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    数据处理装置、求取各像素的特性的方法以及数据处理的方法及程序
    11.
    发明授权
    数据处理装置、求取各像素的特性的方法以及数据处理的方法及程序 有权

    公开(公告)号：CN106796298B

    公开(公告)日：2020-01-21

    申请号：CN201580045810.1

    申请日：2015-07-10

    Applicant: 株式会社理学

    Inventor： 作村拓人 ,  中江保一 ,  辻优司 ,  梶芳功系兆 ,  田口武庆 ,  松下一之

    IPC: G01T1/17

    Abstract: 本发明提供一种能够省去对校正表格进行重新设定的劳力和时间，使用户能立刻在期望的条件下测定X射线强度数据的数据处理装置、求取各像素的特性的方法、以及数据处理的方法及程序。对由像素检测器测定到的X射线强度数据进行校正的数据处理装置(100)具备：存储特定的检测器的各像素的特性的特性存储部(130)；将作为利用特定的检测器进行测定时的条件来输入的测定条件以及表示各像素的特性的值应用于表示各像素处的计数值的近似表达式，使用近似表达式的计算结果来生成针对特定的检测器的校正表格的校正表格生成部(120)；和使用所生成的校正表格，对由特定的检测器测定到的X射线强度数据进行校正的校正部(160)。

    检测器
    12.
    发明公开
    检测器 有权

    公开(公告)号：CN109891589A

    公开(公告)日：2019-06-14

    申请号：CN201780066527.6

    申请日：2017-07-05

    Applicant: 株式会社理学

    Inventor： 作村拓人 ,  中江保一 ,  松下一之 ,  三楠聪

    IPC: H01L27/146 ,  G01T7/00 ,  H01L27/144 ,  H04N5/32

    Abstract: 本发明提供一种检测器，能够通过计数电路的设计在相邻的读出芯片的边缘附近确保像素配置的空间。检测器是检测放射线的二维混合像素阵列型的检测器，具备：检测部，通过各像素(115)对入射到区域内的放射线进行检测；以及多个读出芯片(120)，包含与每个像素(115)连接的计数电路(121)，沿着检测面上的固定方向，计数电路(121)的设定间距比像素(115)的设定间距小，像素和与像素对应的计数电路彼此所占据的区域至少部分地重叠，在重叠的区域内进行连接。

    X射线数据处理装置、其方法以及程序
    14.
    发明公开
    X射线数据处理装置、其方法以及程序 有权

    公开(公告)号：CN106290428A

    公开(公告)日：2017-01-04

    申请号：CN201610391502.0

    申请日：2016-06-06

    Applicant: 株式会社理学

    Inventor： 作村拓人 ,  中江保一

    IPC: G01N23/207 ,  G01N23/223

    Abstract: 本发明提供一种能够消除分配后的计数值的统计偏差与其他位置不同地被估算的影响，并能够防止校正的影响残留的X射线数据处理装置、其方法以及程序。X射线数据处理装置(200)对由像素阵列型检测器检测到的X射线强度的计数值进行校正，具备：存储部(220)，其对虚拟像素的形状以及位置与实际像素的形状以及位置的对应关系进行存储；和分配部(260)，其使用对所存储的对应关系给予了随机性的对应关系，将实际像素的计数值分配给虚拟像素，将分配给虚拟像素的计数值作为校正结果来输出。

    X射线数据处理装置、处理方法以及处理程序
    16.
    发明公开
    X射线数据处理装置、处理方法以及处理程序 有权

    公开(公告)号：CN103995013A

    公开(公告)日：2014-08-20

    申请号：CN201410054347.4

    申请日：2014-02-18

    Applicant: 株式会社理学

    Inventor： 松下一之 ,  作村拓人 ,  中江保一

    IPC: G01N23/207

    CPC classification number: G01T1/2914 ,  G01N23/087 ,  G01T7/005

    Abstract: 本发明提供一种在检测多波长X射线时能够去除残留在低能量侧的数据中的高能量侧的X射线的残留图像的X射线数据处理装置、X射线数据处理方法以及X射线数据处理程序。对同时测定多波长的X射线而得到的X射线数据进行处理的X射线数据处理装置具备：管理部（210），接收由具有多个邻接的检测部分的检测器检测出的、通过能量阈值分离的X射线数据，并进行管理；计算部（230），基于接收的X射线数据中的通过高能量侧的阈值获得的高能量侧数据以及通过低能量侧的阈值获得的低能量侧数据，计算出低能量侧数据中的来自于高能量侧数据的检测量；修正部（250），使用计算出的检测量，对低能量侧数据进行再构成。

