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公开(公告)号：CN113567832A
公开(公告)日：2021-10-29
申请号：CN202110771586.1
申请日：2021-07-08
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种电路板IO连通性的测试装置，测试装置包括测试控制模块、数据处理模块、数据校验模块、IO测试板。其中，数据处理模块通过IO接口信号连接至IO测试板，并配置输出IO管脚的电平状态，数据校验模块用于检测被测模块电路上任一路输入IO管脚的开路或短路的状态。本发明的测试装置用于电路板上MCU或FPGA芯片的IO与所连接的接插件的连通性测试，能准确检测出IO的开路或是相临两个IO的短路问题，快速定位电路板焊接或芯片IO失效问题，加快生产和测试效率。
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公开(公告)号：CN110489206A
公开(公告)日：2019-11-22
申请号：CN201910604602.0
申请日：2019-07-05
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明介绍一种具有禁止程序调试功能的仿真器，涉及到芯片安全调试技术领域。本发明的仿真器，包括仿真器控制模块和仿真器硬件模块。仿真器硬件模块中的调试模块包括调试寄存器模块、禁止调试模块和地址处理模块，仿真器控制模块通过对调试寄存器模块中的寄存器设置，实现运行、停止、单步、断点的调试操作。地址处理模块检测CPU模块的地址总线并输出禁止调试信号，禁止调试模块通过对CPU模块调试总线的控制实现禁止调试功能。本发明的仿真器，能有效保护程序代码及执行流程等安全敏感信息，为具有安全要求的芯片或芯片仿真器设计提供一种调试保护方案。
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公开(公告)号：CN106571156B
公开(公告)日：2018-09-18
申请号：CN201610970631.5
申请日：2016-10-28
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明介绍一种高速读写RAM的接口电路及方法,涉及到芯片仿真调试领域。本发明实现一个从设备的并行读写接口，包括数据总线和控制信号，控制信号包括时钟信号、读写信号、命令使能信号，接口电路包括IO接口模块、寄存器控制模块、RAM接口模块3部分组成，支持三种操作：配置地址操作、连续读RAM操作、连续写RAM操作。芯片仿真器通常采用RAM来仿真芯片的FLASH、EEPROM、ROM、RAM等存储器，本发明设计一种高速读写RAM的接口电路，可以加快芯片程序调试速度，提升开发效率。
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公开(公告)号：CN107908823A
公开(公告)日：2018-04-13
申请号：CN201710990267.3
申请日：2017-10-23
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
CPC classification number: G06F17/5054 , G06F9/44521
Abstract: 本发明涉及一种存储多个FPGA文件的装置及加载方法，其装置包括FPGA文件下载模块、通信单元、数据通路选择单元、FPGA文件存储单元、FPGA加载单元和FPGA单元。通信单元采用USB接口的控制器实现与FPGA文件下载模块的数据传输,负责把FPGA文件数据写入到FPGA文件存储单元；FPGA加载单元采用可编程CPLD实现FPGA文件的数据读取和FPGA单元配置；其方法包括在FPGA单元上电阶段，通过加载控制信号切换数据通路选择单元，把当前有效的FPGA文件数据加载到FPGA单元；其方法还包括FPGA文件下载模块可以下载新的FPGA文件，并发起重新配置FPGA单元的过程。这种装置及其方法充分利用FPGA的可配置特性，在一套装置上同时存储多个FPGA文件，实现多个FPGA文件的硬件功能，节约了硬件成本。
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公开(公告)号：CN104461859B
公开(公告)日：2017-07-11
申请号：CN201410427112.5
申请日：2014-08-27
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明介绍一种支持NVM软断点调试的仿真器和方法，涉及芯片仿真技术领域。仿真器包括仿真器调试模块和仿真器硬件，仿真器硬件主要包括芯片功能调试模块、CPU、芯片MMU、芯片NVM、芯片RAM、调试RAM等模块。仿真器调试模块将擦写程序和断点数据分别写入调试RAM的擦写程序RAM和断点存储RAM中，并依据断点数据将芯片NVM中断点地址的代码备份到断点存储RAM，控制CPU执行擦写程序将NVM中断点地址的代码写为断点指令，实现断点设置功能；将芯片NVM中断点指令改回断点存储RAM备份的代码，实现断点清除功能。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103914331A
