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公开(公告)号：CN115631186B
公开(公告)日：2023-10-03
申请号：CN202211393023.4
申请日：2022-11-08
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06T7/00 , G06T3/40 , G06V10/82 , G06V10/764 , G06V10/774 , G06V10/80 , G06N3/0464 , G06N3/048 , G06N3/084
Abstract: 一种基于双分支神经网络的工业元件表面缺陷检测方法，涉及缺陷检测技术领域。本发明是为了解决工业元件表面缺陷检测任务所面临的图像分辨率高、缺陷面积小、缺陷样本数量少、现有算法适应能力弱的问题。本发明包括：获取待预测的工业元件图像，将待预测的工业元件图像输入到表面缺陷检测网络中获得缺陷检测结果；表面缺陷检测网络，通过以下方式获得：构建工业元件表面缺陷分类数据集；对缺陷分类数据集增广，增广结果作为训练集；构建双分支深度卷积神经网络，利用训练集训练双分支深度卷积神经网络获得表面缺陷检测网络。本发明用于检测工业元件的表面缺陷。
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公开(公告)号：CN115623770A
公开(公告)日：2023-01-17
申请号：CN202211373329.3
申请日：2022-11-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于k近邻算法的直排式贴片机贴装路径优化方法，属于电器技术及电气工程领域。解决了贴片机对阵列式PCB板进行贴装时贴装路径规划效率低、贴装路径长的问题。本发明结合k近邻算法、引入欧式距离与切比雪夫距离，增加最短路径的搜索范围，从每个吸杆所对应的贴装点集中搜索选择贴装路径距离最小的贴装点作为该吸杆的最优贴装点输出，从而获得所有可用吸杆的最优贴装路径，得到整体贴装路径更短，提高了贴装效率。本发明主要用于对阵列式PCB板进行贴装。
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公开(公告)号：CN115551227A
公开(公告)日：2022-12-30
申请号：CN202211421781.2
申请日：2022-11-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种单动臂拱架型多功能贴片机供料器分配优化方法，属于表面贴装的供料技术领域。本发明针对现有不能根据实际工作情况对贴装点动态分配供料器，影响贴片效率的问题。包括：建立待贴装电路板的贴装点数据集及确定待贴装电路板尺寸坐标，确定机械参数，获取已注册供料器列表；确定可用供料器列表；对未分配供料器的贴装点，在当前贴装拾取周期遍历可用供料器列表中前基座可用供料器或后基座可用供料器进行供料器的分配，对每一次供料器分配结果进行评价指数的计算，根据评价指数计算结果确定当前贴装拾取周期贴装头的供料器拾取策略并拾取元件，在拍照检测合格后贴装元件；直到完成贴装作业。本发明用于供料器分配的优化。
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公开(公告)号：CN113850791B
公开(公告)日：2022-07-05
申请号：CN202111144411.4
申请日：2021-09-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06T7/00 , G06T7/73 , G06V10/764 , G06V10/774 , G06V10/82 , G06K9/62 , G06N3/04 , G06N3/08
Abstract: 一种基于两阶段MobileNet的卫浴陶瓷缺陷检测方法，涉及及工业自动化、人工智能及机器视觉领域。本发明是为了解决现有的卫浴陶瓷缺陷检测方法无法在满足检测准确率需求的同时满足检测速度需求的问题。本发明包括：将待检测的卫浴陶瓷图像输入到训练好的缺陷定位网络中获取待检测的卫浴陶瓷热图，并利用待检测的卫浴陶瓷热图提取待检测的缺陷定位结果；所述缺陷定位网络包括：缺陷定位网络的前级特征提取网络、多层卷积网络；所述缺陷定位网络的前级特征提取网络采用MobileNetV3的骨干网络；将获得的待检测的缺陷定位结果输入到训练好的缺陷分类网络中获得缺陷检测结果。本发明用于检测卫浴陶瓷是否有缺陷。
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公开(公告)号：CN113850335A
公开(公告)日：2021-12-28
申请号：CN202111144398.2
申请日：2021-09-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种用于卫浴陶瓷缺陷检测的数据增广方法，涉及缺陷检测领域。本发明是为了解决目前的卫浴陶瓷缺陷检测方法中对数据的扩增无法使训练集和数据集满足独立分布的先验假设进而导致卫浴陶瓷缺陷的检测能力低的问题。本发明包括：获取待生成图像的随机向量，并将待生成图像的随机向量输入到训练好的GAN网络中，获得增广后的卫浴陶瓷图像集；所述GAN网络包括：生成器、鉴别器；所述生成器用于利用随机向量生成卫浴陶瓷图像，包括：多层感知机、全连接层和卷积层、串联块；所述生成块包括：Modulation、Demodulation和卷积；所述串联块包括生成块和上采样块；所述待生成图像的随机向量采用混合高斯模型控制。本发明用于对卫浴陶瓷数据集增广进而进行卫浴陶瓷缺陷检测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110738695B
