一种圆光栅编码器双读数头非对称安装偏心误差补偿方法

    公开(公告)号:CN114636387A

    公开(公告)日:2022-06-17

    申请号:CN202210240904.6

    申请日:2022-03-10

    Abstract: 本发明公开了一种圆光栅编码器双读数头非对称安装偏心误差补偿方法,通过模型函数对待估参数做线性近似,转化为线性最小二乘问题的原理,建立圆光栅偏心仿真模型得到偏心参数,计算速度快,结果准确;通过分析在理想状况下双读数头的测角误差补偿原理,建立双读数头对称安装的均值法误差补偿理想模型,加入实际情况下读数头之间存在的安装误差以及随机误差,进而对均值法误差补偿模型进行改进得到双读数头非对称安装误差补偿模型;最后将圆光栅偏心仿真模型求解得到的偏心参数代入双读数头非对称安装误差补偿模型中,消除实际测量中读数头安装误差对测角精度的影响,实现对圆光栅编码器非对称安装双读数头测角偏心误差的精准补偿。

    一种圆光栅编码器装配倾斜误差优化方法及系统

    公开(公告)号:CN114417532A

    公开(公告)日:2022-04-29

    申请号:CN202210074710.3

    申请日:2022-01-21

    Abstract: 本发明公开了一种圆光栅编码器装配倾斜误差优化方法及系统,基于圆光栅编码器承载零件的几何形状误差建立装配模型,计算装配的倾斜偏差,以初始装配位置为基准,将码盘安装轮毂相对于芯轴每旋转30°作为装配位置旋转一周,分析每个位置下的装配倾斜偏差,建立最优装配角度模型,找到最优装配角度,对圆光栅编码器装配角度的分析建模,通过对装配表面形状误差采样进而建立装配模型,提高测量效率和测量精度,基于最优装配角度模型,根据模型指导圆光栅承载零件的安装,使安装倾斜偏差降低,降低安装倾斜偏差对圆光栅编码器测角精度的影响,使测角精度提升,对于精密的圆光栅编码器测角系统而言具有显著效果和重要意义。

    一种基于两级分割单元的面片匹配并行方法

    公开(公告)号:CN115294188B

    公开(公告)日:2025-05-06

    申请号:CN202210951757.3

    申请日:2022-08-09

    Abstract: 本发明公开了一种基于两级分割单元的面片匹配并行方法,包括:步骤1:获取立体匹配对左、右图像;步骤2:把输入图像看作图结构,构建由分割单元组成的计算层S1和S2;步骤3:为每个像素随机初始化一个标签值;步骤4:在计算层S1中并行实现标签空间传播;步骤5:在计算层S2中并行实现标签平面细化;步骤6:重复步骤4)和步骤5)直到视差图收敛,获得左、右图像亚像素视差图;步骤7:利用左、右视差图检测不满足一致性约束的像素点视差值,并对其进行后处理操作;步骤8:利用双目相机的参数把视差图转化为深度图,得到场景的三维形貌。本发明实现了降低面片匹配算法计算时间复杂度、可高效并行计算和优化结果快速收敛的目的。

    基于摇篮式五轴机床的杯形圆弧砂轮磨削球面及误差补偿的方法

    公开(公告)号:CN119897777A

    公开(公告)日:2025-04-29

    申请号:CN202510335427.5

    申请日:2025-03-20

    Abstract: 本发明公开了基于摇篮式五轴机床的杯形圆弧砂轮磨削球面及误差补偿的方法,包括,获取磨削球面所需的各项尺寸和工艺参数,获取工件磨削球面的运动轨迹;基于摇篮式五轴机床,根据工件磨削球面的运动轨迹,通过杯形圆弧砂轮将待加工工件的端面磨削加工为球面工件;加工结束后,对球面工件的面形精度进行检测,测量球面工件的面形误差,从而计算杯形圆弧砂轮的位置误差,补偿并调整杯形圆弧砂轮的加工位置,重新计算工件磨削球面的运动轨迹,进行再次加工,直至球面工件的面形误差在允许范围内,加工完成,提高了球面加工效率,以及提高了球面半径的精度和解决了对刀磨损控制精度有限的问题。

    一种环零件的径向压力传感器及其标定方法

    公开(公告)号:CN118641091A

    公开(公告)日:2024-09-13

    申请号:CN202410738926.4

    申请日:2024-06-07

    Abstract: 本发明公开了一种环零件的径向压力传感器及其标定方法,属于检测仪器技术领域;径向压力传感器包括仿气缸套零件;所述仿气缸套零件为环型零件;仿气缸套零件的外壁上开设有弓形槽,弓形槽中心位置形成局部薄壁;弓形槽上安装有悬臂梁装置;所述悬臂梁装置的一端固定在弓形槽的一端,悬臂梁装置的另一端与弓形槽中心的局部薄壁接触;悬臂梁装置上还设置有应变片,能够根据应变片测得的应变大小得到环零件的径向压力。标定装置选用气压作为压力源,通过在气缸套内壁的薄壁位置安装密封罩,形成密封腔。根据不同压力下应变片的应变量。使用最小二乘法对压力与应变量进行直线拟合,得到压力与应变量的关系式,完成标定。

