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公开(公告)号:CN109351079A
公开(公告)日:2019-02-19
申请号:CN201811317273.3
申请日:2018-11-07
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
CPC classification number: B01D46/0001 , B01D46/0002 , B01D46/0023 , B01D46/106 , B01D46/24 , B01D53/261
Abstract: 本发明公开了一种红外探测器杜瓦组件联通大气后隔离污染装置。用于红外探测器杜瓦组件开管放气后隔离污染装置主要由出气口接头、出气口盖板、滤网上压板、出气口滤网、滤网下压板、干燥剂放置架、灰尘过滤网、多孔通气管、外壳、进气口滤网、滤网压环、进气口接头、进气口盖板及干燥剂组成。本发明结构简单、可靠有效,解决了红外探测器杜瓦组件进行开管放气操作时灰尘及水汽混入组件内部的问题,具有保护组件探测器避免污染的功能。
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公开(公告)号:CN106370310A
公开(公告)日:2017-02-01
申请号:CN201610894040.4
申请日:2016-10-13
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
CPC classification number: G01J5/06 , G01J5/08 , G01J5/0875 , G01J5/10 , G01J5/20 , G01J2005/202
Abstract: 本发明公开了一种能抑制杂光均匀光通量的线列探测器封装结构及实现方法。它包括拼接式线列探测器、探测器拼接基板、探测器过渡基板、5个滤光片及“田”字型冷屏部件拼接成冷屏组件、辐射屏、5个“Z”字型内含6个分立通光孔的子光窗拼接形成的光窗组件、长线列杜瓦底板。本发明通过引入特定处理,使得拼接式线列红外探测器的30个子模块,对应“田”字型冷屏的30个细腰型”通光孔和超大光窗分立30个通光孔,实现相邻子模块探测器的光线物理隔离和光通量均匀性化,有效提高线列探测器的性能均匀性和提高了组件应用杂光抑制能力。本发明结构简单,操作方便,维修性好;本发明的大尺寸光窗组件制备方法可以减小光窗光学加工难度,提高了其成品率。
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公开(公告)号:CN102435321B
公开(公告)日:2014-08-13
申请号:CN201110354611.2
申请日:2011-11-10
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J5/02
Abstract: 本发明公开了一种用于分置式杜瓦热负载测试的高兼容多功能测试杜瓦,它适用于分置式大热负载工程杜瓦的热负载测试和制冷机耦合效果的测试。一种用于分置式杜瓦热负载测试的高兼容多功能测试杜瓦包括腔体帽、引线圆盘、密封卡环和法兰座等。本发明在高兼容多功能测试杜瓦方面引入特定的结构,通过装配置换和热等量法来实现了分置式工程杜瓦静态热负载精确测试。本发明的装置和实现方法简单,测试精度高,通用性强,成本低廉。本发明同样适用于工程制冷机不同制冷温度下制冷量的测试。本发明同样也适用于工程用制冷机冷指上弹性冷链或碳纸或其它耦合介质在不同制冷温度和不同传输冷量下温度梯度的测试。
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公开(公告)号:CN103344342A
公开(公告)日:2013-10-09
申请号:CN201310251713.0
申请日:2013-06-21
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J5/02
Abstract: 本发明公开了一种抗径向振动和冲击的冷平台低漏热支撑结构,适用于集成式制冷型红外探测器组件的封装技术。本发明的一种抗径向振动和冲击的集成式红外探测器杜瓦组件的冷平台低漏热支撑结构由与悬臂式外壳焊接的辅助支撑环和四根斜撑式的矩形截面的低漏热陶瓷棒组成。四根斜撑式的低漏热陶瓷棒以制冷机冷指气缸为中心,两两相邻呈90°均匀分布,它们与制冷机冷指气缸和辅助支撑环连接通过特殊处理的低温胶实现。本发明可以克服探测器工作时制冷机振动的影响,同时满足集成式红外探测器杜瓦组件航天或航空严酷的环境适应要求。本发明的结构简单,操作方便,成本低廉,漏热仅增加十几毫瓦。可应用于各种集成式或分置式杜瓦组件。
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公开(公告)号:CN102507012B
公开(公告)日:2013-04-17
申请号:CN201110354623.5
申请日:2011-11-10
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种分置式杜瓦不同制冷温度下热负载测试方法及装置。一种分置式杜瓦不同制冷温度下热负载测试装置主要由待测分置式工程杜瓦、高兼容多功能测试杜瓦、工程杜瓦适配制冷机、制冷机控制箱、功率计、制冷机工作供电电源、排气机、加热电源、加热电压计和加热电流计组成。本发明在高兼容多功能测试杜瓦方面引入特定的结构,通过装配置换和热等量法来实现了分置式工程杜瓦静态热负载精确测试。本发明的装置和实现方法简单,测试精度高,通用性强,成本低廉。本发明同样适用于工程制冷机不同制冷温度下制冷量的测试。本发明同样也适用于工程用制冷机冷指上弹性冷链或碳纸或其它耦合介质在不同制冷温度和不同传输冷量下温度梯度的测试。