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN201910968493.0
申请日：2019-10-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于局部变换模型的图像特征点误匹配剔除方法，本发明涉及图像特征点误匹配剔除方法。本发明的目的是为了解决基于特征点匹配的图像配准过程中，特征点出现误匹配率高，现有剔除误匹配特征点方法准确率低的问题。过程为：一、对不同视角下拍摄相同场景的两张图像检测并描述特征点；二、得到初始特征点对集合；三、对初始特征点对集合进行分类和初步筛选；四、计算特征点集中每个特征点与所有特征点的欧式距离；五、如果类别号与特征点的类别号相同，则确定点对为内点，否则进行六判断是否为误匹配点；六、若误差大于10，则确定点对为误匹配点，并将其从点对集合中剔除，剔除后得到特征点对集合。本发明用于图像特征点匹配领域。
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公开(公告)号：CN111665725B
公开(公告)日：2021-06-08
申请号：CN202010591443.8
申请日：2020-06-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G05B13/04
Abstract: 一种量测数据随机缺失的机电定位系统鲁棒参数辨识方法，属于工业自动化及模型参数辨识领域。本发明针对现有机电定位系统参数辨识方法中，未考虑系统中存在的异常干扰数据，造成参数辨识精度低的问题。包括：采集电机负载端的位置信号，由所述位置信号，基于中心差分法获得负载的速度和加速度；并建立定位系统的逆动力学模型；在概率框架下，建立部分量测数据随机缺失时的机电定位系统鲁棒辨识模型；基于变分贝叶斯框架，推导得到待辨识参数和偏移量的迭代更新公式，当满足迭代更新的终止条件时，获得待辨识参数和偏移量的估计值。本发明用于机电定位系统的参数辨识。
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公开(公告)号：CN107451370B
公开(公告)日：2020-07-07
申请号：CN201710685979.4
申请日：2017-08-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/392 , G06T11/20 , G06T7/00
Abstract: 一种鲁棒性对称引脚型芯片的绘制方法，涉及一种对称引脚芯片的绘制方法。解决了现有芯片信息采集系统，对所采集的芯片参数信息的准确性无法直观观测的问题。本发明包括步骤一：根据实测芯片本体参数，绘制芯片本体矩形轮廓，此时，芯片本体的位置默认为初始位置；步骤二：根据实测芯片本体每条边上引脚个数、引脚长度、引脚宽度、相邻引脚间距和空位块信息，依次对芯片本体每条边上的引脚进行绘制；空位块信息包括每个空位块位置信息和空位块的个数；步骤三：根据实测芯片偏移量和旋转角度，对绘制完的芯片本体和引脚作为整体进行平移及旋转，从而完成了对对称引脚型芯片的绘制。主要用于对对称引脚进行绘制。
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公开(公告)号：CN107909613B
公开(公告)日：2020-05-22
申请号：CN201711124825.4
申请日：2017-11-14
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于顶点的矩形引脚元件定位方法，本发明涉及矩形引脚元件定位方法，为了解决贴片型矩形引脚元件在线定位算法鲁棒性弱，精度低，通用性差及实时性低的问题。本发明包括：一：得到模型元件信息；二：将元件分为两类；三：提取模型元件引脚的每个顶点的特征描述子；四：获取元件的真实图像并提取特征点；五：提取特征点所在的两条直线分别与X轴正方向的夹角；六：得到元件旋转角度；七：得到精确特征点位置；八：求取所有顶点所对应的精确特征点位置；九：得到实际元件引脚的顶点特征描述子；十：确定模型元件顶点和实际元件顶点对应特征点对的权重值；十一：求取芯片中心的最终位置和芯片的精确旋转角度。本发明用于芯片表面检测领域。
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公开(公告)号：CN107484341B
公开(公告)日：2019-05-17
申请号：CN201710687500.0
申请日：2017-08-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种自适应的不对称引脚型芯片的绘制方法，涉及一种不对称引脚芯片的绘制方法。解决了现有芯片信息采集系统，对所采集的芯片参数信息的准确性无法直观观测的问题。该方法包括步骤一：根据实测芯片本体参数，绘制芯片本体矩形轮廓，此时，芯片本体的位置默认为初始位置；步骤二：根据实测芯片本体每条边上引脚个数、引脚长度、引脚宽度和相邻引脚间距，依次对芯片本体每条边上的引脚进行绘制；所述引脚长度等于引脚根部长度与引脚足部长度之和；步骤三：根据实测芯片偏移量和旋转角度，对绘制完的芯片本体和引脚作为整体进行平移及旋转，从而完成了对不对称引脚型芯片的绘制。本发明主要用于对不对称引脚进行绘制。
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