-03-01
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: A61B6/00
Abstract: 在实施例1所涉及的X射线摄影装置(1)中，X射线检测器(5)具有利用格子状的遮光壁划分闪烁体元件的结构。向X射线检测器(5)入射的X射线中的向遮光壁入射的X射线不被转换为闪烁光而透过X射线检测器(5)。因而，通过向利用格子状的遮光壁划分闪烁体元件所得到的X射线检测器(5)入射X射线，能够与使该X射线通过检测掩膜的情况同样地将透过了被检体(M)的X射线(3a)向X射线检测器(5)入射的区域进一步限制在任意的范围内。因而，能够在EI‑XPCi中使用的X射线摄影装置(1)中省略检测掩膜，因此能够降低X射线摄影装置(1)的制造成本。
-
公开(公告)号：CN107427269B
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN201580077485.7
申请日：2015-03-06
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: A61B6/00
Abstract: 提供一种将相位光栅与放射线检测器之间的分离距离最优化的放射线相位差摄影装置。即，根据本发明，以检测面(4a)中拍进的自身像被噪声扰乱了何种程度为基准来决定相位光栅(5)与FPD(4)的检测面(4a)之间的分离距离。即，在本发明的结构中，将噪声的影响的大小确定为分离距离的评价的基准。而且，根据本发明，基于在将相位光栅(5)与FPD(4)的检测面(4a)之间的距离设为某个距离(Zd)时得到的自身图像上的自身像被噪声扰乱了何种程度来判断距离(Zd)是否适于摄影。这样，能够基于照射多个种类的X射线的实际的X射线源(3)的实际情况来实现分离距离的最优化。
-
公开(公告)号：CN107106101B
公开(公告)日：2020-04-24
申请号：CN201580070501.X
申请日：2015-11-20
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: G01N23/041
Abstract: 提供一种能够可靠地检测自身像来使物体的内部构造详细地成像的放射线相位差摄影装置。根据本发明的结构，FPD(4)的检测面的纵向相对于相位光栅(5)中的吸收体的延伸方向倾斜。于是，拍进自身像的条纹图案的位置(相位)根据检测面的位置的不同而不同。因而，认为能够实现与进行检测面上的拍进自身像的位置互不相同的多次摄影来获得多个自身像相同的效果。但是，如果仅这样的话，则被摄体的特定的位置处的自身像的相位固定为一个。因此，根据本发明的结构，设为一边改变摄像系统(3、4、5)与被摄体的相对位置一边进行摄影。
-
公开(公告)号：CN109561864A
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201780046916.2
申请日：2017-07-10
Applicant: 株式会社岛津制作所 , 国立大学法人大阪大学
IPC: A61B6/00 , G01N23/041
Abstract: 本X射线相位差摄像装置(100)具备：X射线源(1)，其照射连续X射线；第一光栅(3)，其用于形成自身像；第二光栅(4)；检测部(5)，其检测连续X射线；以及第三光栅(2)，其配置在检测部(5)与第一光栅(3)之间。而且，以满足规定的式的条件的方式配置第一光栅(3)、第二光栅(4)以及第三光栅(2)。
-
公开(公告)号：CN109328035A
公开(公告)日：2019-02-12
申请号：CN201780037450.X
申请日：2017-03-15
Applicant: 株式会社岛津制作所
Abstract: 提供一种即使不事先进行无被摄体的摄影也能够进行准确的成像的放射线摄影装置。根据本发明，能够提供一种即使不事先进行无被摄体的摄影也能够进行准确的成像的放射线摄影装置。即，本发明的装置设置有相位光栅(5)，该相位光栅(5)设置有被摄体用区域和参照区域。虽然在任一个区域中均设置有用于吸收放射线的规定图案，但其图案不同。在该区域观察到长周期的莫尔纹状的相位光栅(5)的像。该长周期的莫尔纹状的像的位置由于相位光栅(5)与吸收光栅(6)的相对位置的细微变化而改变，因此能够从参照区域的图像检测放射线源、相位光栅(5)以及吸收光栅(6)的相对位置的细微变化。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107407735A
公开(公告)日：2017-11-28
申请号：CN201680014450.3
申请日：2016-01-26
Applicant: 株式会社岛津制作所
CPC classification number: G01T1/2006 , A61B6/4241 , G01T1/20 , G01T1/2018 , H01L27/14629 , H01L27/14634 , H01L27/14638
