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公开(公告)号：CN116627858A
公开(公告)日：2023-08-22
申请号：CN202310395607.3
申请日：2023-04-13
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F13/10
Abstract: 本发明介绍一种支持异步通信接口的仿真器,涉及到芯片仿真调试领域。本发明的仿真器包括芯片功能调试模块、芯片功能仿真模块、寄存器模块、时序接口模块共4部份，复用芯片的系统RAM用于存放通信接口收发的数据，增加寄存器模块和时序接口模块，实现一个异步通信的并行主接口。仿真器采用了主从设备相互握手的异步并行的接口设计，兼容各种速度的接口设备的同时，最大程度的提升了通信速率。本发明设计一种支持异步通信接口的仿真器，可以实现调试功能的接口扩展，加快芯片程序的调试速度，提升开发效率。
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公开(公告)号：CN116610505A
公开(公告)日：2023-08-18
申请号：CN202310395479.2
申请日：2023-04-13
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明介绍一种异步通信接口电路及通信方法,涉及到芯片仿真调试领域。本发明实现一种异步通信的并行从接口，将外部接口信号转为内部接口信号，实现内部电路与外围设备的通信功能。本发明的接口电路包括接口控制模块、数据接收模块、数据发送模块、数据校验模块、异常处理模块、数据接收RAM、数据发送RAM共7部分，既支持数据通信功能，又支持数据校验及异常处理，提升了接口通信的可靠性。本发明的接口电路作为从接口支持向主设备发起传输请求，从而实现主动上传数据的功能。本发明的接口电路适用于FPGA或MCU芯片外部接口的功能扩展，提升对外接口的兼容性及传输速率，加快项目开发进度。
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公开(公告)号：CN109101386A
公开(公告)日：2018-12-28
申请号：CN201810665136.2
申请日：2018-06-26
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F11/26
Abstract: 本发明公开了一种支持RAM测试的仿真器，包括芯片功能调试模块、芯片功能模块、掉电产生模块、支持掉电测试的RAM模块4部分。掉电产生模块检测芯片功能模块的输出信号，产生掉电输入信号提供给支持掉电测试的RAM模块，在掉电输入信号的控制下，改变RAM模块中的RAM存储器的地址和数据的加解密方式，实现了芯片上电、RAM关电操作和RAM测试操作后，RAM存储器中原有数据读出发生改变的功能，从而支持在仿真器上对程序进行RAM测试的各种需求。本发明的仿真器与真实芯片RAM使用测试环境一致，能有效避免程序开发和芯片验证时，由于RAM差异而产生的设计问题。
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公开(公告)号：CN106571156A
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：CN201610970631.5
申请日：2016-10-28
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
CPC classification number: G11C7/1051 , G11C7/1078 , G11C7/22
Abstract: 本发明介绍一种高速读写RAM的接口电路及方法,涉及到芯片仿真调试领域。本发明实现一个从设备的并行读写接口，包括数据总线和控制信号，控制信号包括时钟信号、读写信号、命令使能信号，接口电路包括IO接口模块、寄存器控制模块、RAM接口模块3部分组成，支持三种操作：配置地址操作、连续读RAM操作、连续写RAM操作。芯片仿真器通常采用RAM来仿真芯片的FLASH、EEPROM、ROM、RAM等存储器，本发明设计一种高速读写RAM的接口电路，可以加快芯片程序调试速度，提升开发效率。
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公开(公告)号：CN106055382A
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201610352699.7
申请日：2016-05-26
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F9/455
CPC classification number: G06F9/45533
Abstract: 本发明公开了一种支持NVM掉电保护功能测试的仿真器，涉及到芯片仿真技术领域。仿真器包括仿真器管理模块和仿真器硬件，仿真器硬件包括调试/运行控制模块、接口上/下电检测模块、复位控制模块和芯片仿真模块。仿真器管理模块控制仿真器硬件工作在运行模式，若程序在执行NVM擦写过程中，发生接口下电则仿真器硬件立即处于复位态，直到接口重新上电后，执行掉电保护程序完成NVM擦写操作；仿真器管理模块控制仿真器硬件工作在调试模式，支持接口上电或下电时程序的调试。本发明的仿真器能满足NVM掉电保护功能测试的要求，在没有读卡器供电时也可进行程序调试，方便用户对各类应用程序的开发和测试，提高程序开发效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103914660B
