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公开(公告)号：CN117083692A
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202280020841.1
申请日：2022-03-22
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: H01J49/24
Abstract: 本发明提供即使装置周边的气压变动也能够抑制灵敏度下降的质量分析装置及其控制方法。质量分析装置具备将试样离子化的离子源、按质量电荷比检测离子的质量分析部、控制气体的流量的控制部、和存储部。所述离子源具备离子源腔室、向所述离子源腔室导入试样的入口、向所述离子源腔室导入第一气体的第一气体导入口、向所述离子源腔室导入用于使试样离子化的第二气体的第二气体导入口、从所述离子源腔室向所述质量分析部排出离子的出口、和从所述离子源腔室排出气体的气体排出口，所述存储部存储测定条件与所述第二气体的流量的关系的表，所述控制部基于所述表，根据所述测定条件变更所述第二气体的流量，控制所述第一气体的流量，由此抑制所述离子源腔室的内部压力的变动。
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公开(公告)号：CN115380360A
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202180026440.2
申请日：2021-03-23
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 为了进行高效率的质量分析，特征在于，具有质量分析装置，质量分析装置包括：离子源、离子导向器、四极杆质量过滤器和配置在四极杆质量过滤器的后级的检测器，并且包括DC电源和RF电源、以及通过控制电源来控制直流电压即加速电压的电压控制装置，电压控制部，在一个坐标轴表示通过离子导向器的离子的质量电荷比且另一个坐标轴表示对离子导向部施加的加速电压的坐标中，在被离子稳定地通过离子导向器的稳定区域的下限值的线(L11)、离子的离子迁移率的线(L12)、加速电压的上限值即上边(L13)、以及加速电压是零的值的下边(L14)包围的控制区域(RA)内，以使测量的离子的质量电荷比越大则加速电压越大的方式按照控制线(L21)控制加速电压。
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公开(公告)号：CN109564190A
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201680088025.9
申请日：2016-08-19
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N27/62
Abstract: 本发明的离子分析装置包括：用于将液体试样中的测量对象物质离子化的离子源；离子引导器，能够被导入在离子源中所产生的离子和液滴，该离子引导器的离子的排出口与液滴的排出口不同；分析从离子的排出口所排出的离子的离子分析部；配置于液滴的排出口的轴上的、测量液滴的量的液滴测量部；和比较由液滴测量部所测量的液滴的量与阈值的解析控制部。
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公开(公告)号：CN108603860A
公开(公告)日：2018-09-28
申请号：CN201780010707.2
申请日：2017-02-28
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N27/62
Abstract: 为了使具有离子迁移率分离部的分析装置具有高的耐久性和鲁棒性而具有：离子源、具备被施加高频电压和直流电压的一对对置的电极的离子迁移率分离部以及设置在离子源和离子迁移率分离部之间且被施加直流电压的屏蔽电极，屏蔽电极在内部具有连接导入来自离子源的离子的入口和排出离子的出口的离子流路，离子流路弯曲使得从入口见不到出口。
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公开(公告)号：CN104681391B
公开(公告)日：2017-08-25
申请号：CN201510047460.4
申请日：2011-11-07
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/0013 , H01J49/0031 , H01J49/0422 , H01J49/0495 , H01J49/10 , H01J49/105 , H01J49/24 , H01J49/26
Abstract: 本发明涉及质量分析装置。本发明提供小型轻量且可进行高精度的质量分析的质量分析装置(100)。该质量分析装置具有：为了使测定试样(4)离子化而对从外部流入的气体(23)进行离子化的离子源(101)和分离已离子化的测定试样(4)的质量分析部(102)；离子源(101)通过来自质量分析部(102)的差动排气来使内部减压，在吸入气体(23)而使气压上升时使气体(23)离子化，质量分析部(102)在吸入气体(23)后内压下降时将已离子化的测定试样(4)分离。具有：抑制离子源(101)取入的气体(23)的流量的抑制构件(9)和对离子源(101)取入的气体(23)的气流进行开闭的开闭机构(8)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104040680B
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201280066503.8
申请日：2012-12-21
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/24 , H01J49/0404 , H01J49/0431 , H01J49/062 , H01J49/26
Abstract: 本发明的课题在于防止离子的导入效率降低、减少清洗作业的时间和劳力。为了解决上述课题，本发明提供如下质量分析装置(1)，其特征在于，电极(13)的离子导入孔(14)被分割为第一区域(14-1)、第二区域(14-2)以及第三区域(14-3)，第一区域和第三区域双方或者任一方的离子导入孔的中心轴方向与第二区域的离子导入孔的内部的离子的流动方向的轴不同，第一区域和第三区域的离子导入孔的轴具有偏心的位置关系。
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公开(公告)号：CN103250229B
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201180058115.0
申请日：2011-10-03
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/063 , H01J49/005 , H01J49/068 , H01J49/4255
Abstract: 本发明的质量分析装置的特征在于，具备：具有多极杆电极(1)的离子透过部(37)；对多极杆电极施加电压的电源部(5)；控制电源部的控制部，多极杆电极具有在轴向彼此不同的位置被分割成多个节杆(2A-1、2A-2、2B-1、2B-2、2C-1、2C-2、2D-1、2D-2)的杆电极。根据本发明，能够以低成本进行高吞吐量的分析。
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公开(公告)号：CN103339708B
公开(公告)日：2015-12-23
申请号：CN201280007364.1
申请日：2012-01-27
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/10 , H01J49/0431 , H01J49/165
Abstract: 通过使用移动的针电极重复采样和离子化的电喷雾等进行稳定的离子化，不减小浓度测定的动态范围地提高分析的定量精度。从高压电源（4）对具有多个针电极（1）的试样输送电极（7）施加电压，通过驱动部（3）进行旋转驱动。附着了试样溶液（5）的多个针电极（1）依次移动到质量分析装置（20）的导入口（21），连续地进行电喷雾离子化。
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公开(公告)号：CN104040680A
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN201280066503.8
申请日：2012-12-21
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/24 , H01J49/0404 , H01J49/0431 , H01J49/062 , H01J49/26
Abstract: 本发明的课题在于防止离子的导入效率降低、减少清洗作业的时间和劳力。为了解决上述课题，本发明提供如下质量分析装置(1)，其特征在于，电极(13)的离子导入孔(14)被分割为第一区域(14-1)、第二区域(14-2)以及第三区域(14-3)，第一区域和第三区域双方或者任一方的离子导入孔的中心轴方向与第二区域的离子导入孔的内部的离子的流动方向的轴不同，第一区域和第三区域的离子导入孔的轴具有偏心的位置关系。
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公开(公告)号：CN103339708A
公开(公告)日：2013-10-02
申请号：CN201280007364.1
申请日：2012-01-27
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/10 , H01J49/0431 , H01J49/165
Abstract: 通过使用移动的针电极重复采样和离子化的电喷雾等进行稳定的离子化，不减小浓度测定的动态范围地提高分析的定量精度。从高压电源（4）对具有多个针电极（1）的试样输送电极（7）施加电压，通过驱动部（3）进行旋转驱动。附着了试样溶液（5）的多个针电极（1）依次移动到质量分析装置（20）的导入口（21），连续地进行电喷雾离子化。
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