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公开(公告)号:CN106158825A
公开(公告)日:2016-11-23
申请号:CN201510206920.3
申请日:2015-04-27
Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司
IPC: H01L23/525
Abstract: 一种芯片,包括寄存器,所述芯片还包括:多晶硅层以及依次叠置的至少两层金属层,所述多晶硅层和与其相邻的金属层耦接;所述多晶硅层以及金属层中均存在预设开关区域,所述预设开关区域包括:适于接收电平信号输入的开关金属走线;适于将所在层的开关金属走线与相邻层的开关金属走线耦接的开关通孔;适于将所在层中的开关金属走线与开关通孔耦接的开关;叠置在最上层的金属层的开关金属走线与预设的寄存器耦接。采用所述芯片,可以简化芯片标识符修改流程。
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公开(公告)号:CN102064856B
公开(公告)日:2016-08-03
申请号:CN201010521648.5
申请日:2010-10-27
Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司
IPC: H04B5/00 , H04B5/02 , G06K19/077
Abstract: 本发明涉及近场通讯中非接触前端模块与安全模块之间的数据传输方法及装置。其中,数据传输方法,包括步骤:非接触前端模块将从非接触识别设备获取的第一数据通过单线连接透传至安全模块;所述安全模块将所述第一数据处理后形成第二数据;非接触前端模块将从通过所述单线连接安全模块获取的第二数据透传至非接触识别设备。与现有技术相比,本发明提供的数据传输方法,可以在非接触前端模块和安全模块之间实时传输非接触数据,因而安全模块可以在模拟PICC的过程中直接响应PCD发出的指令,从而使非接触前端模块完全变成透明传输通道,避免了现有技术中的时序兼容性问题,也克服了非接触前端模块保存UID所带来的安全问题。
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公开(公告)号:CN115371539B
公开(公告)日:2024-08-09
申请号:CN202110550660.7
申请日:2021-05-17
Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司
Abstract: 本发明实施例提供一种耳机及检测耳机佩戴的方法、设备及介质。该方法包括,获取与佩戴辅助传感器对应的第一基准电容值和与佩戴传感器对应的第二基准电容值,接收与手持耳机相关的电容信号而产生第一电容值,并且判断其关于第一基准电容值的第一变化量是否大于第一佩戴辅助阈值,如果为是,则接收与耳机入耳相关的电容信号而产生第二电容值,并且判断其关于第二基准电容值的第二变化量是否大于第一佩戴阈值,如果为是,则接收与手离开耳机相关的电容信号而产生第三电容值,并且判断其关于第一电容值的第三变化量是否小于第二佩戴辅助阈值,如果为是,则确定耳机处于已佩戴状态。本发明实施例的方案可以有效地提高耳机状态的检测准确率。
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公开(公告)号:CN117852029A
公开(公告)日:2024-04-09
申请号:CN202211202494.2
申请日:2022-09-29
Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司
IPC: G06F21/56 , G06F18/214 , G06F18/241 , G06N3/048
Abstract: 本发明公开了一种神经网络后门检测方法及装置,该方法包括:生成对应神经网络模型中每个标签的检测样本,所述检测样本中包含所述标签对应的分类特征;将所述检测样本输入所述神经网络模型,得到特征层的激活向量,将相同标签对应的检测样本的激活向量拼接在一起,得到所述标签的特征矩阵;根据所述特征矩阵确定所述标签对应的检测指标;对所述检测指标进行异常值检测,根据检测结果确定所述神经网络模型是否存在后门。利用本发明方案,可以在无数据的情况下检测神经网络是否存在后门,进而为神经网络的安全提供有效信息。
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公开(公告)号:CN115774692A
公开(公告)日:2023-03-10
申请号:CN202111043052.3
申请日:2021-09-07
Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司
IPC: G06F15/78 , G06F1/06 , G06F30/34 , G06F30/396
Abstract: 一种AI处理器及电子设备。所述AI处理器包括:包括:FPGA及位于所述FPGA内部的AI计算模块;其中,通过所述FPGA对所述AI计算模块进行逻辑控制;所述AI计算模块采用专用集成电路实现;所述AI计算模块具有输入接口和输出接口,所述AI计算模块的输入接口和输出接口均与所述FPGA的可编程互连单元连接。应用上述方案,可以提高AI处理器的计算效率。
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公开(公告)号:CN115512287A