    一种圆弧槽中不完整圆弧面点云拟合方法

    公开(公告)号:CN118411468A

    公开(公告)日:2024-07-30

    申请号:CN202410522962.7

    申请日:2024-04-28

    Abstract: 本发明一种圆弧槽中不完整圆弧面点云拟合方法,包括:建立空间三维平衡kdtree数据结构;利用SVD分解法计算点云法向量;计算所有法向量与均值向量夹角的最大值,删除夹角小于最大值1/3的点;将剩余点云分为左右两部分并叉乘计算初始轴线方向;沿初始轴线方向投影点并计算投影点到拟合圆心点距离与半径差值的标准差;计算已知轴线及沿对应方向投影后的投影点到拟合圆心点的距离与半径差值的标准差;找出最小的Smin及方向向量#imgabs0#以#imgabs1#为轴线向量,重复,以最后一次的方向向量#imgabs2#为最终轴线方向,拟合圆心点的坐标和圆半径。本发明能够在无初始轴线方向向量的情况下,自行计算较好初始轴向方向向量和快速搜索计算最优轴线方向向量和结果。

    一种基于区域统计的条纹投影轮廓术条纹级数校正方法

    公开(公告)号:CN116793247A

    公开(公告)日:2023-09-22

    申请号:CN202310307475.4

    申请日:2023-03-27

    Abstract: 本发明公开了一种基于区域统计的条纹投影轮廓术条纹级数校正方法,包括:步骤1:搭建双目结构光系统,进行格雷码编码和相移编码图像生成、投影和采集;步骤2:计算包裹相位和条纹级数;步骤3:利用包裹相位值对像素分类,相位值大于等于0为M2,相位值小于0为M1;步骤4:以行为计算单元,M2中连续区域内像素条纹级数种类为2时,区域内所有像素条纹级数值取较小的;M1中连续区域内像素级数种类为2时,区域内所有像素条纹级数值取较大的;步骤5:根据条纹级数完成包裹相位展开;步骤6:利用双目视觉技术完成极线校正、立体匹配和深度图恢复。本发明实现了格雷码辅助多频相移法相位展开中条纹级数误差的快速、准确校正目的。

    一种自动整平热轧扁钢特征尺寸实时测量方法

    公开(公告)号:CN116213475A

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202310082417.6

    申请日:2023-02-08

    Abstract: 本发明提出了一种自动整平热轧扁钢特征尺寸实时测量方法及系统。应用多个线结构激光扫描测头组成扫描单元,对被测扁钢进行实时非接触全包围扫描,获得扁钢不同轴向位置的实际轮廓,通过等价椭圆算法球的截面质心,进行对中纠偏,顶点连线纠偏,对测的截面轮廓进行误差修正,对所有截面数据进行拼接,最终可以得到被扫描扁钢的三维轮廓数据。采用质心对齐及顶点连线纠偏的自动整平数据处理方法,可以基本避免扁钢振动,翻转造成的误差,最终获得高实际的扁钢的三维轮廓。垂直于扁钢三维轮廓的轴线方向截取横截面数据,可得到扁钢的特征尺寸,完成热轧扁钢的检测。

    一种直齿面齿轮参数在机测量与误差补偿方法

    公开(公告)号:CN115979170A

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN202310003928.4

    申请日:2023-01-03

    Abstract: 一种直齿面齿轮参数在机测量与误差补偿方法,包括:1)基于触发式测头测量原理得到直齿面齿轮齿面测量的网格点与测量路径;根据直齿面齿轮齿面曲率小的特点得到均布测点;根据机床X、Y轴运动误差的特点得到最优方螺旋型的测量路径;2)结合最优方螺旋型的测量路径,得到测量时测头延时误差、测头测量误差以及测量坐标误差;基于测头的测量原理得到测头三角形误差模型,最后整合标定得到总误差,从而得到补偿后的精确测量点坐标;3)以整个面齿轮齿面与理论轮廓的偏差作为齿面偏差,通过计算出齿面测量点实际位置与理论法向位置方向上的偏差来得到齿面的误差曲面,并进行精度等级评价。本发明解决了传统测量过程复杂、效率低和成本高等难题。

    一种高径厚比薄壁光学元件的层级材料去除制造方法

    公开(公告)号:CN115816228A

    公开(公告)日:2023-03-21

    申请号:CN202211435959.9

    申请日:2022-11-16

    Abstract: 本发明公开了一种高径厚比薄壁光学元件的层级材料去除制造方法,属于精密光学元件制造领域。针对高径厚比薄壁光学元件壁薄易碎难加工的难题,构建了新型薄壁斜面体层级材料去除模型,可对切削后元件研磨去除过程的材料去除效率及深度做定量化计算,精确指导材料的加工工艺参数规划;通过对研磨盘、工装夹具和工件进行运动学建模,计算获得工件相对于研磨盘的运动轨迹;结合材料接触去除特性和工艺参数去除过程理论计算得到材料的去除率。本发明适用于切削加工后斜面体零件在研磨机上进行研磨加工时采用不同加工参数下材料去除率的计算,同时也适用于根据材料去除率反推加工参数的计算,完成对高径厚比薄壁光学元件制造过程的精确控制。

Patent Agency Ranking