一种基于摩擦轮传动的相机入射光强调节机构

    公开(公告)号:CN104345518B

    公开(公告)日:2017-05-17

    申请号:CN201310316222.X

    申请日:2013-07-25

    Abstract: 本发明涉及摄影测量技术领域,具体公开了一种基于摩擦轮传动的相机入射光强调节机构。该调节机构中,安装在相机前端的镜头通过相机固定支架固定在底座上,固定偏振片与镜头紧固连接,位于大摩擦轮中空轴内的转动偏振片,通过转动机构支架固定在固定偏振片轴线的前端;电机通过电机固定支架固定在底座上,并保证与电机相连接的小摩擦轮与大摩擦轮同轴,且小摩擦轮可通过与大摩擦轮的摩擦力,带动安装在大摩擦轮中的转动偏振片转动。该调节机构中整个光强调节机构为平行轴结构,解决了驱动机构对相机视场的遮挡问题;摩擦轮的传动机构实现了无间隙无回程;转动机构采用双排滚珠的形式,可以自定位,转动流畅无径向窜动。

    一种基于摩擦轮传动的相机入射光强调节机构

    公开(公告)号:CN104345518A

    公开(公告)日:2015-02-11

    申请号:CN201310316222.X

    申请日:2013-07-25

    Abstract: 本发明涉及摄影测量技术领域,具体公开了一种基于摩擦轮传动的相机入射光强调节机构。该调节机构中,安装在相机前端的镜头通过相机固定支架固定在底座上,固定偏振片与镜头紧固连接,位于大摩擦轮中空轴内的转动偏振片,通过转动机构支架固定在固定偏振片轴线的前端;电机通过电机固定支架固定在底座上,并保证与电机相连接的小摩擦轮与大摩擦轮同轴,且小摩擦轮可通过与大摩擦轮的摩擦力,带动安装在大摩擦轮中的转动偏振片转动。该调节机构中整个光强调节机构为平行轴结构,解决了驱动机构对相机视场的遮挡问题;摩擦轮的传动机构实现了无间隙无回程;转动机构采用双排滚珠的形式,可以自定位,转动流畅无径向窜动。

    一种多特征点位置姿态冗余解算方法

    公开(公告)号:CN104424382B

    公开(公告)日:2017-09-29

    申请号:CN201310367522.0

    申请日:2013-08-21

    Abstract: 本发明属于物体位置姿态测量技术领域,具体涉及一种多特征点位置姿态冗余解算方法。方法以特征点在视觉测量系统中的三维坐标为输入条件,获取数据后通过计算特征点到空间虚拟点的距离寻找匹配点对,若所有特征点均能找到匹配点对,则直接进行去重心化操作;若无法找到匹配点对,则该点被自动舍弃,记录匹配点对个数,动态调整后续算法数据入口大小,由剩余点解算该时刻的姿态位置信息;完成匹配后,通过去重心化实现平移信息和旋转信息的分离,单独解算旋转矩阵。本发明解决了物体空间位置姿态测量的六自由度解算问题,提高算法精度的同时使算法保持较高的实时性能。

    一种不规则外形物体空间姿态动态测量方法

    公开(公告)号:CN104422425B

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201310377247.0

    申请日:2013-08-27

    Abstract: 本发明涉及运动物体空间姿态动态测量技术领域,具体公开了一种不规则外形物体空间姿态动态测量方法。该方法包括:1)在被测物上设置光学靶标,并利用激光跟踪仪对所有光学靶标进行全局校准;2)利用相机测量系统标定技术对测量系统进行标定,并控制左右两相机同步采集测量图像,并通过图像处理技术提取光学靶标的图像坐标;3)利用步骤1、2所获得的光学靶标在被测物坐标系下的三维坐标和在测量坐标系下的三维坐标,获得旋转矩阵,获得被测物的三维空间姿态角。该测量方法,可以测量非轴对称的不规则外形的空间物体的瞬时空间三维姿态角;在测量范围2m×2m×2m的空间中,测量频率1000Hz的测量条件下,测量精度可达到空间角合成均方根误差小于0.05°。

