一种列车牵引变流器冷却系统设计方法

    公开(公告)号:CN119383926A

    公开(公告)日:2025-01-28

    申请号:CN202411680642.0

    申请日:2024-11-22

    Abstract: 本发明涉及轨道交通技术领域,更具体地说,涉及一种列车牵引变流器冷却系统设计方法。本方法包括以下步骤:获取列车线路运行数据;根据列车线路运行数据,计算牵引变流器的功率器件损耗;结合牵引变流器冷却系统参数与牵引变流器的功率器件损耗的计算结果,计算功率器件结温;根据功率器件的结温计算结果,计算功率器件寿命;基于功率器件的寿命计算结果对冷却系统参数进行优化设计,并重复进行功率器件结温与寿命计算,直至功率器件的寿命计算结果满足设计寿命要求。本发明针对列车实际线路路线进行牵引变流器功率器件的寿命计算和寿命设计,实现对牵引变流器冷却系统的全面优化匹配,从而达到提高整体系统性能和可靠性的目的。

    一种双有源桥变换器、双向直流变换模块及电源供应装置

    公开(公告)号:CN119296929A

    公开(公告)日:2025-01-10

    申请号:CN202411393460.5

    申请日:2024-10-08

    Abstract: 本公开涉及一种双有源桥变换器、双向直流变换模块及电源供应装置,所述双有源桥变换器包括依次排列拼接的多相变压器,每相变压器均包括第一绕线柱磁芯、第二绕线柱磁芯、第一非绕线柱磁芯、第二非绕线柱磁芯、原边绕组和副边绕组;其中,每相变压器中的第一绕线柱磁芯、第一非绕线柱磁芯、第二绕线柱磁芯和第二非绕线柱磁芯之间首尾连接,且第一绕线柱磁芯与第二绕线柱磁芯的位置相对,相邻两个变压器中,后一个变压器的第一非绕线柱磁芯与其前一个变压器的第二非绕线柱磁芯为同一个磁芯,每相变压器中的原边绕组绕制在该相变压器中的第一绕线柱磁芯上,每相变压器中的副边绕组绕制在该相变压器中的第二绕线柱磁芯上。

    一种功率变换器的控制方法、系统、设备、介质及产品

    公开(公告)号:CN119182305A

    公开(公告)日:2024-12-24

    申请号:CN202411448355.7

    申请日:2024-10-16

    Abstract: 本申请涉及一种功率变换器的控制方法、系统、设备、介质及产品,通过按照每个采样周期采用不同的采样频率对获取到的第一原边电流进行采样,得到多个采样周期对应的多组电流采样数据,使得能够在不增加硬件资源和处理器负担的情况下,通过低采样频率,得到多组不同采样点的电流采样数据,使得根据多组不同采样点的电流采样数据得到的第一原边电流的直流分量的数据精准性非常高,再根据第一原边电流的直流分量和开关管的死区时间,对各个开关管的初始脉冲宽度进行修正,得到并根据各个开关管的修正后的脉冲宽度,产生对应的脉冲信号,对各个开关管进行驱动,能减小功率变换器中的变压器的原边电流的直流分量,能抑制功率变换器中的变压器偏磁。

    一种压接型功率半导体器件的测试装置

    公开(公告)号:CN107728032B

    公开(公告)日:2020-01-14

    申请号:CN201610672233.5

    申请日:2016-08-16

    Abstract: 一种压接型功率半导体器件的测试装置,包括:测试台控制器;测试底座,测试底座中分布有若干用于放置被测压接型功率半导体器件的测试工位,各个测试工位中形成有用于与被测压接型功率半导体器件的第一被测端子连接的第一测试电极,其中,各个测试工位的第一测试电极与测试台控制器连接;测试顶盖,其与测试台控制器连接,用于在测试台控制器向被测压接型功率半导体器件施加指定压力,测试顶盖中分布有若干用于与被测压接型功率半导体器件的第二被测端子连接的第二测试电极,各个第二测试电极与测试台控制器连接。该装置解决了传统压接型IGBT/FRD子单元无法测试或者测试难度非常大的问题,其可以实现多个子单元同时独立测试与结果记录。

