一种GMC400型密珠轴系用多源信号边缘采集与智能运维方法

    公开(公告)号:CN116628479A

    公开(公告)日:2023-08-22

    申请号:CN202310620060.2

    申请日:2023-05-29

    Abstract: 本发明公开了一种GMC400型密珠轴系用多源信号边缘采集与智能运维方法,通过使用智能边缘设备对GMC400型密珠轴系的多源传感数据进行同步采集,并利用边缘计算技术,对多源传感数据进行冗余数据降维、特征提取等处理,缓解了云计算压力,边缘计算结果将使用4G网络通过云数据库反馈到远程运维平台,平台基于BS架构,将进行装备的实时监控与报警、多源传感数据可视化展示,从而实现多源传感数据采集、传输、存储以及分析全方位智能运维,本发明可以对GMC400型密珠轴系中多源传感数据进行有效采集与运维,对于提升GMC400型密珠轴系运行精度具有重要作用。

    一种编码器标定数据扩增和误差补偿方法及装置

    公开(公告)号:CN115979181A

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN202310072491.X

    申请日:2023-01-17

    Abstract: 本发明公开了一种编码器标定数据扩增和误差补偿方法及装置,利用多个均匀布置的读数头进行角度测量并采集测角数据和校准数据;利用运动控制系统完成棱体转动,对校准数据进行扩增;依据测角数据的谐波特性对校准数据进行数据整合,建立角编码器测角误差补偿模型;将整合完成的误差数据带入建立的角编码器测角误差补偿模型中进行测角误差补偿,实现基于多读数头布置下编码器测角误差补偿。本发明采用高精度的自准直仪对圆光栅编码器进行误差校准并获取相应的校准数据,通过数据整合算法完成误差数据的整合,最后利用误差数据建立的测角误差的补偿模型,实现了多个读数头布局下的测角误差的高精度补偿。

    一种圆光栅编码器双读数头非对称安装偏心误差补偿方法

    公开(公告)号:CN114636387A

    公开(公告)日:2022-06-17

    申请号:CN202210240904.6

    申请日:2022-03-10

    Abstract: 本发明公开了一种圆光栅编码器双读数头非对称安装偏心误差补偿方法,通过模型函数对待估参数做线性近似,转化为线性最小二乘问题的原理,建立圆光栅偏心仿真模型得到偏心参数,计算速度快,结果准确;通过分析在理想状况下双读数头的测角误差补偿原理,建立双读数头对称安装的均值法误差补偿理想模型,加入实际情况下读数头之间存在的安装误差以及随机误差,进而对均值法误差补偿模型进行改进得到双读数头非对称安装误差补偿模型;最后将圆光栅偏心仿真模型求解得到的偏心参数代入双读数头非对称安装误差补偿模型中,消除实际测量中读数头安装误差对测角精度的影响,实现对圆光栅编码器非对称安装双读数头测角偏心误差的精准补偿。

    一种圆光栅编码器装配倾斜误差优化方法及系统

    公开(公告)号:CN114417532A

    公开(公告)日:2022-04-29

    申请号:CN202210074710.3

    申请日:2022-01-21

    Abstract: 本发明公开了一种圆光栅编码器装配倾斜误差优化方法及系统,基于圆光栅编码器承载零件的几何形状误差建立装配模型,计算装配的倾斜偏差,以初始装配位置为基准,将码盘安装轮毂相对于芯轴每旋转30°作为装配位置旋转一周,分析每个位置下的装配倾斜偏差,建立最优装配角度模型,找到最优装配角度,对圆光栅编码器装配角度的分析建模,通过对装配表面形状误差采样进而建立装配模型,提高测量效率和测量精度,基于最优装配角度模型,根据模型指导圆光栅承载零件的安装,使安装倾斜偏差降低,降低安装倾斜偏差对圆光栅编码器测角精度的影响,使测角精度提升,对于精密的圆光栅编码器测角系统而言具有显著效果和重要意义。

    一种圆光栅编码器装配倾斜误差优化方法及系统

    公开(公告)号:CN114417532B

    公开(公告)日:2024-04-16

    申请号:CN202210074710.3

    申请日:2022-01-21

    Abstract: 本发明公开了一种圆光栅编码器装配倾斜误差优化方法及系统,基于圆光栅编码器承载零件的几何形状误差建立装配模型,计算装配的倾斜偏差,以初始装配位置为基准,将码盘安装轮毂相对于芯轴每旋转30°作为装配位置旋转一周,分析每个位置下的装配倾斜偏差,建立最优装配角度模型,找到最优装配角度,对圆光栅编码器装配角度的分析建模,通过对装配表面形状误差采样进而建立装配模型,提高测量效率和测量精度,基于最优装配角度模型,根据模型指导圆光栅承载零件的安装,使安装倾斜偏差降低,降低安装倾斜偏差对圆光栅编码器测角精度的影响,使测角精度提升,对于精密的圆光栅编码器测角系统而言具有显著效果和重要意义。

