一种提高连续波信号微光探测放大电路增益的装置

    公开(公告)号:CN105634427A

    公开(公告)日:2016-06-01

    申请号:CN201410592268.9

    申请日:2014-10-29

    Abstract: 本发明属于工程测量技术领域,具体涉及一种提高连续波信号微光探测放大电路增益的装置,目的是解决技术现有连续波信号微光探测技术中,放大电路有限的增益带宽积难以实现高增益的问题。该装置包括光电探测器APD、放大器AMP、本振信号源VLO、偏置电压HV、限流电阻R1、负载电阻R2、端接电阻R3、跨阻R4、滤波电容C1、交流耦合电容C2和旁路电容C3。本方案将光电探测器APD本身作为混频单元,将本振信号加到光电探测器的基准电压端,通过本振信号调制光电探测器的偏置电压来实现对APD探测器增益的调制。

    用于视觉精密测量的轴孔基准现场快速引出工装及方法

    公开(公告)号:CN105627918A

    公开(公告)日:2016-06-01

    申请号:CN201410635996.3

    申请日:2014-11-05

    Abstract: 本发明属于几何量精密测量技术领域,具体涉及一种用于视觉精密测量的轴孔基准现场快速引出工装及方法,目的提供一种引出工装及方法。该工装包括轴基准引出工装和孔基准引出工装。该方法包括建立工装坐标系、标注定向反射球球心在工装坐标系下的三维坐标值、安装轴孔基准现场快速引出工装、测量和数据处理五个步骤。本发明的引出工装和基于该工装的方法能够有效解决应用视觉精密测量系统测量以轴或孔的轴线与基准平面的交点作为基准点定义工件坐标系的大型机械部件时,测量坐标系与工件坐标系的现场快速建立问题。

    一种实现整周回转的位置限定机构

    公开(公告)号:CN105573405A

    公开(公告)日:2016-05-11

    申请号:CN201410636418.1

    申请日:2014-11-06

    Abstract: 本发明属于工程测量技术领域,具体涉及一种实现整周回转的位置限定机构,目的是解决现有技术或应用局限性大、或由于硬限位刚性接触而带来冲击的问题。其特征在于:包括限位滑块(1)、限位环(2)、弹簧和端盖(5);其中,限位环(2)底部一侧设有固定块,安装在立轴(4)顶部,上端与叉架(3)下端连接,下端与立轴(4)连接;端盖(5)环壁上开有一长圆槽,套装在限位环(2)外侧、固定底座(6)的上部;限位滑块(1)安装在端盖(5)的限位滑块安装槽中;两个弹簧放置在限位滑块安装槽内。本发明采用非固定形式的限位块,在整周旋转过程中,通过与固定块接触在主轴旋转方向沿周向方向进行移动,实现整周旋转功能。

    一种实时在线的三维自动化扫描测量系统

    公开(公告)号:CN115717868A

    公开(公告)日:2023-02-28

    申请号:CN202211221112.0

    申请日:2022-10-08

    Abstract: 本发明涉及三维测量系统领域技术领域,特别涉及一种非接触式三维扫描测量系统。一种实时在线的三维自动化扫描测量系统,包括:AGV小车、协作机器人、高精度光学扫描测头、固定式光学跟踪器、基于5G技术的数据无线传输单元、数据处理单元以及自动化控制单元。本发明利用高精度光学扫描测头采集被测工件的图像信息,通过5G技术实时、快速传送给数据处理单元,数据处理单元完成点云数据解算、点云去噪、点云网格化及形位公差分析等数据处理,得到的测量结果上传至云服务器,实现测量结果云共享。有效解决了现有在线测量系统在对工件进行实时在线测量时安全性差、编程复杂、适应性差、测量数据因无法实时共享而造成检测效率低的问题。

    一种主动发光式运动模拟装置、测试系统和测试方法

    公开(公告)号:CN115435824A

    公开(公告)日:2022-12-06

    申请号:CN202210919593.6

    申请日:2022-08-02

    Abstract: 本发明公开了一种主动发光式运动模拟装置、测试系统和测试方法,涉及计量测试技术领域。该装置的具体实施方式包括:光点点阵和脉冲发生器,光点点阵包括多个光学标志点;脉冲发生器用于为光点点阵的多个光学标志点提供脉冲,控制多个光学标志点按照目标点亮时序点亮,使得多个光学标志点模拟物体运动;其中,多个光学标志点并联连接。该实施方式能够适用于不同使用环境模拟不同运动路径、运动参数等各种应用场景下的物体运动,实现对立体视觉测量设备的计量测试,无论设备应用于何处,皆不会受动力、空间、环境等限制,可以实现光学目标的任意运动形式的计量测试,提升了模拟的可靠性,大大提高了实际应用环境下立体视觉测量设备的测量精度。

