公开(公告)号：CN118243000A

公开(公告)日：2024-06-25

申请号：CN202410151900.X

申请日：2024-02-02

Applicant: 北京控制工程研究所

Inventor： 梁士通 ,  王立 ,  钟红军 ,  赵春晖 ,  李林 ,  莫亚男 ,  刘山山 ,  闫斯畅 ,  祝浩

IPC: G01B11/16

Abstract: 本发明提供了一种构件变形量检测方法及装置，其中方法包括：构件的观测位置表面设置有观测条纹，获取观测条纹在初始状态下的第一观测图像，以及获取观测条纹在观测状态下的第二观测图像；根据所述第一观测图像和所述第二观测图像，确定观测条纹在横向上对应的偏移方向；将所述第一观测图像和所述第二观测图像中的观测条纹进行对齐；根据观测条纹的对齐结果和所述偏移方向，测量并计算观测条纹向所述偏移方向偏移的变形量。本方案，能够准确测量计算出观测条纹向偏移方向偏移的变形量。

公开(公告)号：CN117889953A

公开(公告)日：2024-04-16

申请号：CN202410033902.9

申请日：2024-01-09

Applicant: 北京控制工程研究所

Inventor： 梁士通 ,  王立 ,  钟红军 ,  赵春晖 ,  余成武 ,  钟俊 ,  吴奋陟 ,  陈建峰 ,  王龙 ,  李林 ,  莫亚男 ,  张东来 ,  祝浩

IPC: G01J1/42 ,  G01J1/02

Abstract: 本发明涉及光照设备技术领域，特别涉及一种光束照度均匀性测试装置及方法。该装置包括沿光路行进方向依次设置的多个光源、多个平行光管和一个光学检测单元，每个光源均位于一个平行光管的入光侧，光源用于为平行光管提供照明，以使平行光管发出平行光束；光学检测单元包括一个聚光器、一个分束镜和两个光学探测器；聚光器用于将平行光束汇聚在分光镜上；分光镜用于对平行光束进行分束，得到两个分束光，一个分束光在第一光学探测器上形成第一光斑，另一个分束光在第二光学探测器上形成第二光斑；第一光学探测器设置于聚光器的基准焦平面；第二光学探测器设置于聚光器的焦面前半个波长的离焦处。本方案能够提高光束照度均匀性测试的效率。

公开(公告)号：CN117408271A

公开(公告)日：2024-01-16

申请号：CN202311344162.2

申请日：2023-10-17

Applicant: 北京控制工程研究所

Inventor： 盖芳钦 ,  梁士通 ,  王立 ,  史永敏 ,  左富昌 ,  孙秀清 ,  张俊 ,  张朋 ,  尹路 ,  祝浩

IPC: G06K7/10 ,  G06K7/14 ,  G01B11/00

Abstract: 本发明涉及航天移动测控技术领域，特别涉及一种航天测控光电编码器读数器安装位置校准方法及装置，其中方法包括：获取读数器所接收到的条纹图像；对第一行的像元传感数据进行电子细分，得到线阵图像；选取包含多个完整条纹的连续线阵片段，确定对应的电子细分数据数；估算单条纹所占电子细分数据数理论值；根据估算理论值和连续线阵片段对应的电子细分数据数，计算实际完整条纹数；根据实际完整条纹数和连续线阵片段对应的电子细分数据数，精确计算单条纹所占电子细分数据数；基于单条纹所占电子细分数据数及理论值，判断读数器是否安装到位。本发明能够快速确定光电编码器读数器是否安装到位，并指导调节读数器位置。

公开(公告)号：CN112880707A

公开(公告)日：2021-06-01

申请号：CN202110168770.7

申请日：2021-02-07

Applicant: 北京控制工程研究所

Inventor： 李林 ,  王立 ,  袁利 ,  郑然 ,  武延鹏 ,  王晓燕 ,  钟俊 ,  隋杰 ,  程会艳 ,  李玉明 ,  王苗苗 ,  张海力 ,  祝浩 ,  付有权

IPC: G01C25/00 ,  G01D21/02 ,  G06T17/20

Abstract: 本发明实施例提供一种对形变加载下获得的图像进行处理的方法，包括：从星敏感器的指向测量仪获取其所捕获的在应力应变作用下所成的图像；从图像中提取成像物体的三维模型以及利用传感器检测到的应力应变的方向和大小；建立三维模型的位移(x,y,z)与力矩r和角位移ψ的对应关系；利用有限元软件对成像物体的三维模型进行网格划分得到网格线和网格节点，利用多点约束方法和边界条件及成像物体的工况，确定成像物体的位于网格线或网格节点上的预设约束点的集合以及与成像物体相连接的物体上的应力施加点；根据对应力施加点施加的应力应变，计算成像物体的预设约束点上的应力应变。利用本发明技术方案可以准确标定星敏感器的指向测量仪。