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公开(公告)号：CN115963120A
公开(公告)日：2023-04-14
申请号：CN202111173185.2
申请日：2021-10-08
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/046 , G01V5/00
Abstract: 本公开的实施例涉及辐射检测技术领域，提供了一种检测设备，用于对被检物进行扫描检测，所述检测设备包括：检测通道，被检物通过检测通道进出检测设备；成像系统，用于对被检物进行扫描检测，成像系统包括：射线源，用于产生射线，射线源设置在检测通道的一侧，射线至少形成适于对被检物进行扫描检测的主束面；以及探测器，用于接收通过被检物的射线，探测器设置在检测通道的另一侧，在射线源与探测器之间形成检测区域；以及姿态调整结构，姿态调整结构设置在检测区域中，用于调整位于检测区域中的被检物的姿态，其中，被检物具有检测面，姿态调整结构能够调整被检物的姿态，使得检测面与主束面在同一平面内。
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公开(公告)号：CN114324424A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202111681959.2
申请日：2021-12-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/046 , G01V5/00 , H05K7/20
Abstract: 本公开提供一种散热结构，包括：支撑框架，用于绕其中心轴线旋转；发热源，布置在支撑框架上；以及散热器，其中散热器配置成从发热源接收被发热源加热的流体，并将冷却后的流体输入到所述发热源；其中散热器布置在支撑框架上相对于中心轴线的外周上，并且在所述支撑框架绕其中心轴线旋转时所述散热器允许空气从其进气开口进入，从出气开口排出。还提供检查设备。
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公开(公告)号：CN114114442A
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202111633627.7
申请日：2021-12-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00 , G01N23/046 , G01N23/10 , B65G23/24
Abstract: 本公开提供了一种传送装置，限定沿第一方向的传送通道，包括：支撑框架，所述支撑框架具有沿第一方向延伸的支撑面，所述支撑面用于沿支撑方向支撑被传送物品；在第二方向上，所述支撑面的靠近中线的区域相对于所述支撑面的靠近两侧的区域，沿支撑方向的反方向凹进，其中第二方向是第一方向的横向方向。还提供一种检查设备。
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公开(公告)号：CN111856600A
公开(公告)日：2020-10-30
申请号：CN202010482145.5
申请日：2020-05-29
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00 , G01N23/046
Abstract: 提供一种CT扫描设备，包括：支撑框架；可转动地安装在所述支撑框架上的滑环；驱动机构，安装在所述支撑框架上，并包括驱动轮；安装在所述支撑框架上的多个导向轮；以及围成封闭的周边的环形带，所述环形带与所述滑环、驱动轮和导向轮接触，使得所述驱动轮通过所述环形带驱动所述滑环和导向轮转动。所述滑环在所述周边的外侧与所述环形带接触。在安装、维修或者更换环形带时，无需完全拆除滑环外围的其它部件，可以显著缩短将环形带结合到滑环或者从滑环移除环形带的操作时间。
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公开(公告)号：CN119714886A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411944462.9
申请日：2024-12-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本公开提供了一种适用于测试滚子轴承额定寿命的轴承用试验设备，包括：支架，适用于装配待测试的轴承的外圈；回转体，同轴的装配于轴承的内圈，并被配置为随轴承的内圈同步旋转；以及加载机构，被配置为对回转体的轴向两端施加相同的力矩，并使轴承的内圈受到沿径向方向延伸的动载荷。试验设备配置的回转体可视为杠杆结构。回转体被配置为随轴承的内圈同步旋转，加载机构被配置为对回转体的轴向两端施加相同的力矩，从而使试验设备在运行过程中不产生弯矩。可使试验设备稳定、可靠且安全的运行。并且，对轴承所施加的沿径向方向的动载荷也不受支架与轴承的外圈连接部分的强度影响，为此，可施加更大的动载荷，从而大幅的缩短试验时间。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119519447A
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411733285.X
申请日：2024-11-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本公开提供了一种倍压电路模组、高压电源、X射线发生器和CT设备。倍压电路模组包括：M个电路板，M个电路板上分别设置有倍压电路中的多个电子元件的至少一部分，其中，M为大于等于3的正整数；和导电转接部。其中，M个电路板包围形成立体结构；以及M个电路板中相邻的电路板通过导电转接件电连接。
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公开(公告)号：CN119132677A
公开(公告)日：2024-12-13
申请号：CN202310693415.0
申请日：2023-06-12
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 提供了一种辐射屏蔽装置，该装置包括固定屏蔽构件和活动屏蔽组件。固定屏蔽构件适于被固定地安装并包括第一活动空间，所述第一活动空间被构造成允许辐射装置的出束部件能够在所述第一活动空间内移动以在到达目标位置后向被检测的对象发送射线；活动屏蔽组件适于与所述出束部件连接，并被配置为随着所述出束部件移动而相对于固定屏蔽构件移动，其中，在任一所述目标位置，所述活动屏蔽组件与所述固定屏蔽构件相配合以形成围绕所述出束部件的N层屏蔽层，N是大于或等于1的整数；其中，所述N层屏蔽层被配置为屏蔽所述射线向所述出束部件的出束方向之外的辐射。还提供了辐射屏蔽方法和安检设备。
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公开(公告)号：CN118937329A
公开(公告)日：2024-11-12
申请号：CN202411254714.5
申请日：2024-09-06
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本发明提供了一种夹具、检测系统及其检测方法，夹具包括：旋转基座；安装架，设于所述旋转基座的一侧；旋转机构，设于所述安装架；夹持机构，与所述旋转机构连接，所述夹持机构用于夹持工件；其中，所述旋转机构被配置为绕第一轴线转动，所述旋转基座被配置为绕第二轴线转动，所述旋转机构用于将所述工件的待检测部转动至预设位置，所述旋转基座用于驱动所述工件的待检测部相对于检测设备转动。本发明的夹具，旋转机构绕第一轴线转动，以将工件的任一待检测部转动至检测位，旋转基座绕第二轴线转动，以使工件的待检测部相对于检测设备转动一周，检测过程中，无需多次对工件进行装夹操作，有利于提升检测效率。
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公开(公告)号：CN118707613A
公开(公告)日：2024-09-27
申请号：CN202310288278.2
申请日：2023-03-22
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/226 , G01N23/04 , G01N23/046 , G01N23/207
Abstract: 本发明提供了一种检查设备及其检查方法、检查系统。检查设备包括透射成像装置，配置成构建被检查对象的透射图像；和衍射检测装置，配置成检测被检查对象的至少一部分的特性。透射成像装置限定检查通道。衍射检测装置能够移动至特定位置检测被检查对象的至少一部分衍射的辐射。
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公开(公告)号：CN118707612A
公开(公告)日：2024-09-27
申请号：CN202310286535.9
申请日：2023-03-22
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/226 , G01N23/04 , G01N23/046 , G01N23/207
Abstract: 本发明提供了一种检查设备、检查方法以及检查系统。检查设备包括：移动框架；透射成像装置，安装在移动框架上，限定沿第一方向延伸的检查通道，配置成能够构建位于检查通道上的被检查对象的透射图像；衍射检测装置，安装在移动框架上，配置成能够检测被检查对象的至少一部分的特性；其中移动框架能够承载透射成像装置和衍射检测装置沿第一方向移动。
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