公开(公告)号：CN116698892A

公开(公告)日：2023-09-05

申请号：CN202310190251.X

申请日：2023-03-02

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 虎谷秀穗

IPC: G01N23/207 ,  G06T7/00

Abstract: 提供一种混合物的衍射图案分析装置，即使在仅一部分成分的衍射图案是已知的情况下，也能够算出这些成分的衍射图案的强度比。混合物的衍射图案分析装置使用包含与表示目标成分并且能根据形状参数进行形状变更的已知的目标图案相关的项、以及与表示剩余组的未知图案相关的项的拟合图案。在对所述形状参数赋予给定的值并且将所述未知图案设定为初始图案的状态下，使所述拟合图案与所述观测图案拟合。之后，通过变更所述未知图案，来使所述拟合图案与所述观测图案拟合。使用多个所述形状参数执行上述拟合，选择与任意一个形状参数相关的计算结果。

公开(公告)号：CN101403713A

公开(公告)日：2009-04-08

申请号：CN200810179920.9

申请日：2008-09-26

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 虎谷秀穗

IPC: G01N23/207

Abstract: 本发明提供一种采用平行射束法的X射线衍射方法，将平行射束X射线(24)照射至样品(26)，从该样品(26)产生的衍射X射线(28)通过反射镜(18)反射后由X射线检测器(20)进行检测。该反射镜(18)的反射面(19)的形状为在样品(26)表面上具有中心的等角螺旋。有助于反射的晶体晶格面在反射面(19)上任意位点处均平行于反射面(19)。X射线检测器(20)是在平行于衍射平面的平面内的1维位置感应型设备。而且，按照来自反射镜(18)的反射面(19)上多个不同位点的反射X射线(40)分别到达上述X射线检测器(20)的多个不同位点的方式，确定反射镜(18)和X射线检测器(20)之间的相对位置关系。该X射线衍射方法的角度分辨率高，使得X射线强度的降低得以减少，并且其构造也得到了简化。

公开(公告)号：CN109073574B

公开(公告)日：2021-06-25

申请号：CN201680082737.X

申请日：2016-12-22

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 虎谷秀穗 ,  姬田章宏

IPC: G01N23/207

Abstract: 本发明提供一种能够让用户容易地理解所选择的X射线光学系的测量的X射线分析的操作导向系统、操作导向方法、以及操作导向程序。具备：定性分析结果取得单元，其取得试样中所含有的多个结晶相的信息；重量比计算单元，其基于多个结晶相中的、进行了对洛伦兹偏振因子的补正后的衍射强度之和、化学式量、化学式单位中所包含的原子各自所属的电子的个数的平方和，来对所述多个结晶相的重量比进行计算。

公开(公告)号：CN115508394A

公开(公告)日：2022-12-23

申请号：CN202210616976.6

申请日：2022-06-01

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 虎谷秀穗

IPC: G01N23/2055

Abstract: 本发明提供一种结晶度测量装置，包括：测量图案获取单元，获取被测量出的、包含对象物质和其他已知被混合物质的样品的X射线散射图案；已知图案获取单元，获取被混合物质的已知X射线散射图案；结晶图案获取单元，基于所述样品的X射线散射图案，至少部分地获得包含于对象物质的结晶部分的X射线衍射图案；结晶积分强度计算单元，计算获得的结晶部分的X射线衍射图案相关的积分强度；对象物质积分强度计算单元，基于样品的X射线散射图案和已知X射线散射图案，计算对象物质的X射线散射图案相关的的积分强度；结晶度计算单元，基于结晶部分的X射线衍射图案相关的积分强度和对象物质的X射线散射图案相关的积分强度而计算对象物质的结晶度。

公开(公告)号：CN109073574A

公开(公告)日：2018-12-21

申请号：CN201680082737.X

申请日：2016-12-22

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 虎谷秀穗 ,  姬田章宏

IPC: G01N23/207

Abstract: 本发明提供一种能够让用户容易地理解所选择的X射线光学系的测量的X射线分析的操作导向系统、操作导向方法、以及操作导向程序。具备：定性分析结果取得单元，其取得试样中所含有的多个结晶相的信息；重量比计算单元，其基于多个结晶相中的、进行了对洛伦兹偏振因子的补正后的衍射强度之和、化学式量、化学式单位中所包含的原子各自所属的电子的个数的平方和，来对所述多个结晶相的重量比进行计算。

公开(公告)号：CN118032829A

公开(公告)日：2024-05-14

申请号：CN202311509238.2

申请日：2023-11-14

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 虎谷秀穗

IPC: G01N23/2055 ,  G01N23/20

Abstract: 一种结晶度测定装置，包含：X射线散射图案取得部，其取得包含对象物质的结晶部分和非晶质部分的试样的X射线散射图案；图案分解部，其从X射线散射图案取得所述结晶部分的衍射图案、以及连续图案；对象物质强度算出部，其基于X射线散射图案和所述对象物质的化学式信息，算出与所述对象物质相关的积分强度；对象物质图案算出部，其从所述连续图案算出包含所述结晶部分和所述非晶质部分的所述对象物质的散射图案；以及结构不规则参数决定部，其基于所述结晶部分的衍射图案和所述对象物质的散射图案，决定所述结晶部分的结构不规则参数。

公开(公告)号：CN114689627A

公开(公告)日：2022-07-01

申请号：CN202111353444.X

申请日：2021-11-16

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 虎谷秀穗

IPC: G01N23/20 ,  G01N23/2055

Abstract: 本发明提供一种混合物的衍射图案分析方法，包括以下步骤：获取X射线衍射的观测图案；使用第一强度比、第二强度比以及未知图案为拟合参数的拟合图案，该拟合图案包括表示目标成分的已知目标图案乘以所述第一强度比得到的项，以及表示由1个以上剩余成分构成的剩余组的所述未知图案乘以所述第二强度比得到的项；第一拟合步骤(S106)，在将所述未知图案设定为初始图案的状态下，通过变更所述第一强度比和所述第二强度比，来使所述拟合图案与所述观测图案拟合；以及第二拟合步骤(S107,S108)，在所述第一拟合步骤之后，限制所述第一强度比以及所述第二强度比的变更并变更所述未知图案，来使所述拟合图案与所述观测图案拟合。

公开(公告)号：CN101403713B

公开(公告)日：2012-06-13

申请号：CN200810179920.9

申请日：2008-09-26

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 虎谷秀穗

IPC: G01N23/207

Abstract: 本发明提供一种采用平行射束法的X射线衍射方法，将平行射束X射线(24)照射至样品(26)，从该样品(26)产生的衍射X射线(28)通过反射镜(18)反射后由X射线检测器(20)进行检测。该反射镜(18)的反射面(19)的形状为在样品(26)表面上具有中心的等角螺旋。有助于反射的晶体晶格面在反射面(19)上任意位点处均平行于反射面(19)。X射线检测器(20)是在平行于衍射平面的平面内的1维位置感应型设备。而且，按照来自反射镜(18)的反射面(19)上多个不同位点的反射X射线(40)分别到达上述X射线检测器(20)的多个不同位点的方式，确定反射镜(18)和X射线检测器(20)之间的相对位置关系。该X射线衍射方法的角度分辨率高，使得X射线强度的降低得以减少，并且其构造也得到了简化。