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公开(公告)号：CN118067629A
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202410458517.9
申请日：2024-04-17
Applicant: 南京信息工程大学
Abstract: 本发明公开了一种基于热透镜效应的溶液浓度测量系统及测量方法，测量系统包括激光发射装置、具有待测溶液膜的成膜装置、显示装置、采集装置和控制器；成膜装置位于激光光路上，显示装置位于成像光路上,控制器与采集装置连接；激光发射装置用于向成膜装置发射激光；采集装置用于采集激光穿过不同浓度的待测溶液膜在显示装置上显示的图像数据，并将采集的图像数据传输到控制器；控制器用于对接收的图像数据进行特征提取，获得空间域特征和频率域特征；将空间域特征和频率域特征输入预先训练的基于BP神经网络的溶液浓度测量模型，得到溶液浓度。以此实现对待测溶液快速、准确和实时的测量。
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公开(公告)号：CN112436070B
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN202011381986.3
申请日：2020-12-01
Applicant: 南京信息工程大学
IPC: H01L31/113 , H01L31/0352 , H01L31/18
Abstract: 本发明公开了一种量子点异质结日盲紫外探测芯片及其制备方法，该芯片自下至上依次为基底、底栅电极、栅绝缘层、p型半导体层、本征层和n型半导体层，p型半导体层上设置有源电极，n型半导体层上设置有漏电极，p型半导体层、本征层和n型半导体层构成p‑i‑n异质结场效应沟道，该芯片的制备方法包括以下步骤：(1)在基底制备底栅电极；(2)制备栅绝缘层；(3)制备p型半导体层；(4)制备源电极；(5)制备宽禁带半导体量子点本征层；(6)制备n型半导体层；(7)制备漏电极。该芯片能够在提高内量子效率同时降低暗电流，加速分离光生电子和空穴，使光生电子和空穴分别快速转移到n区和p区，继而分别到达源电极和漏电极，提高其响应度。
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公开(公告)号：CN113074644B
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202110355600.X
申请日：2021-04-01
Applicant: 南京信息工程大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明公开了一种高速低成本光谱共焦位移测量方法及装置，装置包括控制器、照明模块、Y型光纤、探测模块、色散镜头、待测元件、标定模块；照明模块电动控制多组LED，提供覆盖全部可见光波段的光源；光源耦合入Y型光纤，出射光进入色散镜头被聚焦至待测元件表面，波长不同时聚焦光点位置不同，待测元件表面反射光返回Y型光纤；探测模块测量待测元件表面上时反射光光强；标定模块用于标定色散镜头位置与探测模块模拟电压信号之间的关系；控制器根据不同LED照明时的光强数据计算聚焦光点波长及其对应的待测元件表面位置信息。本发明通过使用多波长光源照明及高速点探测器方法，克服了传统光谱共焦技术使用光谱仪速度慢且成本高的缺陷。
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公开(公告)号：CN113074644A
公开(公告)日：2021-07-06
申请号：CN202110355600.X
申请日：2021-04-01
Applicant: 南京信息工程大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明公开了一种高速低成本光谱共焦位移测量方法及装置，装置包括控制器、照明模块、Y型光纤、探测模块、色散镜头、待测元件、标定模块；照明模块电动控制多组LED，提供覆盖全部可见光波段的光源；光源耦合入Y型光纤，出射光进入色散镜头被聚焦至待测元件表面，波长不同时聚焦光点位置不同，待测元件表面反射光返回Y型光纤；探测模块测量待测元件表面上时反射光光强；标定模块用于标定色散镜头位置与探测模块模拟电压信号之间的关系；控制器根据不同LED照明时的光强数据计算聚焦光点波长及其对应的待测元件表面位置信息。本发明通过使用多波长光源照明及高速点探测器方法，克服了传统光谱共焦技术使用光谱仪速度慢且成本高的缺陷。
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公开(公告)号：CN108732734B
公开(公告)日：2020-12-25
申请号：CN201810538683.4
申请日：2018-05-30
Applicant: 南京信息工程大学
IPC: G02B17/06
Abstract: 本发明公开了一种基于自由曲面的快焦比反射式长波红外取景器光学系统，包括两个自由曲面反射镜和一个长波红外响应面阵探测器。光线经过外置的入射光瞳，并依次经过两个自由曲面反射镜后，到达长波红外响应面阵探测器。现有用于取景器光学系统设计的离轴两反光学系统只能应用于可见光波段，其F数较大，无法应用于长波红外波段，且无法满足快焦比的高性能要求。本发明提出的一种基于光学自由曲面的快焦比反射式光学系统，能够实现高通量和高分辨率的结构紧凑和宽波段的长波红外取景器光学系统。该基于光学自由曲面的快焦比反射式长波红外取景器能够在微光或夜间复杂环境下进行目标探测与监控。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108227195B
