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公开(公告)号：CN102744590A
公开(公告)日：2012-10-24
申请号：CN201210260188.4
申请日：2012-07-25
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于对微管零件的微管和微孔零件的微孔进行装配和点胶的装配点胶装置，包括：夹持定位系统，其用于夹持和定位所述微管零件、微孔零件和点胶针头；显微检测系统，其用于对工作区域进行图像摄取和放大，并将所摄取图像的图像信号传送给控制主机。显微检测系统包括多个显微镜组件，各个显微镜组件的放大倍数和视场景深相互不同。夹持定位系统包括微管零件夹持定位组件、微孔零件夹持定位组件和点胶针头夹持定位组件，其分别用于夹持和定位所述微管零件、微孔零件和点胶针头。本发明将显微视觉检测、微装配和微点胶技术结合起来的完整的、具有通用性和实用性的装配点胶装置，可方便高效的实现人机协同的微米级微管与微孔零件装配和点胶作业。
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公开(公告)号：CN102689300A
公开(公告)日：2012-09-26
申请号：CN201210181310.9
申请日：2012-06-04
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于精密装配的具备夹持力感知功能的压电驱动微夹持钳及使用所述微夹持钳夹持零件的方法。本发明通过控制压电陶瓷驱动电压实现微夹持钳精确运动控制，实现跨尺度(0.1μm～6mm)异形零件的无损夹持。夹持过程中显微视觉摄像头安装在微夹持钳上方，根据被夹持零件尺寸选择合适的夹持头，当夹持钳和零件未接触时依据显微视觉图像控制夹持钳头靠近零件；当夹持钳和零件接触后通过微力传感器感知夹持力，根据反馈力信号控制微夹持钳运动。本发明能够提高微夹持钳的准确性和可靠性，能够实现零件的无损夹持，以满足精密装配的需求。
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公开(公告)号：CN118259679A
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN202410368959.4
申请日：2024-03-28
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 一种多约束下机器人同步学习和运动与力混合控制方法及系统，方法包括根据机器人的运动学方程，将不同层次的物理约束分别转化为速度级和加速度级的不等式约束；结合转化为速度级和加速度级的不等式约束，建立机器人的运动与力混合控制模型；基于所述机器人的运动与力混合控制模型进行机器人重复运动规划，采用一个性能指标处理关节漂移；结合所有的约束及关节漂移处理条件建立统一的多目标时变二次规划模型；对统一的多目标时变二次规划模型利用基于递归神经网络的控制器，自定义约束比例和权重以匹配任务需求，求解最优解，得到多约束下的机器人混合控制方案。本发明能够综合处理多重约束、有效处理运动学不准确性，并纠正关节漂移，提高鲁棒性。
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公开(公告)号：CN117197152A
公开(公告)日：2023-12-08
申请号：CN202310223699.7
申请日：2023-03-09
Applicant: 滨州魏桥国科高等技术研究院 , 中国科学院自动化研究所
IPC: G06T7/10 , G06T3/40 , G06N3/0464 , G06N3/0455 , G06N3/08
Abstract: 本发明提供了一种降低波动性的图像分割方法、装置、设备及存储介质，其中，方法包括：获取输入图像；采用编码器对输入图像进行下采样，得到空间切片；对空间切片进行排列和拼接，得到拼接切片；根据级联的空洞卷积层对拼接切片进行特征提取，得到下采样的特征图；采用解码器对特征图进行上采样处理，得到分割图像。本发明能够保证输入图像在少量移动时被分割网络分割出的结果波动性小，使分割网络的平移相等性得到很好的保持。
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公开(公告)号：CN106501265B
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201610894348.9
申请日：2016-10-13
Applicant: 中国科学院自动化研究所
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明涉及一种大口径光学元件表面划痕暗场图像的二值化方法和系统。其中，该方法可以包括：基于暗场图像，利用Gabor滤波器，构建线段探测单元；其中，线段探测单元包括Lc、Ll和Lr，Lc表示图像中待检测像素点的灰度值之和；Ll表示与待检测像素点左侧相距wu大小的灰度值之和；Lr表示与待检测像素点右侧相距wu大小的灰度值之和；wu表示线段探测单元的宽度；根据下式对待检测像素点进行二值化：I(u,v)>T1，Lc>Ll+T2且Lc>Lr+T2；I(u,v)表示大口径光学元件表面划痕暗场图像中像素点(u,v)的灰度值；u表示像素点的横坐标；v表示像素点的纵坐标；T1表示第一阈值；T2表示第二阈值。通过采用该技术方案，解决了如何准确实现大口径光学元件表面划痕暗场图像的二值化提取的技术问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105447512B
