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公开(公告)号：CN103293215A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310050829.8
申请日：2013-02-08
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N27/62
CPC classification number: H01J49/26 , H01J49/0031 , H01J49/0036
Abstract: 本发明提供一种质量分析系统。依赖于成分的挥发性和离子化趋势，测定的谱的强度和形状具有随着测定时刻的经过而迁移的趋势。针对以上课题，本发明的质量分析系统具有：质量分析部，对试样进行测定并输出质量谱；以及推测器，具有按每个成分以及测定时刻分配的含有信息的推测规则。推测器根据从质量分析部输出的质量谱，基于推测规则来推测与试样中有可能包含的多个成分之中的各成分对应的含有信息。
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公开(公告)号：CN102956433A
公开(公告)日：2013-03-06
申请号：CN201210273399.1
申请日：2012-08-02
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/0431
Abstract: 本发明提供一种质量分析装置及质量分析方法。实现高效地对试样进行离子化并且残留少的质量分析装置。通过对保持样本的试样容器的内部进行减压，来使顶空气体中的样本密度上升，高效地对样本进行离子化。
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公开(公告)号：CN109564190B
公开(公告)日：2021-02-26
申请号：CN201680088025.9
申请日：2016-08-19
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明的离子分析装置包括：用于将液体试样中的测量对象物质离子化的离子源；离子引导器，能够被导入在离子源中所产生的离子和液滴，该离子引导器的离子的排出口与液滴的排出口不同；分析从离子的排出口所排出的离子的离子分析部；配置于液滴的排出口的轴上的、测量液滴的量的液滴测量部；和比较由液滴测量部所测量的液滴的量与阈值的解析控制部。
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公开(公告)号：CN108603860B
公开(公告)日：2020-12-15
申请号：CN201780010707.2
申请日：2017-02-28
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N27/62
Abstract: 为了使具有离子迁移率分离部的分析装置具有高的耐久性和鲁棒性而具有：离子源、具备被施加高频电压和直流电压的一对对置的电极的离子迁移率分离部以及设置在离子源和离子迁移率分离部之间且被施加直流电压的屏蔽电极，屏蔽电极在内部具有连接导入来自离子源的离子的入口和排出离子的出口的离子流路，离子流路弯曲使得从入口见不到出口。
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公开(公告)号：CN104471671B
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201380037727.0
申请日：2013-06-14
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/0036 , H01J49/0009 , H01J49/0022 , H01J49/0027 , H01J49/26 , H01J49/4265
Abstract: 本发明提供一种质量分析装置以及方法。可以判别质量分析装置中的测定状态，自动地决定下次测定的测定方法。因此，在质量分析装置(1)中设置：第一计算部(6)，其计算质量谱的总离子量；第二计算部(6)，其计算从质量谱所出现的峰中选择出的代表峰的半值宽度；控制部(7)，其根据所述总离子量和所述代表峰的半值宽度，决定在下次测定中使用的测定方法。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103177928B
公开(公告)日：2015-12-09
申请号：CN201210570071.6
申请日：2012-12-25
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/105 , H05H1/2406 , H05H2001/245 , H05H2001/2456
Abstract: 本发明提供质量分析装置及质量分析方法，其能够同时实现有效的离子化和高灵敏度的质量分析。质量分析装置的特征在于，具备：离子源，包括第一电极、第二电极、和具有试样的导入部及排出部并且设置在所述第一电极与所述第二电极之间的电介质部；电源，对所述第一电极和所述第二电极的任一方施加交流电压，并且通过在所述第一电极与所述第二电极之间发生的放电对所述试样进行离子化；质量分析部，分析从所述排出部排出的离子；以及光照射部，对发生所述放电的区域照射光。
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公开(公告)号：CN103177928A
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：CN201210570071.6
申请日：2012-12-25
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/105 , H05H1/2406 , H05H2001/245 , H05H2001/2456
Abstract: 本发明提供质量分析装置及质量分析方法，其能够同时实现有效的离子化和高灵敏度的质量分析。质量分析装置的特征在于，具备：离子源，包括第一电极、第二电极、和具有试样的导入部及排出部并且设置在所述第一电极与所述第二电极之间的电介质部；电源，对所述第一电极和所述第二电极的任一方施加交流电压，并且通过在所述第一电极与所述第二电极之间发生的放电对所述试样进行离子化；质量分析部，分析从所述排出部排出的离子；以及光照射部，对发生所述放电的区域照射光。
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公开(公告)号：CN109564190A
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201680088025.9
申请日：2016-08-19
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N27/62
Abstract: 本发明的离子分析装置包括：用于将液体试样中的测量对象物质离子化的离子源；离子引导器，能够被导入在离子源中所产生的离子和液滴，该离子引导器的离子的排出口与液滴的排出口不同；分析从离子的排出口所排出的离子的离子分析部；配置于液滴的排出口的轴上的、测量液滴的量的液滴测量部；和比较由液滴测量部所测量的液滴的量与阈值的解析控制部。
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公开(公告)号：CN108603860A
公开(公告)日：2018-09-28
申请号：CN201780010707.2
申请日：2017-02-28
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N27/62
Abstract: 为了使具有离子迁移率分离部的分析装置具有高的耐久性和鲁棒性而具有：离子源、具备被施加高频电压和直流电压的一对对置的电极的离子迁移率分离部以及设置在离子源和离子迁移率分离部之间且被施加直流电压的屏蔽电极，屏蔽电极在内部具有连接导入来自离子源的离子的入口和排出离子的出口的离子流路，离子流路弯曲使得从入口见不到出口。
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公开(公告)号：CN104471671A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201380037727.0
申请日：2013-06-14
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/0036 , H01J49/0009 , H01J49/0022 , H01J49/0027 , H01J49/26 , H01J49/4265
Abstract: 本发明提供一种质量分析装置以及方法。可以判别质量分析装置中的测定状态，自动地决定下次测定的测定方法。因此，在质量分析装置(1)中设置：第一计算部(6)，其计算质量谱的总离子量；第二计算部(6)，其计算从质量谱所出现的峰中选择出的代表峰的半值宽度；控制部(7)，其根据所述总离子量和所述代表峰的半值宽度，决定在下次测定中使用的测定方法。
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