    一种基于圆形标志点的单目位姿测量方法

    公开(公告)号:CN109470142A

    公开(公告)日:2019-03-15

    申请号:CN201811397607.2

    申请日:2018-11-22

    Abstract: 一种基于圆形标志点的单目位姿测量方法,包括以下步骤:S1:将5个标志点贴在待测立体物体表面上,且保证5个标志点不共面;设5个标志点分别为Pi,i=1-5。S2:在待测立体物体运动的过程中,使用摄像机对待测立体物体进行拍摄,得到待测立体物体不同时刻的采集图像;S3:对S2中所得的采集图像进行图像处理,并根据S2中所得的采集图像的圆度阈值,得到每个编码标志点的大圆与小圆标志点的特征轮廓;S4:根据S3所得每个编码标志点的大圆与小圆标志点的特征轮廓,从而对5个不同标志点进行特征识别,并得到每个标志点的质心像素坐标值;S5:根据S4中所得的每个标志点的质心像素坐标值,得到待测立体物体的三维六自由度位姿信息。

    一种粗精视场光轴平行性调整方法

    公开(公告)号:CN105630000B

    公开(公告)日:2019-02-26

    申请号:CN201410617423.8

    申请日:2014-11-05

    Abstract: 本发明属于工程测量技术领域,具体涉及一种粗精视场光轴平行性调整方法,目的是解决现有调整方法局限性大的问题。该方法包括安装设备和粗精视场光轴平行性调整两个步骤。本发明采用通过在不同距离处放置靶屏,在屏上承接两光轴目标点,获取目标点的相对位置关系,调整光轴平行性。调整精度估算,若光轴相对位置在50m至97m调整过程中偏离不大于10mm,此时调整误差为100m范围内20mm,则在1km范围内两光轴的偏移量能够控制在200mm,而实验中靶屏接收面积为500mm,能够满足1km距离聚焦瞄准要求。

    用于视觉精密测量的轴孔基准现场快速引出工装及方法

    公开(公告)号:CN105627918B

    公开(公告)日:2019-01-08

    申请号:CN201410635996.3

    申请日:2014-11-05

    Abstract: 本发明属于几何量精密测量技术领域,具体涉及一种用于视觉精密测量的轴孔基准现场快速引出工装及方法,目的提供一种引出工装及方法。该工装包括轴基准引出工装和孔基准引出工装。该方法包括建立工装坐标系、标注定向反射球球心在工装坐标系下的三维坐标值、安装轴孔基准现场快速引出工装、测量和数据处理五个步骤。本发明的引出工装和基于该工装的方法能够有效解决应用视觉精密测量系统测量以轴或孔的轴线与基准平面的交点作为基准点定义工件坐标系的大型机械部件时,测量坐标系与工件坐标系的现场快速建立问题。

    一种激光跟踪数字化柔性装配测量系统现场校准方法

    公开(公告)号:CN106403810B

    公开(公告)日:2018-11-02

    申请号:CN201510463473.X

    申请日:2015-07-31

    Abstract: 本发明几何量计量技术领域,具体涉及一种激光跟踪数字化柔性装配测量系统现场校准方法。具体包括以下步骤:步骤一、仪器安装;步骤二、建立测量坐标系;步骤三、构建并测量标准装置坐标系;步骤四、解算标准装置坐标系与测量坐标系间的位置姿态关系;步骤五、通过激光跟踪数字化柔性装配测量系统得到位移和角度变化量的测量值;步骤六、比较测量值和标准装置提供的参考值,得到系统位移和角度测量误差;步骤七、分析系统位置姿态测量不确定度。本发明设计的方法能够有效解决激光跟踪数字化柔性装配测量系统的现场校准问题,能够实现测量系统对位置和姿态测量经过的校准,此方法涉及的标准装置便携性好,能够适应装配现场实施。

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