公开(公告)日：2016-09-14
申请号：CN201210595915.2
申请日：2012-12-28
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F21/62
Abstract: 本发明介绍一种基于MMU实现数据保护的仿真器，涉及到芯片仿真技术领域。仿真器包括芯片功能调试模块、芯片功能模块、控制模块、寄存器、芯片MMU、FPGA MMU、接口模块、选择模块、存储器。芯片功能调试模块通过控制模块来控制芯片功能模块中的程序运行和存储器访问。在芯片MMU基础上增加RAM接口实现FPGA MMU，程序执行时修改寄存器内容，会同时改变两个MMU模块的功能，实现调试状态与芯片运行时MMU功能一致。本发明实现了存储器地址动态影射、数据实时保护的调试功能，为有安全要求的芯片仿真器设计提供一种数据保护解决方案。
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公开(公告)号：CN102955872A
公开(公告)日：2013-03-06
申请号：CN201110255447.X
申请日：2011-08-31
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明介绍一种具有参数传递功能的仿真器，涉及到芯片仿真技术领域。仿真器包括仿真器软件和仿真器硬件，其中仿真器硬件包括芯片功能模块、控制模块、选择模块、寄存器、存储器。仿真器软件通过控制模块将参数写入存储器，再由寄存器产生参数更新信号，触发芯片功能模块自动读取存储器中的参数；在仿真器软件控制下，芯片功能模块可以将芯片参数写入存储器，通过控制模块直接读出存储器里的参数。本发明使用存储器来传递参数，解决了仿真器软件和仿真器硬件参数传递时占用大量寄存器的问题，为仿真器软件与硬件相互传递参数提供了一种途径。通过本发明的参数传递方法实现的仿真器，增强调试功能，加快芯片开发进度，有利于芯片更快进入市场。
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公开(公告)号：CN113567832B
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202110771586.1
申请日：2021-07-08
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种电路板IO连通性的测试装置，测试装置包括测试控制模块、数据处理模块、数据校验模块、IO测试板。其中，数据处理模块通过IO接口信号连接至IO测试板，并配置输出IO管脚的电平状态，数据校验模块用于检测被测模块电路上任一路输入IO管脚的开路或短路的状态。本发明的测试装置用于电路板上MCU或FPGA芯片的IO与所连接的接插件的连通性测试，能准确检测出IO的开路或是相临两个IO的短路问题，快速定位电路板焊接或芯片IO失效问题，加快生产和测试效率。
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公开(公告)号：CN115879490A
公开(公告)日：2023-03-31
申请号：CN202110916497.1
申请日：2021-08-11
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种支持非接触时钟自适应功能测试的仿真器，仿真器通过仿真器管理模块和仿真器硬件实现能量通路选择和能量变化控制，提供给芯片仿真模块变化的能量，以实现芯片时钟自适应功能的测试。本发明仿真器支持非接触接口正常通信功能，同时支持能量随机变化的自适应功能测试要求。通过仿真器内部控制能量大小的变化，不需要人工或自动装置移动设备来改变能量的大小，操作简便节约成本，提高了开发和测试效率。
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公开(公告)号：CN114756422A
公开(公告)日：2022-07-15
申请号：CN202210337323.4
申请日：2022-03-31
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F11/26 , G06F11/263 , G01R31/28 , G06F8/61 , G06F9/445 , G06F9/455 , G06F21/62 , G06F21/60 , G06F13/16 , G06F11/14
Abstract: 本发明公开一种支持程序固化的仿真器及方法,应用于芯片仿真调试领域。本发明的仿真器由仿真器调试模块、备份存储器、芯片功能调试模块、芯片功能仿真模块组成，仿真器调试模块通过芯片功能调试模块向备份存储器下载程序数据，芯片功能调试模块在仿真器上电后从备份存储器加载程序数据到芯片功能仿真模块，并控制芯片功能仿真模块复位和运行程序。本发明的仿真器采用RAM仿真芯片NVM，提出了仿真器进行程序固化和加载运行的方法。本发明的仿真器支持密文备份存储，实现对程序的安全保护；支持在线和非在线程序调试运行，便于软件的开发和测试，提高了芯片研发效率。
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