公开(公告)号：CN221485536U

公开(公告)日：2024-08-06

申请号：CN202322922330.3

申请日：2023-10-30

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 刘玏 ,  赵阳 ,  聂永东 ,  孟冲 ,  李骥尧 ,  符佳佳 ,  李智 ,  马成英 ,  侯铁忠 ,  闫玉波 ,  李文周

IPC: G01R31/00

Abstract: 本发明提供一种单通道光耦的板卡级应用验证装置，包括测试板卡、输入单元、外围设备和控制单元，测试板卡包括电源表输入/输出信号接口和外围应用电路，待验证元器件安装在测试板卡上，电源表为测试板卡上的器件供电，外围应用电路将输出信号接口一端与待验证元器件连接另一端与对应的外围设置连接，将输入单元与输入信号接口连接；外围设备获取需要验证的技术指标，控制单元与外围设备和输入单元连接，通过NI库识别外围设备和输入单元的物理地址，实现控制单元、外围设备和输入单元的网络连接。本实用新型提高测试效率的同时，减少了人为操作引入的误差。

公开(公告)号：CN210863949U

公开(公告)日：2020-06-26

申请号：CN201921174734.6

申请日：2019-07-24

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 温恒娟 ,  陈覃 ,  李骥尧

IPC: G01R31/28 ,  G01R1/067

Abstract: 本实用新型提出混合集成电路老炼试验工装，包括老炼板、承载板、器件固定结构和测试结构，老炼板和承载板平行固定，两者之间存在一定空隙，器件固定结构和测试结构安装在承载板上，测试结构对称分布在器件固定结构两侧，器件固定结构固定待测器件。本实用新型采用了特殊的测试结构，金属弹簧探针与器件管脚柔性接触，在保证与器件管脚的有效接触的同时，避免了对管脚的伤害。