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公开(公告)号：CN214095945U
公开(公告)日：2021-08-31
申请号：CN202120361450.9
申请日：2021-02-09
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
IPC: G01B11/26
Abstract: 本实用新型公开了一种高精度正交回转轴测量装置，包括水平轴系和垂直轴系，垂直轴系包括竖轴轴承座、竖轴主轴、竖轴测角单元，水平轴系包括横轴轴承座、横轴主轴、横轴测角单元，横轴主轴与负载安装板连接，负载安装板上设有测量模块，横轴主轴和竖轴主轴的旋转轴线正交。本实用新型的优点：可以实现空间坐标高精度测量；采用流体润滑轴承作为正交回转轴线支承部件，实现了高回转精度，同时降低轴系跳动对系统测量精度的影响。
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公开(公告)号：CN213688244U
公开(公告)日：2021-07-13
申请号：CN202023348168.1
申请日：2020-12-31
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
IPC: G01B11/26
Abstract: 本实用新型涉及主轴\轴承性能检测技术领域，具体涉及一种回转轴系倾角检测装置；采用的技术方案是：一种回转轴系倾角检测装置，包括机架，所述机架上转动连接有可回转的测量摆台；所述测量摆台中部设有用于竖向安装被测轴系的安装孔，所述摆台一端设有自准直仪；所述安装孔上方从上往下依次设有折光镜和平面反射镜，所述折光镜用于将自准直仪发出的光线垂直射入平面反射镜，所述平面反射镜与安装孔端部平行。本实用新型可直接检测出轴系处于非立式安装状态时转子在重力作用下相对轴系外壳的倾斜程度，能够准确检测转子倾角，具有通用性好的特点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN212674090U
公开(公告)日：2021-03-09
申请号：CN202021147406.X
申请日：2020-06-19
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
Abstract: 本实用新型公开了一种回转轴六自由度的动态测量装置，包括机架、动力机构、数据采集系统和数据分析系统，机架上设置有测量机构和运动接头机构；数据采集系统与测量机构相连，对测量机构的测量数据进行采集；数据分析系统与数据采集系统相连，用于对数据采集系统采集到的数据进行分析；所述测量机构包括角度测量机构和位移测量机构；本实用新型在同一设备中就可完成回转轴的六自由度测量，解决了回转轴误差多平面分开测量和角度误差分开测量造成测量耗时多、测量过程繁杂等问题；具有测量效率高、结构简单、安装方便等优点，同时也大大降低了检测成本。
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公开(公告)号：CN210893056U
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：CN201921761247.X
申请日：2019-10-21
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
Abstract: 本实用新型公布了回转轴线几何精度检测所用位移传感器微调装置，该装置包括姿态微调单元、位置微调单元；所述姿态微调单元能进行传感器支架的姿态调节，以保证传感器支架与被测回转轴线平行；所述位置微调单元能分别进行位移传感器位置调整，以保证位移传感器始终对准标准棒上标准球的高点；所述位置微调单元通过螺钉与姿态微调单元固定连接。本实用新型的回转轴线几何精度检测所用位移传感器微调装置能有效降低传感器支架安装倾斜与位移传感器未对准标准球高点引入的测量误差，从而提高了回转轴线几何精度检测精度。
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公开(公告)号：CN213598409U
公开(公告)日：2021-07-02
申请号：CN202022680911.7
申请日：2020-11-18
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
Abstract: 本实用新型提供了一种基于密珠轴承的高精度正交回转轴系统，包括水平左密珠轴系、水平右密珠轴系和垂直密珠轴系；所述水平左密珠轴系和水平右密珠轴系镜像对称设置，且之间留有空隙，所述水平左密珠轴系和水平右密珠轴系均设在垂直密珠轴系顶部，所述垂直密珠轴系的轴承轴线位于水平左密珠轴系和水平右密珠轴系之间，且和水平左密珠轴系的轴承轴线相互垂直；所述水平左密珠轴系与水平右密珠轴系的轴承小径端部之间用于夹持测量模块。采用本方案，很大程度增加了轴系回转的精度和精密测量仪器的测量精度，还有利于降低热变形对于轴系精度的影响。
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公开(公告)号：CN213481705U
公开(公告)日：2021-06-18
申请号：CN202022858944.6
申请日：2020-12-02
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
IPC: G01M13/025 , G01M13/04 , G01M5/00
Abstract: 本实用新型公开了一种静压主轴\轴承用角刚度检测装置，涉及静压主轴\轴承性能检测技术领域，该装置包括检测平台、装载单元、加载单元和测量单元，装载单元上用于安装被测样品，并设置有与被测样品固定连接的检测棒，加载单元作用于被测样品，其载荷施加端处安装有用于检测施力大小的力传感器，测量单元包括对被测样品位移变化量进行测量的第一位移传感器以及对检测棒不同位置处位移变化量进行测量的第二位移传感器和第三位移传感器。本实用新型辅以单点力加载，三点位移测量的方法可以获得被测样品的角刚度，且多次多点测量可提高角刚度值的准确性和高价值参考性。
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公开(公告)号：CN209445979U
公开(公告)日：2019-09-27
申请号：CN201920399987.7
申请日：2019-03-27
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
Abstract: 本实用新型公开了一种平面轨迹测量装置，包括内部带有长光栅的测量杆，测量杆的两端分别连接小球Ⅰ、小球Ⅱ；运动接头组件包括用于连接在被测主轴上的磁力座、连接在磁力座下方的磁力接头，磁力接头的底部具有与小球Ⅰ相匹配的球窝；底座组件包括设置在工作台面上的旋转底座、转动连接在旋转底座上的磁力杆、固定套设在磁力杆外的圆光栅，磁力杆的顶部具有与小球Ⅱ相匹配的球窝。本实用新型利用长光栅与圆光栅分别记录测量点的位移值和角度值，不同于球杆仪的一维位移测量，采集的信息更多；将精密小球安装于磁性接头与磁力杆两个重复性接头之间，不同于平面光栅对测量平面的局限性，可实现空间任一平面的平面轨迹测量。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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