    基于四轴数控铣床的涡旋盘体误差在机测量方法

    公开(公告)号:CN112729086A

    公开(公告)日:2021-04-30

    申请号:CN202011587817.5

    申请日:2020-12-28

    Abstract: 本发明基于四轴数控铣床的涡旋盘体误差在机测量方法,目的是解决涡旋盘加工过程中的三维体误差在位快速测量的难题。该测量方法如下:基于涡旋盘数控加工机床,铣刀与测头具有同一安装接口,铣削完成后,以换刀形式将铣刀替换为测头。该测头为三并联电感集成测头,安装标定后一次测量可以获得涡旋盘竖直方向上的三组检测数据,完成涡旋盘涡旋体误差评价。基于以上本发明对涡旋盘误差的在机测量方法,避免了涡旋盘在传统量仪上测量时重复装夹误差的影响,提高了测量效率和测量精度。基于三维涡旋体误差的评价,在加工中适时评价工件、装夹误差或刀具局部磨损对涡旋面引起的制造误差,弥补传统测量中仅对单个涡旋线进行误差评价的局限性。

    一种金刚石磨粒三维形貌表征与建模方法

    公开(公告)号:CN115205483A

    公开(公告)日:2022-10-18

    申请号:CN202210164289.5

    申请日:2022-02-22

    Abstract: 本发明公开了一种金刚石磨粒三维形貌表征与建模方法,包括步骤:步骤一:定义金刚石磨粒的几何模型,建立八面体边长和边长比与I型边边长和II型边边长之间的关系模型;步骤二:对金刚石磨粒进行测量,通过分析测量图像识别出金刚石磨粒的I型边和II型边;步骤三:通过分析测量图像得到I型边和II型边的边长,进而根据磨粒的几何模型计算得到金刚石磨粒的八面体边长和边长比;步骤四:对八面体边长和边长比进行统计分析,确定其分布形状和分布参数;步骤五:根据八面体边长和边长比的统计分布生成其随机数值,建立金刚石磨粒的十四面体几何模型。本发明解决了金刚石磨粒测量和建模精度不高的问题,突破了测量仪器对砂轮尺寸限制。

    一种圆光栅编码器主轴偏心误差补偿方法及系统

    公开(公告)号:CN115682917A

    公开(公告)日:2023-02-03

    申请号:CN202211021301.3

    申请日:2022-08-24

    Abstract: 本发明公开了一种圆光栅编码器主轴偏心误差补偿方法及系统,利用电容位移传感器均匀布置获取主轴轴线位移的瞬时矢量的原理,建立三点法误差分离模型,将标准球的圆度误差和主轴的径向回转误差分离,进而得到准确的主轴径向回转误差,采用高精度的自准直仪对圆光栅编码器进行校准,以多次测量的均值作为系统误差对圆光栅编码器进行角度补偿,通过角度补偿的方式,圆光栅编码器在消除了系统误差之后的测角精度达到了±1.62″,相对于标称精度±2.79″提升了两个角秒,本发明可以有效消除主轴安装偏心对于圆光栅测角准确性的影响,对于提升圆光栅编码器测角精度具有重要意义。

    基于四轴数控铣床的涡旋盘体误差在机测量方法

    公开(公告)号:CN112729086B

    公开(公告)日:2022-03-08

    申请号:CN202011587817.5

    申请日:2020-12-28

    Abstract: 本发明基于四轴数控铣床的涡旋盘体误差在机测量方法,目的是解决涡旋盘加工过程中的三维体误差在位快速测量的难题。该测量方法如下:基于涡旋盘数控加工机床,铣刀与测头具有同一安装接口,铣削完成后,以换刀形式将铣刀替换为测头。该测头为三并联电感集成测头,安装标定后一次测量可以获得涡旋盘竖直方向上的三组检测数据,完成涡旋盘涡旋体误差评价。基于以上本发明对涡旋盘误差的在机测量方法,避免了涡旋盘在传统量仪上测量时重复装夹误差的影响,提高了测量效率和测量精度。基于三维涡旋体误差的评价,在加工中适时评价工件、装夹误差或刀具局部磨损对涡旋面引起的制造误差,弥补传统测量中仅对单个涡旋线进行误差评价的局限性。

    一种基于两级分割单元的面片匹配并行方法

    公开(公告)号:CN115294188B

    公开(公告)日:2025-05-06

    申请号:CN202210951757.3

    申请日:2022-08-09

    Abstract: 本发明公开了一种基于两级分割单元的面片匹配并行方法,包括:步骤1:获取立体匹配对左、右图像;步骤2:把输入图像看作图结构,构建由分割单元组成的计算层S1和S2;步骤3:为每个像素随机初始化一个标签值;步骤4:在计算层S1中并行实现标签空间传播;步骤5:在计算层S2中并行实现标签平面细化;步骤6:重复步骤4)和步骤5)直到视差图收敛,获得左、右图像亚像素视差图;步骤7:利用左、右视差图检测不满足一致性约束的像素点视差值,并对其进行后处理操作;步骤8:利用双目相机的参数把视差图转化为深度图,得到场景的三维形貌。本发明实现了降低面片匹配算法计算时间复杂度、可高效并行计算和优化结果快速收敛的目的。

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