一种基于空间调制偏振成像的极限带宽的确定方法

    公开(公告)号:CN111953423B

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN202010823051.X

    申请日:2020-08-17

    Abstract: 本发明提供的是一种基于空间调制偏振成像的极限带宽的确定方法。其过程包括:A1,由成像参数双折射晶体横向剪切量Δ,像元尺寸D,相机行列数N,成像焦距f,和入射光中心波长λ1通过公式a=ΔDN/(λf)计算出在频域中被调制的位置a1;A2,对a1进行向上取整为a2和向下取整为a3;A3,由成像参数双折射晶体横向剪切量Δ,像元尺寸D,相机行列数N,成像焦距f,和确定的频域位置a2和a3通过公式λ2=ΔDN/(a2×f)和λ3=ΔDN/(a3×f)分别计算出a2和a3代表的波长为λ2和λ3;A4,得到中心波长λ1所处的使解调信号不混叠的波段λ2~λ3;A5,在波段λ2~λ3中选择相应的带宽或重新确定中心波长。本发明可用于宽波段空间调制偏振成像中解调结果不混叠的入射光带宽的确定,可广泛用于宽波段偏振遥感成像等领域。

    一种基于微热板精确温控系统的超材料吸波器

    公开(公告)号:CN112713412B

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN202011522736.7

    申请日:2020-12-21

    Abstract: 本发明提供的是一种基于微热板精确温控系统的超材料吸波器。其特征是:包括硅基微热板1和VO2超材料吸波器2;硅基微热板1由接触电极3、4、5、6,承重梁7、8、9、10,一字梁11、12,腐蚀窗口13,加热电阻14,支撑膜15组成;VO2超材料吸波器2由金属底板层16,硅基底层17,VO2层18,金属内开口环19,金属外开口环20和硅基座21组成。本发明可用于温控超材料器件,例如超材料开关、超材料分束器、超材料滤波器、超材料调制器、超材料吸波器等,可广泛用于无线通信、传感、医学检测和诊断等领域。

    一种空间调制偏振成像检测像面长宽和像元长宽比的方法

    公开(公告)号:CN111953968B

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202010825528.8

    申请日:2020-08-17

    Abstract: 本发明提供的是一种空间调制偏振成像检测像面长宽和像元长宽比的方法。其过程包括:A1,对中心波长为λ1的入射光进行空间调制偏振成像,得到包含偏振信息的干涉图像;A2,对干涉图像进行变换在频域中找到中心波长λ1窄带宽入射光的Stokes矢量被调制的位置的坐标;A3,通过确定偏振信息在被调制后在频域中的位置参数计算出像元的平均长度;A4,分别计算出像元在行和列方向上的长度D1和D2;A5,通过D1和D2计算出成像相机整体在行和列上的长度,同时还能计算出像元的长宽比值,检测像元是否正确。本发明可用于相机像元尺寸的检测,可广泛用于成像设备制造检测等领域。

    一种基于空间调制偏振成像系统检测滤光片带宽的方法

    公开(公告)号:CN111982471A

    公开(公告)日:2020-11-24

    申请号:CN202010823317.0

    申请日:2020-08-17

    Abstract: 本发明提供的是一种基于空间调制偏振成像系统检测滤光片带宽的方法。其过程包括:A1,由待测滤光片的中心波长λ1和带宽d选择偏振成像系统的参数使得这个波段是系统解调的结果正好处在不混叠的极限波段;A2,使用标准的滤光片对偏振成像系统进行测试,并记录下使用标准滤光片后解调出来的偏振度DOP1;A3,对待测滤光片进行测试进行解调后得到相应的偏振度DOP2;A3,对得到的两个偏振度进行比较,如果两者相等则滤光片的带宽在限定的带宽之内,否者表示滤光片的带宽过大。本发明可用于滤光片带宽检测,可广泛用于光学滤波器件检测标定等领域。

