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公开(公告)号：CN103487879B
公开(公告)日：2015-08-05
申请号：CN201310436090.4
申请日：2013-09-23
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 一种抑制高阶超模输出的七芯光子晶体光纤，属于光子晶体光纤技术领域。基于石英基质(1)，包层由石英基质上空气孔(2)六角周期排列构成，纤芯区为空气孔缺失形成的七个高折射率芯区。其特征在于，纤芯区掺杂增益离子，并且中间纤芯(3)的掺杂浓度大于周围纤芯(4)。空气孔的直径与空气孔的间距比值小于0.25。同时空气孔间距与光波长比值为4至7，以保证每个纤芯单模运转。
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公开(公告)号：CN103197366A
公开(公告)日：2013-07-10
申请号：CN201310080587.7
申请日：2013-03-13
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 基于异质结光栅的偏振滤波器及制备方法，属于偏振滤波器技术领域。在基底上的一维激光干涉图案由相邻的两种不同周期的金属激光干涉图案连接组成，两种激光干涉图案的条纹方向一致，两种不同周期的激光干涉图案的周期之比范围为0.6-1.5，入射光所在的激光干涉图案的周期范围为200nm-2000nm。将记录介质溶液旋涂在基底上，将两种不同周期的激光干涉图案分别与连续记录介质薄膜的两个相邻区域作用，显影、定影，将金属纳米颗粒溶胶旋涂在异质结纳米光栅结构上，加热即可。本发明方法无需使用昂贵的设备，成本低。
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公开(公告)号：CN101813645B
公开(公告)日：2011-11-16
申请号：CN201010108670.7
申请日：2010-02-05
Applicant: 北京工业大学
IPC: G01N23/207 , G01N23/225
Abstract: 纳米锆酸镧外延层与Ni-W衬底晶体取向匹配关系测试方法，属于超导薄膜性能测试技术领域，其特征在于，在热场发射扫描电镜SEM-电子背散射衍射仪EBSD分析测试系统中，调整二次电子放大倍率、扫描步进距离，使得能在加速电压最低为6kV条件下，用5nA的入射电子流，实现在一幅极图中，同时显示锆酸镧外延层和Ni-W衬底的织构，还在一幅菊池花样中，同时包含锆酸镧外延层和Ni-W衬底两相的菊池花样，在此基础上可用商用EBSD分析软件，测量出锆酸镧外延层与Ni-W衬底在面内和外延生长方向(c-轴)的晶体取向匹配关系，具有直观、简便，且不需要对锆酸镧进行表面预处理的优点，并适用于其它外延材料系统。
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公开(公告)号：CN101434438B
公开(公告)日：2011-08-17
申请号：CN200810227685.8
申请日：2008-11-28
Applicant: 北京工业大学
IPC: C02F3/30
Abstract: CAST分段进水同步脱氮除磷强化过程控制装置及方法属于SBR及其变型工艺污水生物脱氮技术领域。目前应用的CAST工艺脱氮除磷效果不理想。本发明装置包括有选择器、主反应区、进水泵、搅拌器、潜水搅拌器、回流污泥泵、曝气器、空气压缩机滗水器、排水阀、排泥阀、实时控制系统，传感器。所述的实时控制系统用于控制包括连接在进水泵、搅拌器、潜水搅拌器、回流污泥泵、空气压缩机、滗水器、排水阀以及排泥阀的时间继电器、计算机以及连接在计算机上的数据采集卡。本发明通过进水缺氧搅拌、进水厌氧搅拌、曝气、沉淀、排水，闲置工序实现同步脱氮除磷。本发明装置及方法具有脱氮除磷效果好，运行成本低，可实现智能化控制等优点。
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公开(公告)号：CN102095498A
公开(公告)日：2011-06-15
申请号：CN201010543824.5
申请日：2010-11-12
Applicant: 北京工业大学
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明是一种扫描式高精度傅立叶变换测量光谱的方法，属于计算机测量与光电子技术领域。本发明由嵌入式单片计算机、锁相倍频电路和液晶显示器组成。参考光的干涉信号经过放大倍频后，变成频率更高的脉冲信号去触发嵌入式计算机对被测光干涉信号的模数转换，然后进行傅立叶变换得到信号谱图在LCD上显示。再与参考光信号的频谱进行对比，可以计算出每一条被测光谱线的中心频率的准确值，并在LCD上显示。根据参考光干涉信号来触发被测光干涉信号的模数转换，可以完全抵消电机速度不稳定带来信号采集时基误差，使得光谱中心频率计算精确。通过嵌入式计算机完成信号采集、傅立叶变换、图形数字显示，使得光谱仪电子系统体积小、成本低、精度高。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101017123A
