能谱分辨的X射线成像装置
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101557762A

    公开(公告)日:2009-10-14

    申请号:CN200780046161.2

    申请日:2007-12-11

    CPC classification number: A61B6/405 A61B6/032

    Abstract: 本发明涉及一种X射线成像装置(100),尤其是一种能谱CT扫描器,其包括用于生成具有在观测周期(T)内连续变化的能谱(P(E,t))的X辐射的X射线源(10)。在优选实施例中,辐射(X)根据能量相关的衰减系数μ(E,r)在对象(1)内衰减,通过探测器(20,30)的传感器单元(22)测量透射的辐射,并对所得到的测量信号(i(t))进行采样和A/D转换。优选通过过采样A/D转换器,例如,∑Δ-ADC完成这一操作。以高频对驱动所述X射线源的管电压(U(t))采样。在评价系统(50)中,能够使这些采样的测量值与对应的有效能谱(Φ(E))相关,以确定能量相关的衰减系数μ(E,r)。

    用于探测由辐射源发射的光子的探测装置

    公开(公告)号:CN103314307B

    公开(公告)日:2016-04-13

    申请号:CN201180064645.6

    申请日:2011-12-27

    CPC classification number: G01T1/17

    Abstract: 本发明涉及一种用于探测辐射源(2)发射的光子的探测装置(6)。信号发生单元(20)在光子撞击探测装置(6)的同时生成指示探测到的光子的能量的探测信号,在光子被避免撞击探测装置(6)的同时生成基线信号,所述基线信号受到先前撞击探测装置(6)的光子的影响。基线偏移确定单元(40)根据所述基线信号来确定探测信号的基线偏移。能量确定单元(30)根据所述探测信号和所确定的基线偏移来确定所探测的光子的能量。由于探测信号的基线偏移是由在光子被避免撞击检测装置(6)的同时生成的基线信号确定的,因而能够以更高的准确度确定基线偏移,从而得到改善的能量确定。

    用于确定计数结果的处理电子器件和方法以及用于X射线成像设备的探测器

    公开(公告)号:CN102124372B

    公开(公告)日:2014-12-17

    申请号:CN200880108832.8

    申请日:2008-09-23

    CPC classification number: G01T1/17

    Abstract: 本发明涉及一种用于X射线成像设备(14)的探测器(12)的处理电子器件(18),所述处理电子器件(18)包括具有至少一个计数输出(30)的脉冲计数器部分(22)以及具有强度输出(32)的积分器部分(24),其中,所述处理电子器件(18)适于以这样的方式连接到传感器(16),使得由所述脉冲计数器部分(22)、由所述积分器部分(24)或者由这两者对到达所述传感器(16)的X射线光子(58)进行处理,并且其中,所述处理电子器件(18)包括处理器(34),所述处理器(34)适于连接到所述计数输出(30)以及连接到所述强度输出(32),并且适于输出考虑了在所述计数输出(30)获取的计数信息(N)和在所述强度输出(32)获取的强度信息(I)的计数结果(K),从而使得所述计数结果(K)包含从所述脉冲计数器部分(22)获取的信息(N)以及从所述积分器部分(24)获取的信息(M)。本发明还涉及用于探测器(12)的对应探测器元件(10)、X射线成像设备(14)、用于确定来自探测器元件(10)的计数结果(K)的方法、计算机程序、数据载体以及用于X射线成像设备(14)的探测器(12)。

    具有若干转换层的辐射探测器

    公开(公告)号:CN101796429A

    公开(公告)日:2010-08-04

    申请号:CN200880105812.5

    申请日:2008-09-05

    CPC classification number: G01T1/249 G01T1/20 G01T1/242

    Abstract: 本发明涉及特别用于X射线(X)和γ射线的辐射探测器(100),其包括以下部件的组合:(a)对于光子具有低衰减系数的至少一个初级转换层(101a-101f)以及(b)对于光子具有高衰减系数的至少一个次级转换层(102)。在优选实施例中,初级转换层(101a-101f)可以由与相关联的能量分辨计数电子设备(111a-111f,121)耦合的硅层实现。次级转换层(102)可以例如由与能量分辨计数电子设备或积分电子设备耦合的CZT或GOS实现。利用具有低阻止本领的初级转换层允许构建用于谱CT的堆叠式辐射探测器(100),其中将这些层的计数率限制为可行的值,而无需不现实的薄层。

    用于对X射线光子进行计数的装置、成像设备和方法

    公开(公告)号:CN101558325A

    公开(公告)日:2009-10-14

    申请号:CN200780045780.X

    申请日:2007-12-11

    CPC classification number: G01T1/17 G01T1/2928

    Abstract: 本发明涉及一种用于对X射线光子(12,14)进行计数的装置(10)。该装置(10)包括适于将光子(12,14)转换成电荷脉冲的传感器(16)、适于将电荷脉冲(51)转换成电脉冲(53)的处理元件(18)以及适于将电脉冲(53)与第一阈值(TH1)进行比较并且在超过第一阈值(TH1)时输出事件(55)的第一鉴别器(20)。第一计数器(22)对这些事件(55)进行计数,除非第一门控元件(24)禁止计数。当第一鉴别器(20)输出事件(55)时启用第一门控元件(24),并且当通过测量或通过关于在处理元件(18)中处理光子(12,14)所需的时间的知识发现对光子(12,14)的处理被完成或即将完成时停用第一门控元件。通过启用和停用第一计数器(22),可以解决堆积事件,即多个电脉冲(53)的堆积。本发明还涉及相应的成像设备和相应的方法。

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