    一种空间调制偏振成像对偏振片特定偏振角度检测的方法

    公开(公告)号:CN111964782A

    公开(公告)日:2020-11-20

    申请号:CN202010824785.X

    申请日:2020-08-17

    Abstract: 本发明提供的是一种空间调制偏振成像对偏振片特定偏振角度检测的方法。其过程包括:A1,对中心波长为λ的入射光进行空间调制偏振成像,得到包含偏振信息的干涉图像;A2,对干涉图像进行变换在频域中找到中心波长λ窄带宽入射光的Stokes矢量被调制的位置;A3,通过分析判断被调制位置上的信号是否是干扰确定Stokes矢量的数量和位置;A4,通过结合偏振片的偏振角度和频域中Stokes矢量是否存在判断偏振片的偏振角度是否正确,最后将偏振片调到正确的偏振角度。本发明可用于偏振片偏振角度的检测调节,可广泛用于偏振成像等领域。

    一种光栅尺标定装置及标定方法

    公开(公告)号:CN108801158A

    公开(公告)日:2018-11-13

    申请号:CN201810939618.2

    申请日:2018-08-17

    Abstract: 本发明提供一种光栅尺标定装置,包括运动台和测量装置,运动台处于封闭的微环境区域内,测量装置设置于运动台上;测量装置包括承载台;承载台上设置有4个读头,每个读头分别处于一四边形的顶点处;在每个读头的上方设置有一平面光栅;承载台的相对的两侧面的外侧各设置有一个第二反射镜,由第二平面延伸形成第四反射镜,承载台的另外两相对的侧面的其中一个侧面的外侧设置有第一反射镜;测量装置还包括第一干涉仪、第二干涉仪和第三干涉仪,第二干涉仪与第三干涉仪与第二反射镜同侧设置,第一干涉仪与第一反射镜同侧设置;测量装置还包括两第三反射镜,第二干涉仪与第三干涉仪发出的光线的一部分经第四反射镜反射进入到第三反射镜。

    一种基于太赫兹时域光谱仪的镜片缺陷的检测方法

    公开(公告)号:CN103926257A

    公开(公告)日:2014-07-16

    申请号:CN201410170968.9

    申请日:2014-04-25

    Abstract: 本发明为一种基于太赫兹时域光谱仪的镜片缺陷的检测方法,利用太赫兹时域光谱仪对镜片进行逐行扫描,获得镜片每个扫描点的反射系数S11和透射系数S21,由此计算得到各个扫描点的吸收率,分析各点吸收率,吸收率与正常不同的点为镜片缺陷点,所测镜片最大曲率为0.011/mm,镜片厚度为2~6mm。具体步骤为被测弯月透镜镜片的弧面与反射背景板相切,且镜片中轴线与反射背景板垂直;平镜镜片与反射背景板紧贴;太赫兹时域光谱仪对镜片逐行扫描,纵向步进和横向步进均为1~1.4mm。比较各点吸收率,与正常吸收率的差值大于设定值δ的扫描点,判断为缺陷点,本发明能够准确地检测镜片的微小的缺陷并且定位,检出率高,检测快捷,不受检测人员经验和状态的影响。

    MnAl合金磁性吸波材料及其制备方法

    公开(公告)号:CN103409669A

    公开(公告)日:2013-11-27

    申请号:CN201310350303.1

    申请日:2013-08-13

    Abstract: 本发明的MnAl合金磁性吸波材料,合金原子百分比为:37~72%Mn、28~63%Al,由包含下述主要步骤的方法制备而成:以纯度≥99.50%的Mn、Al金属为原料,在氩气保护下熔炼,铸锭在真空或氩气保护下于900℃~1100℃温度进行均匀化处理,磨粉后在200~600℃温度回火热处理。MnAl合金磁性吸波材料具有密度小,在2~18GHz微波波段内有较好的微波吸收特性,吸收频带宽,抗氧化性、耐腐蚀性和温度稳定性较好,而且不含Co、Ni和稀土等战略金属元素、制备工艺简单、原材料丰富和价格较低等特点。在磁性吸波材料中,本发明的MnAl合金磁性吸波材料更适用于制备具有吸收频带宽、吸波效率高、材料密度小、抗氧化和耐腐蚀性好、热稳定性好和成本低的微波吸收产品。

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