    一种IGBT模块
    15.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108122897B

    公开(公告)日:2019-11-29

    申请号:CN201611085332.X

    申请日:2016-11-30

    Abstract: 本发明提供一种IGBT模块,其包括上电极、下电极以及设置在所述上电极与下电极之间的多个子单元,所述上电极上设有与多个子单元一一对应的盲孔,所述子单元包括从所述下电极向所述上电极方向依次层叠的第一导电基板、芯片、第二导电基板、导电压块以及弹性元件,所述弹性元件设置于所述盲孔内,并呈压缩状。本发明具有保证各子单元压力均衡、避免芯片压坏,且占用空间小,模块体积小的优点。

    一种IGBT模块
    17.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108122897A

    公开(公告)日:2018-06-05

    申请号:CN201611085332.X

    申请日:2016-11-30

    Abstract: 本发明提供一种IGBT模块,其包括上电极、下电极以及设置在所述上电极与下电极之间的多个子单元,所述上电极上设有与多个子单元一一对应的盲孔,所述子单元包括从所述下电极向所述上电极方向依次层叠的第一导电基板、芯片、第二导电基板、导电压块以及弹性元件,所述弹性元件设置于所述盲孔内,并呈压缩状。本发明具有保证各子单元压力均衡、避免芯片压坏,且占用空间小,模块体积小的优点。

    一种压接型功率半导体器件的测试装置

    公开(公告)号:CN107728032A

    公开(公告)日:2018-02-23

    申请号:CN201610672233.5

    申请日:2016-08-16

    Abstract: 一种压接型功率半导体器件的测试装置,包括:测试台控制器;测试底座,测试底座中分布有若干用于放置被测压接型功率半导体器件的测试工位,各个测试工位中形成有用于与被测压接型功率半导体器件的第一被测端子连接的第一测试电极,其中,各个测试工位的第一测试电极与测试台控制器连接;测试顶盖,其与测试台控制器连接,用于在测试台控制器向被测压接型功率半导体器件施加指定压力,测试顶盖中分布有若干用于与被测压接型功率半导体器件的第二被测端子连接的第二测试电极,各个第二测试电极与测试台控制器连接。该装置解决了传统压接型IGBT/FRD子单元无法测试或者测试难度非常大的问题,其可以实现多个子单元同时独立测试与结果记录。

    一种IGBT模块测试装置
    19.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106707130A

    公开(公告)日:2017-05-24

    申请号:CN201710004029.0

    申请日:2017-01-04

    CPC classification number: G01R31/2608

    Abstract: 本发明公开了一种IGBT模块测试装置,包括具有探针且位置固定的测试工装,还包括用以固定IGBT模块的热板,所述热板能够带动所述IGBT模块向所述测试工装的方向运动,以实现所述IGBT模块的针状端子与所述探针接触,所述针状端子与所述探针之间设置导电片,且所述导电片包括用以与所述针状端子相接触的倾斜端和用以与所述探针相接触的水平端。上述IGBT模块测试装置,提高了测试的稳定性,并且消除了在测试过程中,对IGBT模块针状端子产生的机械损伤,延长了使用寿命。

    一种集成电感的尺寸确定方法及相关组件

    公开(公告)号:CN119294331A

    公开(公告)日:2025-01-10

    申请号:CN202411505597.5

    申请日:2024-10-25

    Abstract: 本发明公开了一种集成电感的尺寸确定方法及相关组件,涉及集成电感设计领域,包括根据集成电感的磁芯的结构确定磁芯的等效磁路;根据等效磁路确定磁芯中每相的磁通量;根据磁通量的最大值确定绕线柱的截面积、普通磁轭的截面积及解耦磁轭的截面积;根据绕组的匝数、集成电感最大直流偏置电流、绕线柱的等效磁路长度及普通磁轭和解耦磁轭的等效磁路长度确定每相绕线柱的长度;根据绕线柱的截面积、普通磁轭的截面积及解耦磁轭的截面积及每相绕线柱的长度确定集成电感的尺寸。通过将电感进行集成,将多个交错并联的电感共用一个磁芯,减小了变换器的体积和重量。

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