公开(公告)日：2014-07-09
申请号：CN201210595918.6
申请日：2012-12-28
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明提出了一种支持多芯片配置功能的仿真器，其中包括仿真器配置模块和仿真器硬件。仿真器配置模块负责芯片仿真配置文件的选择、下载、及配置信息的设置；仿真器硬件通过下载配置模块和数据通路选择模块，把仿真器配置模块下传的数据写到存储器模块对应的芯片仿真配置文件区和配置信息区。下载完成后，控制模块依据当前配置信息区的内容，完成对芯片仿真模块的配置，实现芯片的仿真功能。仿真器配置模块可以灵活下载芯片配置文件区，读取当前仿真器硬件版本信息。在芯片研发阶段，该仿真器可以存储多个芯片仿真配置文件，便于问题定位，提高开发效率；特别是本发明可以在一套仿真器上，实现多个芯片的仿真功能，节约了成本。
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公开(公告)号：CN215814207U
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN202121875049.3
申请日：2021-08-11
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本实用新型公开了一种支持非接触时钟自适应功能测试的仿真器，仿真器通过仿真器管理模块和仿真器硬件实现能量通路选择和能量变化控制，提供给芯片仿真模块变化的能量，以实现芯片时钟自适应功能的测试。本发明仿真器支持非接触接口正常通信功能，同时支持能量随机变化的自适应功能测试要求。通过仿真器内部控制能量大小的变化，不需要人工或自动装置移动设备来改变能量的大小，操作简便节约成本，提高了开发和测试效率。
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公开(公告)号：CN216117887U
公开(公告)日：2022-03-22
申请号：CN202121552452.2
申请日：2021-07-08
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本实用新型公开了一种电路板IO连通性的测试装置，测试装置包括测试控制模块、数据处理模块、数据校验模块、IO测试板。其中，数据处理模块通过IO接口信号连接至IO测试板，并配置输出IO管脚的电平状态，数据校验模块用于检测被测模块电路上任一路输入IO管脚的开路或短路的状态。本发明的测试装置用于电路板上MCU或FPGA芯片的IO与所连接的接插件的连通性测试，能准确检测出IO的开路或是相临两个IO的短路问题，快速定位电路板焊接或芯片IO失效问题，加快生产和测试效率。
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公开(公告)号：CN217279559U
公开(公告)日：2022-08-23
申请号：CN202220746026.0
申请日：2022-03-31
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F11/26 , G06F11/263 , G01R31/28 , G06F8/61 , G06F9/445 , G06F21/62 , G06F21/60 , G06F13/16 , G06F11/14
Abstract: 本发明介绍一种支持程序固化的仿真器,应用于芯片仿真调试领域。本发明的仿真器由仿真器调试模块、备份存储器、芯片功能调试模块、芯片功能仿真模块组成，仿真器调试模块通过芯片功能调试模块向备份存储器下载程序数据，芯片功能调试模块在仿真器上电后从备份存储器加载程序数据到芯片功能仿真模块，并控制芯片功能仿真模块复位和运行。本发明的仿真器支持密文备份存储，实现对程序的安全保护；支持在线和非在线程序调试运行，便于软件的开发和测试，提高了芯片研发效率。
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公开(公告)号：CN212782027U
公开(公告)日：2021-03-23
申请号：CN202020749782.X
申请日：2020-05-09
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F30/20
Abstract: 本实用新型公开了一种支持掉电数据随机化的FLASH仿真器，仿真器包括FLASH接口处理模块、数据通路选择模块、掉电数据随机化模块、擦写控制模块、读控制模块和存储器模块。仿真器通过FLASH接口处理模块产生控制信号，在FLASH擦写高压使能信号有效期间，若掉电数据随机化模块检测到接口掉电，则按照FLASH掉电数据随机化原则生成新数据，并把此新数据写入存储器模块；若掉电数据随机化模块未检测到接口掉电，则把接口原数据写入存储器模块。本实用新型仿真器满足FLASH正常擦写读操作要求，支持FLASH擦写期间接口掉电数据随机化的功能，方便软件程序调试和接口掉电功能测试，提高了开发和测试效率。
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