Abstract: 提供一种能够进行可诊断性高的双能拍摄的、X射线敏感度更高的X射线检测器。X射线检测器(1)包括：闪烁体元件(15)，其由遮光壁(17)划分，将低能量的X射线转换成光；以及闪烁体元件(19)，其由遮光壁(21)划分，将高能量的X射线转换成光。从X射线的入射方向来看，遮光壁(17)的位置图案与遮光壁(21)的位置图案构成为未对齐。因此，入射到X射线检测器(1)的X射线被至少任意一方的闪烁体元件转换成光，最终作为X射线检测信号输出。即，即使在X射线检测器(1)中形成有遮光壁的情况下，无法检测到X射线的区域也不再存在。因而，能够利用遮光壁提高X射线图像的分辨率，并且能够提高X射线检测器的X射线敏感度。
-
公开(公告)号：CN103081127B
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201180042753.3
申请日：2011-02-09
Applicant: 株式会社岛津制作所 , 独立行政法人国立高等专门学校机构
IPC: H01L31/09 , G01T1/24 , H01L27/14 , H01L27/146
CPC classification number: H01L21/02573 , H01L21/02562 , H01L21/0262 , H01L27/14659 , H01L27/14692 , H01L27/14696 , H01L31/02966 , H01L31/115 , H01L31/1832 , Y02E10/50
Abstract: 即使在通过蒸镀或升华来形成由多晶膜或多晶的层叠膜构成的检测层的第一过程的中途不能再供给Cl(氯)，也会在第一过程的开始或过程的中途供给与源S不同的附加源(例如HCl等含有Cl的气体)。可以从成膜初期直至结束时为止，对为CdTe(碲化镉)、ZnTe(碲化锌)或CdZnTe(碲锌镉)的多晶或多晶的层叠膜的检测层在厚度方向上均匀地掺杂Cl。其结果，可以使晶粒均匀化并且使检测特性均匀化。
-
公开(公告)号：CN104921742A
公开(公告)日：2015-09-23
申请号：CN201510126304.7
申请日：2015-03-20
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: A61B6/00
CPC classification number: A61B6/542 , A61B6/4233 , G01T1/247
Abstract: 本发明提供一种X射线摄影装置。在X射线摄影装置中，X射线管控制部控制着X射线管，使得从X射线管照射的X射线的能散度的上限大于构成转换膜的各元素的K壳层吸收端中的最小的K壳层吸收端，且小于等于根据上述各元素的K壳层吸收端中的与对模糊造成影响的能量的特征X射线对应的K壳层吸收端而预先设定的值。由此，相比于照射X射线的能散度的上限大于根据与对模糊造成影响的能量的特征X射线对应的K壳层吸收端而预先设定的值的情况，能够使K壳层特征X射线的释放数减少。能够抑制由K壳层特征X射线溢出到因X射线入射而发生光电效应的像素区域外的区域导致的图像模糊。
-
公开(公告)号：CN104297268A
公开(公告)日：2015-01-21
申请号：CN201410342675.4
申请日：2014-07-17
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: G01N23/04
CPC classification number: G01T1/20 , G01N23/043
Abstract: 本发明提供一种二维图像检测系统，能够将微小尺寸的被检体放大并稳定地进行摄影或者透视。改变根据以往的分辨率的参数推断设定条件的想法，在使用了稳定的焦点尺寸的X射线管(3)的情况下，根据X射线管(3)的焦点尺寸推断设定条件。能够根据焦点尺寸以及来设定最小摄影尺寸(b[μm])，能够根据所设定的最小摄影尺寸(b[μm])、X射线检测器4的像素间距(d[μm])以及bε/d≥5来设定放大率(ε)。由此，在使用了稳定的焦点尺寸的X射线管(3)的情况下，能够设定最小摄影尺寸(b[μm])和放大率(ε)。其结果，能够将微小尺寸的被检体(O)放大并稳定地进行摄影或者透视。
-
公开(公告)号：CN102413763A
公开(公告)日：2012-04-11
申请号：CN200980158928.X
申请日：2009-04-24
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: A61B6/00
Abstract: 在本发明的放射线摄像装置中，改变在电容器中蓄积将利用X射线转换层对起因于流经X射线转换层的暗电流的暗电流噪声进行转换而得到的电荷信号的时间来获得暗图像信号，由此能够得到暗电流噪声的准确的温度特性。由此，从进行X射线摄像时得到的X射线检测信号中去除周期性地获取到的偏置信号，并且使用暗电流噪声的温度特性进行基于获取偏置信号时与进行X射线摄像时的温度差的暗电流噪声的变化量的校正，从而能够高精度地去除起因于暗电流的噪声。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
52
records
(took 0.036 seconds)