公开(公告)日:2022-12-23
申请号:CN202110701056.X
申请日:2021-06-23
Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司
Abstract: 一种图像处理方法及装置、X光安检系统,该方法包括:接收X光安检连续帧图像;逐帧对所述图像进行物品区域分割,得到一个或多个物品图像;确定所述物品图像对应的物品是否已完整出现;如果是,则获取所述物品的完整图像的检测结果,并将所述完整图像的检测结果标记在当前帧的显示图像中输出;如果否,则对所述物品图像进行检测,并将检测结果标记在当前帧的显示图像中输出。利用本发明,可以提高图像处理效率及图像识别质量。
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公开(公告)号:CN112883385B
公开(公告)日:2022-07-01
申请号:CN201911211333.8
申请日:2019-11-29
Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司
Abstract: 一种侧信道泄露位置定位方法及装置、存储介质、终端,侧信道泄露位置定位方法包括:获取芯片的能量迹曲线;利用能量迹曲线训练卷积神经网络模型直至模型收敛,将一条或多条能量迹曲线输入至训练完成的卷积神经网络模型;获取卷积神经网络模型的中间结果;利用中间结果计算特征图中各个特征点或者输入曲线各个时刻点的权重,每一点的权重表示该点的值与秘密信息的得分的相关程度;选取各个点的权重中的峰值权重以及峰值权重对应的峰值点,并确定峰值点在能量迹曲线中对应的点,以作为信息泄露点。本发明技术方案能够确定芯片的能量迹曲线的信息泄露位置。
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公开(公告)号:CN108511029B
公开(公告)日:2022-04-05
申请号:CN201710099765.9
申请日:2017-02-23
Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司
IPC: G11C29/44
Abstract: 本发明公开了一种FPGA中双端口SRAM阵列的内建自测和修复系统,包含:检测模块,用于获取内建自测过程的开始信号;自测试模块,包含:测试波形产生单元,用于产生不同的测试波形及读写控制信号;故障检测单元,用于比较从SRAM阵列的端口中读出的数据与预期数据,若不一致,则产生故障指示信号;存储单元,用于记录读出的数据、预期数据以及读出的数据与预期数据的对比结果;切换单元,用于切换测试的端口;还包含自修复模块,用于根据故障指示信号及对比结果对SRAM阵列进行修复。本发明还公开了一种内建自测和修复方法。本发明将双端口SRAM阵列配置成A端口写B端口读或者B端口写A端口读来测试,保证测试故障覆盖率高,并且测试和修复的效率高。
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公开(公告)号:CN114078517A
公开(公告)日:2022-02-22
申请号:CN202010809953.8
申请日:2020-08-12
Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司
IPC: G11C11/419 , G11C7/24
Abstract: 一种灵敏放大器及存储器。所述灵敏放大器包括:第一锁存电路及第二锁存电路,所述第一锁存电路具有电位互补的第一输入节点及第二输入节点;所述第二锁存电路具有电位互补的第一抗翻转节点及第二抗翻转节点;其中:所述第二锁存电路,与所述第一锁存电路耦接,适于在所述第一输入节点及第二输入节点的电位互补后,当所述第一输入节点或第二输入节点出现单粒子瞬态时,通过调整所述第一抗翻转节点及第二抗翻转节点的电位,来保持另一输入节点的电位不变,并通过所述另一输入节点为出现单粒子瞬态的输入节点充电,直至恢复所述出现单粒子瞬态的输入节点的电位。应用上述方案,可以使得所述灵敏放大器能够抵抗单粒子翻转。
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公开(公告)号:CN113837327A
公开(公告)日:2021-12-24
申请号:CN202010589033.X
申请日:2020-06-24
Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司
IPC: G06K17/00 , H04B14/02 , H04B5/00 , H05B45/325
Abstract: 一种集成电路芯片及控制系统。所述集成电路芯片包括:第一电路,适于获取第一参数的最大值信息;所述第一参数的最大值信息是通过非接触通信的方式输入的;第二电路,适于获取所述第一参数的调节信息;所述第一参数的调节信息是通过接触接口输入的;第三电路,适于基于所述第一参数的最大值信息,及所述第一参数的调节信息,生成与所述第一参数对应的脉冲宽度调制信号,以控制所述受控设备基于所述第一参数进行工作。应用上述方案,在通过近场射频通信接收第一参数的最大值信息后,通过接触接口,即可改变第一参数对应的脉冲宽度调制信号,使用便利。并且,还可以改变第一参数的最大值信息,便于调节受控设备的参数。
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