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公开(公告)号：CN116472452A
公开(公告)日：2023-07-21
申请号：CN202180072774.3
申请日：2021-09-10
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明的荧光X射线分析装置所具有的排除机构(21)：对于基底层中不含测定元素的成分，针对每条相应的测定线，假定该成分单独构成薄膜来计算其附着量，将最大附着量设定为该成分的附着量的初始值；对于基底层中包含测定元素的成分，针对每条相应的测定线，基于基底层中不包含测定元素的每个成分的附着量的初始值来计算其附着量；在所有对应的测定线的计算结果均有误差的情况下，将该成分作为不能定量的成分从分析对象中排除，在除此以外的情况下，将最大的附着量设定为该成分的附着量的初始值。
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公开(公告)号：CN116304787A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202211563398.0
申请日：2022-12-07
Applicant: 株式会社理学
IPC: G06F18/24 , G06N3/044 , G06N3/0464 , G06N3/08 , G01N23/207 , G01N23/20 , G01N23/20008
Abstract: 根据本发明的一个方面，提供一种信息处理装置。所述信息处理装置包括控制部。控制部通过将与来自薄膜的X射线的强度相关的简档结果输入至神经网络，从而输出与薄膜相关的参数结果。神经网络是机器学习了教师数据的神经网络，所述教师数据将来自薄膜的X射线的强度相关的简档数据作为输入数据，并将与薄膜相关的参数数据作为输出数据。
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公开(公告)号：CN116182753A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202211448875.9
申请日：2022-11-18
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01B15/00
Abstract: 提供一种校正量确定装置、方法、记录介质以及夹具。校正量确定装置(300)具备：衍射数据存储部(310)，其存储衍射数据，衍射数据是对作为各向同性且无应变的晶体颗粒的集合体的标准试样照射X射线而得到的，包括相对于试样旋转角和试样表面高度的照射X射线的衍射角度的组合；对应关系决定部(320)，其基于衍射数据来决定第1对应关系；以及校正量确定部(330)，其通过第1函数来确定相对于希望的试样旋转角和衍射角度的试样表面高度的校正量。
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公开(公告)号：CN116165228A
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN202211449588.X
申请日：2022-11-18
IPC: G01N23/041 , G01N23/20
Abstract: 提供一种即使是大型的被摄体，也能够以非破坏的方式比较简便地取得各向异性原材料的取向信息的技术。一种结构信息取得方法和结构信息取得装置，从相位对比度X射线光学系统(2)的射线源(22)以沿着弯曲的各向异性原材料(12)的切线方向的方式朝向被摄体(1)照射X射线。接着，使用透射过被摄体(1)的X射线的检测信号得到散射像。基于该散射像，取得各向异性原材料(12)的结构信息。
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公开(公告)号：CN115508394A
公开(公告)日：2022-12-23
申请号：CN202210616976.6
申请日：2022-06-01
Applicant: 株式会社理学
Inventor： 虎谷秀穗
IPC: G01N23/2055
Abstract: 本发明提供一种结晶度测量装置，包括：测量图案获取单元，获取被测量出的、包含对象物质和其他已知被混合物质的样品的X射线散射图案；已知图案获取单元，获取被混合物质的已知X射线散射图案；结晶图案获取单元，基于所述样品的X射线散射图案，至少部分地获得包含于对象物质的结晶部分的X射线衍射图案；结晶积分强度计算单元，计算获得的结晶部分的X射线衍射图案相关的积分强度；对象物质积分强度计算单元，基于样品的X射线散射图案和已知X射线散射图案，计算对象物质的X射线散射图案相关的的积分强度；结晶度计算单元，基于结晶部分的X射线衍射图案相关的积分强度和对象物质的X射线散射图案相关的积分强度而计算对象物质的结晶度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114641687B
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202180006207.8
申请日：2021-02-24