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公开(公告)号:CN102507012A
公开(公告)日:2012-06-20
申请号:CN201110354623.5
申请日:2011-11-10
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种分置式杜瓦不同制冷温度下热负载测试方法及装置。一种分置式杜瓦不同制冷温度下热负载测试装置主要由待测分置式工程杜瓦、高兼容多功能测试杜瓦、工程杜瓦适配制冷机、制冷机控制箱、功率计、制冷机工作供电电源、排气机、加热电源、加热电压计和加热电流计组成。本专利在高兼容多功能测试杜瓦方面引入特定的结构,通过装配置换和热等量法来实现了分置式工程杜瓦静态热负载精确测试。本发明的装置和实现方法简单,测试精度高,通用性强,成本低廉。本专利同样适用于工程制冷机不同制冷温度下制冷量的测试。本专利同样也适用于工程用制冷机冷指上弹性冷链或碳纸或其它耦合介质在不同制冷温度和不同传输冷量下温度梯度的测试。
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公开(公告)号:CN101612693B
公开(公告)日:2011-09-14
申请号:CN200910055332.9
申请日:2009-07-24
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: B23K26/16
Abstract: 本发明公开了一种去除薄金属片在微细加工中产生的切屑的装置,它解决了对微小且不太平整的薄金属样品的可靠夹持和定向除屑的问题。本发明的装置主要由底座、顶盖、转接头、导气管、螺栓、压力气源等组成。将样品平整地放于底座小孔之上,盖上顶盖,拧上螺栓,依次连接转接头、导气管和压力气源。加工时将夹具放于激光器工作平台上,调整激光焦距和工艺参数后,打开压力气源。本发明的优点在于:结构简单,使用方便,针对不同形状的样品要求,只需要改变通孔形状。该夹具能夹持微小薄金属尤其是微小不平薄金属,且在加工过程中能定向除屑,提高微细加工质量。
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公开(公告)号:CN101793990B
公开(公告)日:2011-08-10
申请号:CN201010101835.8
申请日:2010-01-27
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本专利公开了一种矩形红外滤光片切割成型的加工方法,它适用于多波段红外探测器集成封装技术。矩形红外滤光片切割成型的加工方法的主要贴装件结构包括红外滤光片母材、辅助成型硅片、光刻胶、白蜡及对位刻线。本专利在红外滤光片的涂胶保护、刻画对位刻线、切割加工、洗除保护胶等方面引入特定的处理方法,通过特定的结构和操作步骤,实现矩形红外滤光片切割成型的加工方法,从而能够加工得到传统加工方法无法实现的小尺寸矩形红外滤光片,并且有效减少了红外滤光片的机械损伤及水对滤光片膜系的污染。
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公开(公告)号:CN101226925B
公开(公告)日:2011-02-16
申请号:CN200810033430.8
申请日:2008-02-01
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: H01L25/00 , H01L23/488
CPC classification number: H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 本发明公开了一种长线列红外焦平面探测器微型杜瓦组件的布线结构及其连接方法,它适用于对拼接式长线列红外焦平面探测器芯片的杜瓦封装。长线列红外焦平面探测器微型杜瓦组件的布线结构包括长线列红外探测器芯片、杜瓦的冷平台、两种通用的共用衬底。本发明通过在公用衬底上优化布线的方法来大幅度减少引出线的数量,从而大大降低了引线的热传导损失的冷量,降低了杜瓦组件的寄生热负载。
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公开(公告)号:CN101793990A
公开(公告)日:2010-08-04
申请号:CN201010101835.8
申请日:2010-01-27
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种矩形红外滤光片切割成型的加工方法,它适用于多波段红外探测器集成封装技术。矩形红外滤光片切割成型的加工方法的主要贴装件结构包括红外滤光片母材、辅助成型硅片、光刻胶、白蜡及对位刻线。本发明在红外滤光片的涂胶保护、刻画对位刻线、切割加工、洗除保护胶等方面引入特定的处理方法,通过特定的结构和操作步骤,实现矩形红外滤光片切割成型的加工方法,从而能够加工得到传统加工方法无法实现的小尺寸矩形红外滤光片,并且有效减少了红外滤光片的机械损伤及水对滤光片膜系的污染。
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