制造具有电阻尖端的半导体探针的方法

    公开(公告)号:CN100356542C

    公开(公告)日:2007-12-19

    申请号:CN200380110246.4

    申请日:2003-11-11

    CPC classification number: G01Q60/30 G01Q80/00 G11B9/1409

    Abstract: 提供了一种制造具有电阻尖端的半导体探针的方法。该方法包括:在掺杂第一杂质的基板上形成掩模层以及在未被掩模层覆盖的基板上形成用第二杂质重度掺杂的第一和第二半导体电极区,退火第一和第二半导体电极区,将第一和第二半导体电极区的第二参杂剂扩散到彼此面对的部分以在第一和第二半导体电极区的外边界形成用第二杂质轻度掺杂的电阻区,以预定的形状构图掩模层并蚀刻未被构图后的掩模层覆盖的基板的部分顶部表面来形成电阻尖端。

    铁电记录介质及其写入方法

    公开(公告)号:CN1822220A

    公开(公告)日:2006-08-23

    申请号:CN200610001111.X

    申请日:2006-01-11

    CPC classification number: G11B9/02 G11C11/5657 Y10S977/947

    Abstract: 本发明提供了一种铁电记录介质及其写入方法。该铁电记录介质包括:铁电层,当接收预定的矫顽电压时铁电层反转其极化;非易失性各向异性导电层,形成在铁电层上。当各向异性导电层接收低于矫顽电压的第一电压时,其电阻减小,当各向异性导电层接收高于矫顽电压的第二电压时,其电阻增大。通过铁电层的极化状态和各向异性导电层的电阻的结合来存储多位信息。因此,可在铁电记录介质的一个畴上表示多位信息。

    具有电阻尖端的半导体探针及其制造方法

    公开(公告)号:CN1747071A

    公开(公告)日:2006-03-15

    申请号:CN200510092417.6

    申请日:2005-08-18

    Abstract: 提供了一种具有电阻尖端的半导体探针以及该半导体探针的制造方法。所述方法包括:在掺杂了第一杂质的衬底上形成条形的掩模层,并通过用第二杂质重掺杂没有被该掩模层覆盖的衬底部分而形成第一和第二电极区;退火所述衬底从而减小第一和第二半导体电极区之间的间隙,并且在与半导体电极区邻接的部分形成轻掺杂了第二杂质的电阻区;形成与掩模层正交的条形的第一光致抗蚀剂,并且蚀刻掩模层使得掩模层具有正方形形状;在衬底上形成第二光致抗蚀剂从而覆盖第一光致抗蚀剂的一部分并限定悬臂区域;通过蚀刻而形成悬臂区域;以及去除光致抗蚀剂,并且通过蚀刻而形成具有半四棱锥形状的电阻尖端。

    利用自对准工艺制造具有FET沟道结构的SPM探针的方法

    公开(公告)号:CN1653620A

    公开(公告)日:2005-08-10

    申请号:CN03810213.7

    申请日:2003-04-26

    CPC classification number: G01Q60/30

    Abstract: 本发明公开了一种利用自对准工艺制造具有场效应晶体管(FET)沟道结构的扫描探针显微镜(SPM)的探针的方法。所提供的方法包括:第一步骤,在衬底上形成第一形状的掩膜层,并在衬底中的除了由掩膜层所遮盖的区域以外的区域中形成源极区和漏极区;第二步骤,沿垂直于掩膜层的方向构图第一形状的光阻材料,并进行蚀刻工艺,以形成第二形状的掩膜层;以及第三步骤,蚀刻衬底中的除了由掩膜层遮盖的区域以外的区域以形成探针。所提供的方法将尖端的中心与源极区和漏极区之间存在的沟道中心对准,以实现数十纳米大小的尖端。从而,利用具有尖端的这种探针可以轻易制造纳米器件。

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