    一种提高连续波信号微光探测放大电路增益的装置

    公开(公告)号:CN105634427A

    公开(公告)日:2016-06-01

    申请号:CN201410592268.9

    申请日:2014-10-29

    Abstract: 本发明属于工程测量技术领域,具体涉及一种提高连续波信号微光探测放大电路增益的装置,目的是解决技术现有连续波信号微光探测技术中,放大电路有限的增益带宽积难以实现高增益的问题。该装置包括光电探测器APD、放大器AMP、本振信号源VLO、偏置电压HV、限流电阻R1、负载电阻R2、端接电阻R3、跨阻R4、滤波电容C1、交流耦合电容C2和旁路电容C3。本方案将光电探测器APD本身作为混频单元,将本振信号加到光电探测器的基准电压端,通过本振信号调制光电探测器的偏置电压来实现对APD探测器增益的调制。

    用于视觉精密测量的轴孔基准现场快速引出工装及方法

    公开(公告)号:CN105627918A

    公开(公告)日:2016-06-01

    申请号:CN201410635996.3

    申请日:2014-11-05

    Abstract: 本发明属于几何量精密测量技术领域,具体涉及一种用于视觉精密测量的轴孔基准现场快速引出工装及方法,目的提供一种引出工装及方法。该工装包括轴基准引出工装和孔基准引出工装。该方法包括建立工装坐标系、标注定向反射球球心在工装坐标系下的三维坐标值、安装轴孔基准现场快速引出工装、测量和数据处理五个步骤。本发明的引出工装和基于该工装的方法能够有效解决应用视觉精密测量系统测量以轴或孔的轴线与基准平面的交点作为基准点定义工件坐标系的大型机械部件时,测量坐标系与工件坐标系的现场快速建立问题。

    脉冲/相位一体式激光测距仪

    公开(公告)号:CN104459710A

    公开(公告)日:2015-03-25

    申请号:CN201310453237.0

    申请日:2013-09-25

    CPC classification number: G01S17/08

    Abstract: 本发明属于激光测距技术领域,具体涉及一种脉冲/相位一体式激光测距仪。窄脉冲发生电路、正弦波发生电路通过模拟开关A与半导体激光器连接;半导体激光器发射的激光一路经过发射镜、测量目标、接收镜接收后输入APD探测器,经运算放大器B放大后输出回波信号;半导体激光器发射的激光另一路输入PIN探测器,经运算放大器A放大后输出参考信号;模拟开关B接收激光发射脉冲/连续波双模式调制电路产生的参考信号和回波信号,模拟开关B可以切换至与模拟开关C连接,也可以经过混频滤波电路后与模拟开关C连接;模拟开关C与双路高速比较器连接,双路高速比较器与时间间隔测量电路连接。本发明解决单台激光测距仪不能具备脉冲、相位两种测量模式问题。

    用于视觉精密测量的轴孔基准现场快速引出工装及方法

    公开(公告)号:CN105627918B

    公开(公告)日:2019-01-08

    申请号:CN201410635996.3

    申请日:2014-11-05

    Abstract: 本发明属于几何量精密测量技术领域,具体涉及一种用于视觉精密测量的轴孔基准现场快速引出工装及方法,目的提供一种引出工装及方法。该工装包括轴基准引出工装和孔基准引出工装。该方法包括建立工装坐标系、标注定向反射球球心在工装坐标系下的三维坐标值、安装轴孔基准现场快速引出工装、测量和数据处理五个步骤。本发明的引出工装和基于该工装的方法能够有效解决应用视觉精密测量系统测量以轴或孔的轴线与基准平面的交点作为基准点定义工件坐标系的大型机械部件时,测量坐标系与工件坐标系的现场快速建立问题。

    一种提高连续波信号微光探测放大电路增益的装置

    公开(公告)号:CN105634427B

    公开(公告)日:2018-03-16

    申请号:CN201410592268.9

    申请日:2014-10-29

    Abstract: 本发明属于工程测量技术领域,具体涉及一种提高连续波信号微光探测放大电路增益的装置,目的是解决技术现有连续波信号微光探测技术中,放大电路有限的增益带宽积难以实现高增益的问题。该装置包括光电探测器APD、放大器AMP、本振信号源VLO、偏置电压HV、限流电阻R1、负载电阻R2、端接电阻R3、跨阻R4、滤波电容C1、交流耦合电容C2和旁路电容C3。本方案将光电探测器APD本身作为混频单元,将本振信号加到光电探测器的基准电压端,通过本振信号调制光电探测器的偏置电压来实现对APD探测器增益的调制。

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