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公开(公告)号：CN106471600B
公开(公告)日：2018-12-07
申请号：CN201580031359.8
申请日：2015-06-15
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明涉及鲁棒性高且能够进行高灵敏度且低噪声的分析的质谱仪。课题为防止离子的导入效率降低及抑制液滴等噪声成分的导入。特征在于，具有：生成离子的离子源；用真空排气单元排气且分析离子的质量的真空室；以及将离子导入真空室的离子导入电极(12)，离子导入电极(12)具有离子源侧的前级细孔(35)、真空室侧的后级细孔(36)、以及前级细孔(35)与后级细孔(36)之间的中间压力室(33)，中间压力室(33)的离子入口的截面积比前级细孔(35)的截面积大，前级细孔(35)的中心轴和后级细孔(36)的中心轴位于偏心的位置，中间压力室(33)的离子出口的截面积比入口的截面积小。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105122051B
公开(公告)日：2017-07-04
申请号：CN201480020182.7
申请日：2014-04-10
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N27/62
CPC classification number: G01N30/7233 , G01N27/624 , H01J49/0027 , H01J49/004
Abstract: 分析系统具备：存储部，其存储使质谱分析结果信息和与离子迁移率分离有关的分析条件关联起来的第一信息；控制部，其将与某测定对象离子的质谱分析结果信息对应的上述第一信息的上述质谱分析结果信息所关联的上述分析条件决定为上述测定对象离子的第一分析条件。
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公开(公告)号：CN104040680B
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201280066503.8
申请日：2012-12-21
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/24 , H01J49/0404 , H01J49/0431 , H01J49/062 , H01J49/26
Abstract: 本发明的课题在于防止离子的导入效率降低、减少清洗作业的时间和劳力。为了解决上述课题，本发明提供如下质量分析装置(1)，其特征在于，电极(13)的离子导入孔(14)被分割为第一区域(14-1)、第二区域(14-2)以及第三区域(14-3)，第一区域和第三区域双方或者任一方的离子导入孔的中心轴方向与第二区域的离子导入孔的内部的离子的流动方向的轴不同，第一区域和第三区域的离子导入孔的轴具有偏心的位置关系。
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公开(公告)号：CN104040680A
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN201280066503.8
申请日：2012-12-21
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/24 , H01J49/0404 , H01J49/0431 , H01J49/062 , H01J49/26
Abstract: 本发明的课题在于防止离子的导入效率降低、减少清洗作业的时间和劳力。为了解决上述课题，本发明提供如下质量分析装置(1)，其特征在于，电极(13)的离子导入孔(14)被分割为第一区域(14-1)、第二区域(14-2)以及第三区域(14-3)，第一区域和第三区域双方或者任一方的离子导入孔的中心轴方向与第二区域的离子导入孔的内部的离子的流动方向的轴不同，第一区域和第三区域的离子导入孔的轴具有偏心的位置关系。
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公开(公告)号：CN106471600A
公开(公告)日：2017-03-01
申请号：CN201580031359.8
申请日：2015-06-15
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/24 , G01N27/62 , H01J49/0404 , H01J49/0422 , H01J49/067 , H01J49/165 , H01J49/34
Abstract: 本发明涉及鲁棒性高且能够进行高灵敏度且低噪声的分析的质谱仪。课题为防止离子的导入效率降低及抑制液滴等噪声成分的导入。特征在于，具有：生成离子的离子源；用真空排气单元排气且分析离子的质量的真空室；以及将离子导入真空室的离子导入电极(12)，离子导入电极后级细孔(36)、以及前级细孔(35)与后级细孔(36)之间的中间压力室(33)，中间压力室(33)的离子入口的截面积比前级细孔(35)的截面积大，前级细孔(35)的中心轴和后级细孔(36)的中心轴位于偏心的位置，中间压力室(33)的离子出口的截面积比入口的截面积小。(12)具有离子源侧的前级细孔(35)、真空室侧的
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公开(公告)号：CN105122051A
公开(公告)日：2015-12-02
申请号：CN201480020182.7
申请日：2014-04-10
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N27/62
CPC classification number: G01N30/7233 , G01N27/624 , H01J49/0027 , H01J49/004
Abstract: 分析系统具备：存储部，其存储使质谱分析结果信息和与离子迁移率分离有关的分析条件关联起来的第一信息；控制部，其将与某测定对象离子的质谱分析结果信息对应的上述第一信息的上述质谱分析结果信息所关联的上述分析条件决定为上述测定对象离子的第一分析条件。
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