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公开(公告)号：CN110489206B
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN201910604602.0
申请日：2019-07-05
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明介绍一种具有禁止程序调试功能的仿真器，涉及到芯片安全调试技术领域。本发明的仿真器，包括仿真器控制模块和仿真器硬件模块。仿真器硬件模块中的调试模块包括调试寄存器模块、禁止调试模块和地址处理模块，仿真器控制模块通过对调试寄存器模块中的寄存器设置，实现运行、停止、单步、断点的调试操作。地址处理模块检测CPU模块的地址总线并输出禁止调试信号，禁止调试模块通过对CPU模块调试总线的控制实现禁止调试功能。本发明的仿真器，能有效保护程序代码及执行流程等安全敏感信息，为具有安全要求的芯片或芯片仿真器设计提供一种调试保护方案。
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公开(公告)号：CN111597699A
公开(公告)日：2020-08-28
申请号：CN202010384232.7
申请日：2020-05-09
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F30/20
Abstract: 本发明公开了一种支持掉电数据随机化的FLASH仿真器，仿真器包括FLASH接口处理模块、数据通路选择模块、掉电数据随机化模块、擦写控制模块、读控制模块和存储器模块。仿真器通过FLASH接口处理模块产生控制信号，在FLASH擦写高压使能信号有效期间，若掉电数据随机化模块检测到接口掉电，则按照FLASH掉电数据随机化原则生成新数据，并把此新数据写入存储器模块；若掉电数据随机化模块未检测到接口掉电，则把接口原数据写入存储器模块。本发明仿真器满足FLASH正常擦写读操作要求，支持FLASH擦写期间接口掉电数据随机化的功能，方便软件程序调试和接口掉电功能测试，提高了开发和测试效率。
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公开(公告)号：CN110489206A
公开(公告)日：2019-11-22
申请号：CN201910604602.0
申请日：2019-07-05
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明介绍一种具有禁止程序调试功能的仿真器，涉及到芯片安全调试技术领域。本发明的仿真器，包括仿真器控制模块和仿真器硬件模块。仿真器硬件模块中的调试模块包括调试寄存器模块、禁止调试模块和地址处理模块，仿真器控制模块通过对调试寄存器模块中的寄存器设置，实现运行、停止、单步、断点的调试操作。地址处理模块检测CPU模块的地址总线并输出禁止调试信号，禁止调试模块通过对CPU模块调试总线的控制实现禁止调试功能。本发明的仿真器，能有效保护程序代码及执行流程等安全敏感信息，为具有安全要求的芯片或芯片仿真器设计提供一种调试保护方案。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107908823A
公开(公告)日：2018-04-13
申请号：CN201710990267.3
申请日：2017-10-23
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
CPC classification number: G06F17/5054 , G06F9/44521
Abstract: 本发明涉及一种存储多个FPGA文件的装置及加载方法，其装置包括FPGA文件下载模块、通信单元、数据通路选择单元、FPGA文件存储单元、FPGA加载单元和FPGA单元。通信单元采用USB接口的控制器实现与FPGA文件下载模块的数据传输,负责把FPGA文件数据写入到FPGA文件存储单元；FPGA加载单元采用可编程CPLD实现FPGA文件的数据读取和FPGA单元配置；其方法包括在FPGA单元上电阶段，通过加载控制信号切换数据通路选择单元，把当前有效的FPGA文件数据加载到FPGA单元；其方法还包括FPGA文件下载模块可以下载新的FPGA文件，并发起重新配置FPGA单元的过程。这种装置及其方法充分利用FPGA的可配置特性，在一套装置上同时存储多个FPGA文件，实现多个FPGA文件的硬件功能，节约了硬件成本。
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公开(公告)号：CN111597699B
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202010384232.7
申请日：2020-05-09
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F30/20
Abstract: 本发明公开了一种支持掉电数据随机化的FLASH仿真器，仿真器包括FLASH接口处理模块、数据通路选择模块、掉电数据随机化模块、擦写控制模块、读控制模块和存储器模块。仿真器通过FLASH接口处理模块产生控制信号，在FLASH擦写高压使能信号有效期间，若掉电数据随机化模块检测到接口掉电，则按照FLASH掉电数据随机化原则生成新数据，并把此新数据写入存储器模块；若掉电数据随机化模块未检测到接口掉电，则把接口原数据写入存储器模块。本发明仿真器满足FLASH正常擦写读操作要求，支持FLASH擦写期间接口掉电数据随机化的功能，方便软件程序调试和接口掉电功能测试，提高了开发和测试效率。
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公开(公告)号：CN109002416B
公开(公告)日：2022-03-22
申请号：CN201810670424.7
申请日：2018-06-26
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F15/78 , G06F1/3237
Abstract: 本发明公开了一种支持芯片低功耗调试的仿真器及方法，仿真器包括仿真器管理模块、调试模块、芯片功能模块和时钟模块4部分。在低功耗模式时，时钟模块产生调试模块和芯片功能模块中CPU_DBG模块使用的低频时钟；调试模块中的PMU模块检测芯片功能模块是否处于低功耗状态，并能正确响应仿真器管理模块发出的调试命令，保证在低功耗模式下调试接口正常通信。本发明的仿真器实现了低功耗模式的调试功能，在低功耗调试操作方面与真实芯片一致，有效避免程序开发时，因仿真器不支持低功耗调试而产生的设计问题。
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公开(公告)号：CN109002416A
公开(公告)日：2018-12-14
申请号：CN201810670424.7
申请日：2018-06-26
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种支持芯片低功耗调试的仿真器及方法，仿真器包括仿真器管理模块、调试模块、芯片功能模块和时钟模块4部分。在低功耗模式时，时钟模块产生调试模块和芯片功能模块中CPU_DBG模块使用的低频时钟；调试模块中的PMU模块检测芯片功能模块是否处于低功耗状态，并能正确响应仿真器管理模块发出的调试命令，保证在低功耗模式下调试接口正常通信。本发明的仿真器实现了低功耗模式的调试功能，在低功耗调试操作方面与真实芯片一致，有效避免程序开发时，因仿真器不支持低功耗调试而产生的设计问题。
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公开(公告)号：CN212782027U
公开(公告)日：2021-03-23
申请号：CN202020749782.X
申请日：2020-05-09
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F30/20
Abstract: 本实用新型公开了一种支持掉电数据随机化的FLASH仿真器，仿真器包括FLASH接口处理模块、数据通路选择模块、掉电数据随机化模块、擦写控制模块、读控制模块和存储器模块。仿真器通过FLASH接口处理模块产生控制信号，在FLASH擦写高压使能信号有效期间，若掉电数据随机化模块检测到接口掉电，则按照FLASH掉电数据随机化原则生成新数据，并把此新数据写入存储器模块；若掉电数据随机化模块未检测到接口掉电，则把接口原数据写入存储器模块。本实用新型仿真器满足FLASH正常擦写读操作要求，支持FLASH擦写期间接口掉电数据随机化的功能，方便软件程序调试和接口掉电功能测试，提高了开发和测试效率。
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