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公开(公告)号：CN114694741A
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：CN202011621286.7
申请日：2020-12-30
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G11C29/56
Abstract: 本发明提供一种并行测试装置和设计方法，包括待测芯片、测试机台、测试板和测试软件单元，所述的待测芯片有n个，并行安装在所述测试板上，所述测试板上设置有n个待测芯片安装位置，保证每个测试芯片的管脚与测试通道连接，从而实现每个测试芯片的管脚与所述的测试机台连接；所述的测试机台为测试芯片提供测试的电信号、数据的传输和测试软件单元安装的载体；所述的测试软件单元提供每个待测芯片的测试流程，并判断每个测试芯片的状态。本发明能够解决现有芯片检测耗时久、测试设备资源使用率不高等技术问题。
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公开(公告)号：CN108205106A
公开(公告)日：2018-06-26
申请号：CN201611170738.8
申请日：2016-12-16
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01R31/3185
Abstract: 本发明提供一种用于FPGA测试的实时配置方法，包括：步骤S101，建立FPGA与测试系统的电连接；步骤S102，将USB‑Blaster与测试系统进行连接，并将FPGA的JTAG接口与所述USB‑Blaster进行连接；步骤S103，调用配置子程序，选择USB‑Blaster下载配置文件；步骤S104，查找相应配置文件，启动配置操作；步骤S105，进行测试操作，测试完成后判断是否还有待测资源，如果有，则执行步骤S103。
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公开(公告)号：CN118860761A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202310468212.1
申请日：2023-04-26
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种基于应用验证平台的串行NORFLASH功能测试方法，该基于应用验证平台的串行NORFLASH功能测试方法包括：对用于串行NOR FLASH功能测试的应用验证平台进行分析，并确定所述应用验证平台的关键基础信息；对应用验证平台进行资源配置；确定拟对串行NORFLASH采取的功能测试算法；根据确定的功能测试算法，在应用验证平台上对串行NORFLASH进行功能测试。应用本发明的技术方案，能够提升现有技术中对串行NOR FLASH的功能检测覆盖率。
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公开(公告)号：CN110941218B
公开(公告)日：2021-02-26
申请号：CN201911258666.6
申请日：2019-12-10
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G05B19/042
Abstract: 本发明涉及一种CAN总线控制器测试方法，属于电子元器件检测技术领域，解决了现有技术中缺少能够实现较为全面的CAN总线控制器测试的问题。CAN总线控制器测试方法，所述方法包括以下步骤：获取当前测试模式并进入相应的工作模式；所述当前测试模式为报文发送测试模式、报文接收测试模式、睡眠测试模式、滤波测试模式、仲裁失效测试模式；通过CAN总线控制器RX端构建对应该工作模式的CAN总线环境，在所述对应该工作模式的CAN总线环境下进行对所述CAN总线控制器在相应工作模式下的测试。该方法充分利用CAN总线控制器的RX端，为芯片营造CAN真实工作环境，以完成对芯片相应功能的测试。
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公开(公告)号：CN112241388A
公开(公告)日：2021-01-19
申请号：CN201910646937.9
申请日：2019-07-17
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G06F15/78 , G06F11/22 , G01R31/3185
Abstract: 本发明涉及电子元器件检测技术领域，公开了一种基于FLASH和继电器的FPGA配置测试系统及方法。该系统包括：配置测试板；FLASH芯片，设置在所述配置测试板上，用于在测试过程中向FPGA芯片装载对应的配置文件；继电器，设置在所述配置测试板上与所述FLASH芯片连接，用于根据接收的配置指令执行切换操作来控制所述FLASH芯片的配置文件的装载；测试装置，用于对装载有配置文件的FPGA芯片进行测试。由此，可以通过继电器的切换控制配置FLASH芯片的数据装载，实现FPGA测试的多重实时配置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112241388B
公开(公告)日：2024-11-12
申请号：CN201910646937.9
申请日：2019-07-17
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G06F15/78 , G06F11/22 , G01R31/3185
Abstract: 本发明涉及电子元器件检测技术领域，公开了一种基于FLASH和继电器的FPGA配置测试系统及方法。该系统包括：配置测试板；FLASH芯片，设置在所述配置测试板上，用于在测试过程中向FPGA芯片装载对应的配置文件；继电器，设置在所述配置测试板上与所述FLASH芯片连接，用于根据接收的配置指令执行切换操作来控制所述FLASH芯片的配置文件的装载；测试装置，用于对装载有配置文件的FPGA芯片进行测试。由此，可以通过继电器的切换控制配置FLASH芯片的数据装载，实现FPGA测试的多重实时配置。
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公开(公告)号：CN118860752A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202310465226.8
申请日：2023-04-26
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种用于ACTEL公司SOPC器件的测试方法，该SOPC器件的测试方法包括：根据SOPC器件内部的总体架构，按模块统计SOPC器件的内部资源；对SOPC器件的内部资源按模块进行资源配置，生成相应的配置文件；根据配置文件对SOPC器件按模块进行测试程序的编写和编译，生成相应的测试工程文件；下载SOPC器件内部资源及相应的测试工程文件；根据测试工程文件对SOPC器件内部资源按模块进行功能测试。应用本发明的技术方案，能够解决现有技术中缺少对ACTEL公司SOPC器件的测试方法的技术问题。
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公开(公告)号：CN111104272B
公开(公告)日：2023-04-18
申请号：CN201911260122.3
申请日：2019-12-10
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明涉及一种基于RX和TX的CAN总线控制器测试方法，属于电子元器件检测技术领域，解决了现有技术中缺少能够实现较为全面的CAN总线控制器测试的问题。基于RX和TX的CAN总线控制器测试方法，所述方法包括以下步骤：获取当前测试模式并进入相应的工作模式；所述当前测试模式为报文发送测试模式、报文接收测试模式、睡眠测试模式、发送错误验证测试模式、接收错误验证测试模式或节点关闭测试模式；通过CAN总线控制器RX端构建对应该工作模式的CAN总线环境，在所述对应该工作模式的CAN总线环境下进行对所述CAN总线控制器在相应工作模式下的测试。该方法充分利用CAN总线控制器的RX端，为芯片营造CAN真实工作环境，以完成对芯片相应功能的测试。
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公开(公告)号：CN115206408A
公开(公告)日：2022-10-18
申请号：CN202110382692.0
申请日：2021-04-09
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种NOR FLASH存储器功能测试方法，对支持串行输入串行输出和串行输入并行输出逻辑功能测试方法的待测存储器，确定逻辑功能测试用的写入指令或读取指令的使用方法；选择功能测试类型及所用到的目标数据，对待测存储器的管脚进行分组定义；采用串入单出、串入双出、串入四出的方式执行对存储器的写入数据与读取数据的操作，实现对存储器功能测试。本发明所实现的对存储器的功能测试方法，能够更加全面、灵活、高效率地验证器件的功能。
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公开(公告)号：CN108205106B
公开(公告)日：2020-09-08
申请号：CN201611170738.8
申请日：2016-12-16
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01R31/3185
Abstract: 本发明提供一种用于FPGA测试的实时配置方法，包括：步骤S101，建立FPGA与测试系统的电连接；步骤S102，将USB‑Blaster与测试系统进行连接，并将FPGA的JTAG接口与所述USB‑Blaster进行连接；步骤S103，调用配置子程序，选择USB‑Blaster下载配置文件；步骤S104，查找相应配置文件，启动配置操作；步骤S105，进行测试操作，测试完成后判断是否还有待测资源，如果有，则执行步骤S103。
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