公开(公告)日：2020-05-19
申请号：CN201711483411.0
申请日：2017-12-29
Applicant: 南京信息工程大学
Abstract: 本发明公开了一种离轴两反自由曲面光学系统，其特征在于：包含光瞳、第一自由曲面反射镜、第二自由曲面反射镜和微型图像显示器，光瞳、第一自由曲面反射镜、第二自由曲面反射镜和微型图像显示器的位置按光线传输方向分布，光线由光瞳出发经过第一自由曲面反射镜反射到达第二自由曲面反射镜，经过第二自由曲面反射镜反射后到达微型图像显示器，第一自由曲面反射镜采用复曲面，在X方向的曲率半径为123.025mm，在Y方向的曲率半径为194.906mm；第二自由曲面反射镜采用XY多项式自由曲面，顶点曲率半径为85.262mm。本发明能够实现大出瞳直径、小F数的离轴两反自由曲面头盔显示光学系统，具有结构紧凑、宽波段和轻量型等优点。
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公开(公告)号：CN109765242A
公开(公告)日：2019-05-17
申请号：CN201910036386.4
申请日：2019-01-15
Applicant: 南京信息工程大学
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开了一种高检测效率高分辨率的光滑表面质量测量装置，包括上位机、电子控制模块、低倍成像模块、调焦机构、高倍成像模块、样件夹持装置、Y轴电动平移台及X轴电动平移台；低倍成像模块对待测样件表面进行高速低倍成像，定位缺陷位置；高倍成像模块用于精确测量缺陷尺寸；调焦机构在由低倍放大镜头切换为高倍放大镜头时开始工作，保证测量平面位于镜头的景深范围内。本发明通过拍摄表面缺陷图片进行图像处理的方式获得缺陷的规格，相比人工检测技术显著提高了测量结果的准确性及重复性。本发明通过首先使用低倍镜头定位缺陷，然后使用高倍镜头测量缺陷尺寸的方式显著提高了测量的速度，相比一般机器视觉的方法效率更高。
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公开(公告)号：CN109714535A
公开(公告)日：2019-05-03
申请号：CN201910036331.3
申请日：2019-01-15
Applicant: 南京信息工程大学
Abstract: 本发明公开了一种基于色差的自动对焦机器视觉测量装置及方法，装置包括上位机、标定板、成像模块、照明模块、电动平移台、照明驱动模块、电机驱动模块和电源模块；待测物体放置于电动平移台上，电动平移台控制待测物体位置；照明模块轮流点亮不同中心波长处的LED，照明待测物体；上位机采集成像模块拍摄的图像信息；上位机在多幅图像中选择对比度最高的图像作为聚焦图像并进行后续图像处理。本发明通过控制光源波长代替电机移动，消除了聚焦过程中的震动，速度更快，可靠性更高，结构及控制简单，且成本较低，只需更换原装置中的镜头及照明光源即可，无需增加额外元器件，易于改进现有设备实现，有助于推广该技术的应用。
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公开(公告)号：CN108227195A
公开(公告)日：2018-06-29
申请号：CN201711483411.0
申请日：2017-12-29
Applicant: 南京信息工程大学
Abstract: 本发明公开了一种离轴两反自由曲面光学系统，其特征在于：包含光瞳、第一自由曲面反射镜、第二自由曲面反射镜和微型图像显示器，光瞳、第一自由曲面反射镜、第二自由曲面反射镜和微型图像显示器的位置按光线传输方向分布，光线由光瞳出发经过第一自由曲面反射镜反射到达第二自由曲面反射镜，经过第二自由曲面反射镜反射后到达微型图像显示器，第一自由曲面反射镜采用复曲面，在X方向的曲率半径为123.025mm，在Y方向的曲率半径为194.906mm；第二自由曲面反射镜采用XY多项式自由曲面，顶点曲率半径为85.262mm。本发明能够实现大出瞳直径、小F数的离轴两反自由曲面头盔显示光学系统，具有结构紧凑、宽波段和轻量型等优点。
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公开(公告)号：CN104833677A
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201510227560.5
申请日：2015-05-06
Applicant: 南京信息工程大学
IPC: G01N21/84
Abstract: 本发明涉及一种确定溶液晶体生长溶解度曲线的光学显微技术，使用微型溶液晶体生长装置来确定溶液晶体生长溶解度曲线，包括晶体生长槽和生长槽温度控制器，晶体生长槽上设有进气孔、出气孔和补料孔，首先在室温下量取适量晶体生长溶液，加入到微型溶液晶体生长装置的晶体生长槽中；称取晶体，从补料孔加入到晶体生长槽中；待晶体充分溶解，通过生长槽温度控制器缓慢的升高晶体生长槽内的温度，与此同时，通过显微镜观察晶体生长槽内晶体溶解情况。本发明的确定溶液晶体生长溶解度曲线的光学显微技术结合了晶体生长装置和显微技术，操作简单，易于观察，精度高，适用于多数无机、有机以及有机-无机杂合溶液晶体的测定。
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