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公开(公告)号：CN1415780A
公开(公告)日：2003-05-07
申请号：CN02137608.5
申请日：2002-10-24
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明是一种纳米特性薄膜器件的制备方法。本方法采用高速动态光谱仪，对制备过程中的器件光谱特性随工艺的变化进行实时快速检测和分析。在1400－1600nm的红外通讯波段，实现以≤1秒时间和优于0.1nm的光谱分辨率，获得器件各膜层折射率、透射、反射、光谱带宽、线形和层厚等参数随工艺条件变化的关系，进而对影响薄膜器件特性的因素进行实时精确控制和调整。系统具有长时间工作的高可靠性和极好的纳米器件光谱数据的重复性。
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公开(公告)号：CN1101003C
公开(公告)日：2003-02-05
申请号：CN98121930.6
申请日：1998-09-30
Applicant: 复旦大学
IPC: G02B27/00
Abstract: 已有的磁光克尔效应的测量设计方法均采用单只探测器，只能对材料的单区域进行单次测量。如要对材料的微区进行高密度的数据扫描测量，则测量的效率较低，不易实用。本发明采用了具有一定像素范围数目的CCD探测器，通过旋转检偏器，在不同检偏角位置连续获得完整的CCD信号，并通过快速富利埃分析，不仅可获得宏区的克尔效应，而且可获得高分辨率的微区分布的克尔效应，形成凝视式磁光克尔图象。采用本发明制造的凝视式磁光克尔仪，可提高效率5千至5万倍，并快速、准确获得各种磁结构。
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公开(公告)号：CN1073696C
公开(公告)日：2001-10-24
申请号：CN98121928.4
申请日：1998-09-30
Applicant: 复旦大学
IPC: G01J3/447
Abstract: 已有的红外双重富利埃变换的椭圆偏振光谱仪设计方法均采用单只起偏器，并由检偏器作连续转动。本发明在既对波长又对偏振角作双重富利埃变换的同时，采用两个起偏器Po和P，其中起偏器Po固定，检偏器A与起偏器P采用2∶1系数同步旋转，可得到各波长的光强信号，通过双重富利埃变换求得对应于各波长的4个交流光强分量，就能以不同的组合自洽求出完整的椭偏参数。采用本发明制造的红外椭圆偏振光谱仪，具有数据自洽、准确、灵敏和实时快速的优点。
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公开(公告)号：CN1070306C
公开(公告)日：2001-08-29
申请号：CN98121929.2
申请日：1998-09-30
Applicant: 复旦大学
IPC: G11B7/00
Abstract: 传统的磁记录和光记录器均采用单磁头和单光学头对数据进行存储和读取，并由机械位移方式实现数据的寻址和阅读。本发明采用面阵式光探测器实现光盘数据的高密度快速阅读。光盘的数据记录密度与面阵光探测器的密度一致，其极限数据存储密度仅受到探测器阵列密度的限制。在数据阅读和传输过程消除了记录头的机械位移，因而显著提高了器件的防振和环境应用能力。器件的工作状态稳定，寿命长，极不易被模仿和伪造。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1213076A
公开(公告)日：1999-04-07
申请号：CN98121928.4
申请日：1998-09-30
Applicant: 复旦大学
IPC: G01J3/447
Abstract: 已有的红外双重富利埃变换的椭圆偏振光谱仪设计方法均采用单只起偏器,并由检偏器作连续转动。本发明在既对波长又对偏振角作双重富利埃变换的同时,采用两个起偏器Po和P,其中起偏器Po固定,检偏器A与起偏器P采用2∶1系数同步旋转,可得到各波长的光强信号,通过双重富利埃变换求得对应于各波长的4个交流光强分量,就能以不同的组合自洽求出完整的椭偏参数。采用本发明制造的红外椭圆偏振光谱仪,具有数据自洽、准确、灵敏和实时快速的优点。
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公开(公告)号：CN110673248B
公开(公告)日：2021-11-16
申请号：CN201910951575.4
申请日：2019-10-09
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于微纳光学器件与光通信技术领域，具体是一种近红外可调谐窄带滤波器。本发明滤波器包括：衬底层，位于衬底层上依次叠合的薄膜层和光栅层；其中衬底为低折射率电介质材料，薄膜层和光栅层为高折射率电介质材料；光栅层的衍射效应产生的衍射波，一定条件下可以在薄膜层内形成导模共振。结合时域有限差分(FDTD)仿真和电磁多极展开分析表明，窄线宽反射是由于光栅层与入射光相互作用时，电偶极、磁偶极与电四极共振模式耦合造成的。改变光栅的周期以及薄膜层的厚度，可有效调谐峰值波长。本发明具有结构简单、峰值反射率高、峰值波长调谐简单、偏振不敏感，加工误差容忍度高等优点。
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公开(公告)号：CN112557304A
公开(公告)日：2021-03-26
申请号：CN202011316227.9
申请日：2020-11-22
Applicant: 复旦大学
IPC: G01N21/21
Abstract: 本发明属于纳米材料和光学技术领域，具体为一种基于椭偏参数轨迹拓扑特征识别薄膜材料纳米结构的方法。本发明方法包括以下步骤：利用椭圆偏振光谱仪测量薄膜材料的P光、S光的复反射率比值ρ，进而获得两个椭偏参数ψ与Δ；获得椭偏参数(ψ、Δ)的轨迹曲线；根据所述轨迹曲线的拓扑特征判定薄膜材料纳米结构由颗粒到网状的转变；求得(ψ、Δ)轨迹的切线方位角曲线；根据所述切线方位角曲线的拓扑特征判定薄膜材料纳米结构连续性的转变，从而实现对薄膜材料纳米结构的识别。本发明可用于薄膜材料生长过程中纳米结构的原位监测，对利用人工智能识别纳米结构有着重要的参考价值，具有非接触、非破坏、对环境要求不苛刻等优点。
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公开(公告)号：CN110320745B
公开(公告)日：2020-07-07
申请号：CN201910557029.2
申请日：2019-06-26
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于能源技术领域，具体为具有理想发射谱的柔性被动冷却薄膜及其制备方法。本发明制备方法包括：获取紫外固化树脂的光学常数；根据光学常数设计光子晶体微结构；通过微纳加工技术在光阻上制备出微结构；通过紫外纳米压印卷对卷方法将微结构制备到柔性衬底上。本发明制备的被动冷却薄膜，在晴天时可以将户外物体的热量通过大气窗口辐射到宇宙空间中。由于本方法制备的辐射冷却薄膜表面具有微结构，可以大大提高辐射冷却的功率，使目标物体的降温幅度增加；同时，使用紫外纳米压印技术与工业卷对卷生产相结合，使本发明制备的冷却薄膜可以制备到柔性塑料衬底上，拓宽了应用的范围。
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公开(公告)号：CN110926612A
公开(公告)日：2020-03-27
申请号：CN201911310139.5
申请日：2019-12-18
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明公开一种多通道宽带高分辨光谱仪，包括沿光源入射或反射路线，依次设置的若干光源入射狭缝、由多个子光栅组成的多通道集成光栅、多通道共用的二维聚焦成像镜，以及二维面阵探测器；入射光沿各光源入射狭缝入射到对应的集成光栅上，经集成光栅衍射后被共用的二维聚焦成像镜聚焦，全光谱区衍射光入射到二维面阵探测器焦平面检测。无任何机械位移部件，实现多通道全光谱的高速检测和分析，具有很高的光谱分辨率和工作可靠性。
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