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明的扫描型荧光X射线分析装置所具有的总分析时间显示机构针对分析对象的试样的每个品种，测定标准试样，该标准试样中，成分的含有率作为标准值而已知，针对与成分相对应的每个测定射线，求出测定强度。总分析时间显示机构进一步针对每个成分，使用标准值和测定强度，计算被指定的分析精度所得到的计数时间，并且计算作为各成分的计数时间的合计的合计计数时间。总分析时间显示机构计算作为该合计计数时间与合计非计数时间之和的总分析时间，输出已计算的总分析时间和已计算的各成分的计数时间。
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公开(公告)号：CN114813802A
公开(公告)日：2022-07-29
申请号：CN202210022651.5
申请日：2022-01-10
Applicant: 株式会社理学
Inventor： 刑部刚
IPC: G01N23/207 , G01N23/20016 , G01N23/20025
Abstract: 本发明在X射线装置中，防止衍射X射线强度的降低并防止背景噪声的增加。一种X射线分析装置，具备测角仪(104)、设置在测角仪(104)的旋转中心(OG)上的试料台(2)、向固定在试料台(2)上的试料(110)照射X射线的X射线源(F)、检测由所述试料衍射的X射线的X射线检测器(107)以及形成在一对遮蔽部件(3)之间且通过遮蔽部件(3)的开闭而使通过所述X射线的狭缝宽度可变的开闭机构，所述开闭机构具有非对称控制部件(4)，其相对于连接X射线源(F)或X射线检测器(107)和旋转中心(OG)的直线，由一侧的遮蔽部件(3)和另一侧的遮蔽部件(3)与测角仪(104)的旋转角度θ对应地不对称地控制遮蔽部件(3)的开口宽度。
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公开(公告)号：CN114787616A
公开(公告)日：2022-07-22
申请号：CN202080086958.0
申请日：2020-12-04
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明提供能考虑几何效应的影响进行高精度的定量分析的定量分析方法、定量分析程序和荧光X射线分析装置。一种定量分析方法包括：用于取得被设定为各分析成分含量的代表的代表组成的步骤、用于取得代表组成的分析成分的含量每个成分仅变更规定含量的多个比较组成的步骤、用于使用FP法计算表示具有预设的厚度并由代表组成和比较组成表示的虚拟样品在几何效应的影响下检测的荧光X射线的强度的检测强度的检测强度计算步骤以及用于基于检测强度而计算每个分析成分的基体校正系数的步骤，通过使用包含成分i的检测强度Ii、用于表示成分i的质量分率的Wi、用于表示共存成分j的质量分率的Wj、常数a、b和c以及用于表示成分i的共存成分j的基体校正系数的αj的校正曲线公式来计算αj。
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公开(公告)号：CN109709118B
公开(公告)日：2022-04-26
申请号：CN201811238458.5
申请日：2018-10-23
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/207 , G01N23/20008
Abstract: 本发明提供一种索勒狭缝、X射线衍射装置以及方法，即便在基于GIXD的测定中X射线照射区域在试料表面上展宽，检测器上的衍射像在面内方向也不会展宽，能够以短的测定时间且高的分辨率来进行测定。索勒狭缝(100)具备多个金属制的薄板(110)，所述多个金属制的薄板(110)各自相对于底面垂直，相互隔开规定的角度间隔被排列为拱形，使得从特定的焦点向放射方向通过X射线，该索勒狭缝(100)被设置于以掠入射X射线衍射用的角度被照射至试料并在试料面上被衍射的X射线以测角器圆的中心为特定的焦点来通过的位置而被使用。
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公开(公告)号：CN112204387B
公开(公告)日：2022-03-15
申请号：CN201980036260.5
申请日：2019-06-19
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223 , G01J4/04
Abstract: 本发明提供测量装置、测量方法和测量程序，能方便地输入其他测量装置获得的测量结果，并可防止输入错误。使用其它装置测量结果获得自己的测量结果，包括输出数据取得部，取得经其它测量装置得到的输出数据；指定位置取得部，输出数据中的用户指定位置；其它装置测量结果取得部，取得包含在输出数据取得部取得的输出数据中、指定位置的其它装置测量结果；测量结果取得部，使用取得的其它装置测量结果取得自己的测量结果；位置数据存储部，存储表示指定位置的位置数据，当输出数据取得部取得其它测量装置得到的其它输出数据时，如位置数据存储部中已存储位置数据，其它装置测量结果取得部取得该位置数据所表示的指定位置中的其它装置测量结果。
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