SOI晶片的制造方法

    公开(公告)号:CN101978467A

    公开(公告)日:2011-02-16

    申请号:CN200980110193.3

    申请日:2009-03-23

    CPC classification number: H01L21/76254 H01L21/30608

    Abstract: 本发明提供一种制造SOI晶片的方法,该方法能够有效去除存在于离子注入层中的离子注入缺陷层,所述离子注入层位于通过离子注入剥离方法剥离的剥离表面附近;确保基板的面内均一性;还能实现低成本和高产量。所述制造SOI晶片的方法至少包括以下工序:将硅晶片或含有氧化膜的硅晶片与支撑晶片贴合以制备贴合基板的工序,所述硅晶片通过注入氢离子和/或稀有气体离子而形成离子注入层;沿所述离子注入层进行剥离,从而将所述硅晶片转印至所述支撑晶片上,制成剥离后的SOI晶片的工序;将所述剥离后的SOI晶片在氨-过氧化氢水溶液中浸渍的工序;对经过所述氨-过氧化氢水溶液浸渍的剥离后的SOI晶片施以900℃以上的热处理的工序;和/或通过10-50nm的CMP研磨,对所述经过氨-过氧化氢水溶液浸渍的剥离后的SOI晶片的硅膜层进行研磨的工序。

    具备氧化物单晶薄膜的复合晶片的制造方法

    公开(公告)号:CN107615449B

    公开(公告)日:2021-09-21

    申请号:CN201680032098.6

    申请日:2016-06-01

    Abstract: 本发明提供一种复合晶片及制造方法,复合晶片在支持晶片和氧化物单晶薄膜的贴合界面不易产生破裂或剥落,且在支持晶片上的整个面转印有作为钽酸锂或铌酸锂的氧化物单晶的薄膜。所述方法,其至少包括:从表面注入氢原子离子或氢分子离子,从而在氧化物单晶晶片的内部形成离子注入层的工序;对氧化物单晶晶片的经离子注入的表面和支持晶片的表面中的至少一者实施表面活化处理的工序;将氧化物单晶晶片的经离子注入的表面和支持晶片的表面贴合而获得接合体的工序;在90℃以上且不会产生破裂的温度下对接合体进行热处理的工序;以及对经热处理的接合体照射可见光,且沿着离子注入层剥离而获得被转印于支持晶片上的氧化物单晶薄膜的工序。

    复合基板、纳米碳膜的制作方法和纳米碳膜

    公开(公告)号:CN111403265A

    公开(公告)日:2020-07-10

    申请号:CN202010233868.1

    申请日:2015-12-16

    Abstract: 本发明涉及复合基板、纳米碳膜的制作方法和纳米碳膜。本发明提供一种纳米碳膜形成用复合基板的制造方法,其中,从单晶碳化硅基板的表面注入离子以形成离子注入区域,在该单晶碳化硅基板的离子注入面、以及操作基板的与单晶碳化硅基板贴合的表面分别形成薄膜,使得这些薄膜的合计膜厚为2nm以上且1μm以下,接着,将所述单晶碳化硅基板的离子注入面上的薄膜与操作基板上的薄膜贴合后,在所述离子注入区域剥离单晶碳化硅基板,使单晶碳化硅薄膜转印到操作基板上,进而对该单晶碳化硅薄膜进行研磨,从而获得的纳米碳膜形成用复合基板。

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