基板处理装置
    11.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107564836B

    公开(公告)日:2021-01-05

    申请号:CN201710523906.5

    申请日:2017-06-30

    Abstract: 公开了一种基板处理装置。基板处理装置包括:旋转头;支撑轴,其与旋转头的下部连接以支撑旋转头;销,其位于旋转头的上表面上以支撑基板并且在其内部具有空间;和喷嘴构件,其被构造成向位于旋转头上的基板供应液体。

    利用等离子体的基板处理装置和方法

    公开(公告)号:CN117174562A

    公开(公告)日:2023-12-05

    申请号:CN202210595709.5

    申请日:2022-05-26

    Abstract: 本发明提供能够改善线边缘粗糙度(LER)的基板处理装置和方法。所述基板处理装置包括:等离子体生成空间,其配置在电极与离子阻滞件之间;处理空间,其配置在离子阻滞件的下方,并用于处理基板;第一气体供给模块,其向所述等离子体生成空间提供用于生成等离子体的第一气体;以及第二气体供给模块,其向所述处理空间提供未被激发的第二气体,所述第一气体是含氢气体,所述第二气体包括含氮气体,所述基板包括含碳的光刻胶图案。

    利用等离子体的基板处理装置及方法

    公开(公告)号:CN114156152A

    公开(公告)日:2022-03-08

    申请号:CN202110972940.7

    申请日:2021-08-24

    Abstract: 本发明提供能够控制根据基板的位置的蚀刻率和/或均匀度的、利用等离子体的基板处理装置及基板处理方法。所述基板处理装置包括:第一空间,布置在电极与离子阻挡器之间;第二空间,布置在所述离子阻挡器与喷头之间;处理空间,在所述喷头的下方,并且用于处理基板;第一气体供给模块,向所述第一空间提供用于生成等离子体的第一气体;第二气体供给模块,向所述处理空间提供与所述等离子体的流出物混合的第二气体;以及第三气体供给模块,向所述处理空间提供与所述等离子体的流出物混合的第三气体,其中,所述第一气体是含氟气体,所述第二气体是含氮、氢气体,所述第三气体是与所述第二气体不同的含氮气体,且所述基板包括暴露的含硅、氧区域。

    传送单元、包括该传送单元的基板处理装置和基板处理方法

    公开(公告)号:CN112786490A

    公开(公告)日:2021-05-11

    申请号:CN202011239668.3

    申请日:2020-11-09

    Inventor: 李知桓

    Abstract: 提供传送单元、包括该传送单元的基板处理装置以及基板处理方法。所述基板处理装置包括:支撑板;多个突起,其从支撑板向上突出以支撑基板;温度调节构件,其设置在支撑板中以用于加热或冷却基板;和超声施加构件,其在放置于多个突起上的基板与支撑板之间施加超声。

    基板处理装置和方法
    16.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112201557A

    公开(公告)日:2021-01-08

    申请号:CN202010638699.X

    申请日:2020-07-06

    Abstract: 本发明提供了一种使用等离子体处理基板的装置和方法,所述装置和方法具有提升的等离子体稳定性和工艺重复性。基板处理方法包括:提供基板处理装置,基板处理装置包括等离子体生成区域和与等离子体生成区域分隔开的处理区域;在处理区域内布置包括硅层和氧化物层的基板;在不经过等离子体生成区域的情况下,向处理区域提供氢基气体,从而在处理区域中形成氢气氛;通过向等离子体生成区域提供氟基气体来生成等离子体;以及将所生成的等离子体提供到处理区域,以相对于氧化物层选择性地去除硅层。

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