公开(公告)日：2018-09-25
申请号：CN201510779518.4
申请日：2015-11-13
Applicant: 中国科学院自动化研究所 , 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种粗精结合的光学表面缺陷检测方法及装置，本发明涉及光学表面检测领域。本发明是要解决传统的肉眼识别的检测方式效率低下、检测精度有限、自动化水平低的问题，从而提出一种基于图像处理和模式识别技术的光学表面缺陷识别方法。该方法是分为两个步骤，步骤一对输入的原始图像直接利用基于图像建模的方差信息进行快速粗检测，获取异常区域的位置及其区域；步骤二是对区域中疑似缺陷利用基于Gist的模式识别方法进行精检测，最后输出结果。本发明应用于光滑表面的定量损伤检测和污渍分析，检测效率快，精度高。
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公开(公告)号：CN106392932B
公开(公告)日：2018-02-16
申请号：CN201610709457.9
申请日：2016-08-23
Applicant: 中国科学院自动化研究所
IPC: G02B7/00
Abstract: 本发明公开了一种光学元件夹持装置和方法。所述夹持装置包括初始定位基准块、长度导向滑轨、长度导向滑块、宽度导向齿条轴、宽度导向齿轮滑块、厚度调整定位组件、俯仰轴和偏摆轴。本发明能够夹持长度400‑1000mm，宽度200‑500mm，厚度60‑150mm的方形光学元件，并能够调整元件的俯仰和偏转角度，尺寸位置定位精度优于1mm，角度定位精度优于10′，且装夹过程简单，稍做该动，可用于其它具有同类夹持需求的场合中。本发明具有广泛的应用前景和可观的社会经济效益。
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公开(公告)号：CN105631857B
公开(公告)日：2018-02-09
申请号：CN201510954616.7
申请日：2015-12-17
Applicant: 中国科学院自动化研究所 , 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G06T7/00
Abstract: 本发明公开了一种光学元件表面划痕的检测方法和装置。所述方法包括：对光学元件表面的图像二值化后，检测得到所述光学元件表面初步划痕的信息；对所述初步划痕的信息进行分组，每一组代表一条完整的划痕；根据分组后的初步划痕的信息得到每一条完整划痕的感兴趣处理矩形区域；根据所述每一条完整划痕的感兴趣处理矩形区域获取每一条完整划痕对应的精确划痕点集；对每一条完整划痕对应的精确划痕点集进行分段，并剔除每段中的干扰噪点；对每一条完整划痕中的所有点集与每一条完整划痕的精确划痕点集进行合并，并获取每一条完整划痕对应的划痕的信息，所述划痕的信息包括长度以及是否存在弯曲。本发明的方案抗噪声干扰能力，检测速度较快。
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公开(公告)号：CN105928949A
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201610238030.5
申请日：2016-04-18
Applicant: 中国科学院自动化研究所
IPC: G01N21/94
CPC classification number: G01N21/94
Abstract: 本发明公开了一种光学元件表面颗粒物在线监测装置及其在线监测的方法。其中，该装置包括光学反射镜(3，9)、固定架(4)、暗场成像系统(5)、光学反射镜箱体(6)、二暗场照明光源(7)、明场成像系统(8)、线性位移台(12)；其中，所述光学反射镜(3，9)和所述固定架(4)设置在所述光学反射镜箱体(6)上；所述暗场成像系统(5)、所述明场成像系统(8)和所述线性位移台(12)设置在所述固定架(4)上，所述线性位移台(12)带动所述明场成像系统(8)运动；所述二暗场照明光源(7)分别设置在所述光学反射镜(9)的两侧。由此，本发明实施例解决了如何以不同分辨率监测光学元件表面污染物的技术问题。
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公开(公告)号：CN103344182B
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201310317168.0
申请日：2013-07-25
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于双目视觉的糖果几何尺寸测量系统和方法，该系统包括：两路视觉系统、两个光源、调整平台和计算机。本发明还提出利用所述测量系统对3.8g和6.0g两种不同形状和大小的糖果的几何尺寸进行测量的方法。本发明利用糖果在两路视觉系统中清晰完整的成像，采用图像处理的方法，实现了3.8g和6.0g不同形状的糖果的几何尺寸的快速精确的测量。本发明操作简单，测量速度快，精度高，可以满足流水线上对糖果几何尺寸的快速测量。
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