公开(公告)日：2007-08-15
申请号：CN200710064136.9
申请日：2007-03-02
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 本发明是一种加热消除绝缘陶瓷样品荷电效应的方法。该方法主要用于消除陶瓷类绝缘样品在电子束辐照下产生的荷电效应，达到在扫描电镜中直接对绝缘样品进行观察和分析的目的。本发明是在SEM中配置一个加热装置，而不改变SEM原有的真空系统、电子光学系统和电子信号探测系统。加热使绝缘样品的荷电效应逐渐减小和消除。由于加热是在高真空环境中进行的，因而减小了残余气体分子对入射电子的散射作用，避免了残余气体对样品表面的污染，从而提高了图像的质量。与通常的采用负电荷与正离子中和的方法来消除荷电效应的结果相比较，加热消除荷电可使非导电样品的二次电子像具有更好的图像衬度和信噪比，是一种简便、有效的荷电补偿方法。
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公开(公告)号：CN1873400A
公开(公告)日：2006-12-06
申请号：CN200610089512.5
申请日：2006-06-30
Applicant: 北京工业大学
IPC: G01N23/225
CPC classification number: H01J2237/2605
Abstract: 本发明中涉及一种环境扫描电镜中电荷环境的测量方法。该方法中采用一个高灵敏度的微小电流测试仪表(pA－表)和计算机，测量在电子束辐照下，在法拉第杯中，以及金属、半导体和绝缘体中的样品电流(ISC)，即空间电荷电流(ISP)，确定环境扫描电镜(ESEM)样品室中气体压力、气体离子化效率、离子化饱和度，以及气体对电子的散射率等。以此评价ESEM样品室内由电子流和离子流所控制的电荷环境，优化ESEM的成像条件，包括环境参数(压力、气氛、湿度)，以及操作参数(加速电压、工作距离等)，研究荷电补偿条件及荷电动态平衡条件，以获得高质量的图像。
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公开(公告)号：CN119666983A
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN202411943759.3
申请日：2024-12-27
Applicant: 北京城建勘测设计研究院有限责任公司 , 北京城建集团有限责任公司 , 北京工业大学
Abstract: 本发明涉及一种检测地铁盾构隧道壁后空洞的方法与系统，属于空洞检测技术领域，其中该方法，包括：在地铁隧道的管片上用记号笔标记所需要检测的点位；用回弹仪对点位进行击打，并使用加速度传感器采集该点位的振动信号；对每个点位的振动信号进行去噪处理得到去噪后的振动信号；对去噪后的振动信号进行时域转换，获得对应振动信号的频率域信号；基于去噪后振动信号的时域信号和所述频率域信号完成地铁盾构隧道壁后空洞的检测。本发明通过对采集到的数据进行去噪处理及频率域分析，可以有效地提高空洞检测结果的准确性，减少误判的可能性。
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公开(公告)号：CN114563841A
公开(公告)日：2022-05-31
申请号：CN202210190316.6
申请日：2022-02-28
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 一种封装集成一体的温度梯度增敏保偏光纤传感器，属于基于镀膜保偏光纤的多参量光纤传感器领域。在去掉涂覆层的保偏光纤包层表面通过脉冲激光沉积的方法镀近红外高透过率的ZnSe9:Co1纳米薄膜，使得传输光能量更集中在光纤表面。在ZnSe9:Co1纳米薄膜表面利用热蒸镀的方法镀银纳米薄膜，提高光纤的热膨胀系数。用PDMS填充毛细管封装镀膜保偏光纤，增加传感器整体热膨胀系数，最终实现温度梯度增敏的测量。
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公开(公告)号：CN104897700B
公开(公告)日：2017-09-22
申请号：CN201510315422.2
申请日：2015-06-10
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 在扫描电镜中对纳米液体样品的透射散射成像装置及方法属于电子显微分析装置技术领域，尤其涉及在扫描电镜SEM中对纳米液体样品的反射和透射散射成像技术领域，其特征在于，在SEM样品室内，在纳米液体样品的薄窗口正下方5mm～10mm处，安装一个透射散射电子探测器TSD，在入射电子能量为15keV～30keV的条件下，对密封液体中几nm～500nm的纳米颗粒形成分辨率为几nm、放大倍率为×50～×100000及像衬度好的透射散射电子像，TSD探测器适于安装在各类SEM中，与二次电子探测器ETD、能谱仪EDS和阴极荧光谱仪CL协同使用，观测金属、半导体、无机、有机、复合物、生物等类纳米材料。
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