    放射线检测器、触发信号生成器以及放射线分析系统
    17.
    发明公开
    放射线检测器、触发信号生成器以及放射线分析系统 审中-实审

    公开(公告)号：CN118534519A

    公开(公告)日：2024-08-23

    申请号：CN202410199131.0

    申请日：2024-02-22

    Applicant: 株式会社理学

    Inventor： 佐久间保孝 ,  中江保一 ,  作村拓人

    IPC: G01T1/18 ,  G01T1/17 ,  G01N23/207 ,  G01T1/02 ,  G01T1/24 ,  G01N23/04 ,  G01T1/00 ,  G01N23/00 ,  G01T7/00

    Abstract: 本发明提供一种放射线检测器、触发信号生成器以及放射线分析系统，通过生成不依赖于曝光或读出的信号的触发输出信号，能够以高精度且高效率使外部电路与放射线检测同步。具备：传感器(110)，在通过曝光检测出放射线的粒子时产生脉冲；计数器(140)，其设置成能按每帧对脉冲进行计数；读出电路(150)，其读出由计数器(140)进行的计数值；控制电路(160)，其通过信号来控制曝光和读出；以及触发信号生成电路(170)，其在将设定有高或低的区间的1个或一连串的预定个数的帧表示为1个单位的帧时，生成确定所述设定的高和低的区间的触发输出信号。

    处理装置、方法以及记录介质
    18.
    发明授权
    处理装置、方法以及记录介质 有权

    公开(公告)号：CN109668918B

    公开(公告)日：2022-07-29

    申请号：CN201811193575.4

    申请日：2018-10-12

    Applicant: 株式会社理学

    Inventor： 作村拓人 ,  中江保一 ,  松下一之

    IPC: G01N23/207

    Abstract: 本发明提供处理装置、方法以及记录介质。处理装置具备：算出部(220)，其基于检测一致的X射线照射所得的强度分布来算出在外周侧的单位区域检测到的X射线强度数据的扩充率；和第1功能生成部(230)，其基于扩充率来生成将在外周侧的单位区域检测到的X射线强度数据向外侧的单位区域分配的分配功能。如此，通过使得能基于进行一致的X射线照射时的强度分布进行外周补正，能补正外周的强度分布的失真。其结果能扩大X射线强度数据的检测区域。

    处理装置、系统、X射线测定方法以及记录介质
    19.
    发明公开
    处理装置、系统、X射线测定方法以及记录介质 有权

    公开(公告)号：CN112711058A

    公开(公告)日：2021-04-27

    申请号：CN202011128545.2

    申请日：2020-10-20

    Applicant: 株式会社理学

    Inventor： 小林信太郎 ,  中江保一 ,  作村拓人 ,  佐久间保孝

    IPC: G01T1/18 ,  G01T1/24

    Abstract: 本发明提供处理装置、系统、X射线测定方法以及记录介质，对用现有的方法不能覆盖的高的计数率也能削减计数遗漏的影响。具备：存储部(220)，其通过光子计数型的半导体检测器对入射X射线的脉冲信号进行计数，并存储读出的输出值；和算出部(230)，其基于读出输出值来算出计数值，算出部(230)使用相对于针对曝光的脉冲检测率的增加而脉冲信号的表观的时间常数单调减少的模型。在这样的模型中，不管多高的计数率都能得到对应的表观的时间常数。其结果，对用现有的方法不能覆盖的高的计数率也能削减计数遗漏的影响。

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