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公开(公告)号:CN1534371A
公开(公告)日:2004-10-06
申请号:CN200410005444.0
申请日:1995-04-08
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H04N5/2357 , H04N5/2352
Abstract: 与动图像摄像时每1场的曝光量相比,增大静止图像摄像时的曝光量。最好使后者为前者的2倍。进行静止图像摄像时,将光圈闭锁,同时,利用电子快门清除摄像器件的电荷,调节曝光量。当在光圈的闭锁动作中产生误差时,静止图像摄像时的曝光量就成为与设计值不同的值。根据曝光量的设计值与实测值之差,修正图像信号的增益。进行动图像摄像时,调节光圈和电子快门速度,特别是通过使电子快门速度成为1/100秒,防止在进行室内摄像时荧光灯引起的闪烁。
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公开(公告)号:CN1505840A
公开(公告)日:2004-06-16
申请号:CN01822944.1
申请日:2001-10-31
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: H01L27/108 , H01L21/8242
CPC classification number: H01L21/28194 , H01L21/02057 , H01L21/02068 , H01L21/02071 , H01L21/0217 , H01L21/02211 , H01L21/0223 , H01L21/02238 , H01L21/02255 , H01L21/02271 , H01L21/28061 , H01L21/28176 , H01L21/28247 , H01L21/31662 , H01L21/67115 , H01L21/76838 , H01L21/823437 , H01L21/84 , H01L27/10814 , H01L27/10873 , H01L27/10894 , H01L27/1214 , H01L29/4941 , H01L29/518
Abstract: 在形成一种其中在一个多晶硅膜上层叠一个WNx膜和一个W膜的多金属结构的栅电极7A之后,当执行使栅绝缘膜6再生的氧化处理时,在使各栅电极7A的侧壁上的氧化钨27还原的条件下,使晶片1加热和冷却。结果,使晶片1的表面上淀积的氧化钨27的量减少。
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公开(公告)号:CN1119281A
公开(公告)日:1996-03-27
申请号:CN95103276.3
申请日:1995-04-08
Applicant: 株式会社日立制作所
Abstract: 与动图像摄像时每1场的曝光量相比,增大静止图像摄像时的曝光量。最好使后者为前者的2倍。进行静止图像摄像时,将光圈闭锁,同时,利用电子快门清除摄像器件的电荷,调节曝光量。当在光圈的闭锁动作中产生误差时,静止图像摄像时的曝光量就成为与设计值不同的值。根据曝光量的设计值与实测值之差,修正图像信号的增益。进行动图像摄像时,调节光圈和电子快门速度,特别是通过使电子快门速度成为1/100秒,防止在进行室内摄像时荧光灯引起的闪烁。
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公开(公告)号:CN100440939C
公开(公告)日:2008-12-03
申请号:CN200610099975.X
申请日:1995-04-08
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: H04N5/235
Abstract: 与动图像摄像时每1场的曝光量相比,增大静止图像摄像时的曝光量。最好使后者为前者的2倍。进行静止图像摄像时,将光圈闭锁,同时,利用电子快门清除摄像器件的电荷,调节曝光量。当在光圈的闭锁动作中产生误差时,静止图像摄像时的曝光量就成为与设计值不同的值。根据曝光量的设计值与实测值之差,修正图像信号的增益。进行动图像摄像时,调节光圈和电子快门速度,特别是通过使电子快门速度成为1/100秒,防止在进行室内摄像时荧光灯引起的闪烁。
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公开(公告)号:CN1534369A
公开(公告)日:2004-10-06
申请号:CN200410005442.1
申请日:1995-04-08
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H04N5/2357 , H04N5/2352
Abstract: 与动图像摄像时每1场的曝光量相比,增大静止图像摄像时的曝光量。最好使后者为前者的2倍。进行静止图像摄像时,将光圈闭锁,同时,利用电子快门清除摄像器件的电荷,调节曝光量。当在光圈的闭锁动作中产生误差时,静止图像摄像时的曝光量就成为与设计值不同的值。根据曝光量的设计值与实测值之差,修正图像信号的增益。进行动图像摄像时,调节光圈和电子快门速度,特别是通过使电子快门速度成为1/100秒,防止在进行室内摄像时荧光灯引起的闪烁。
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公开(公告)号:CN100447980C
公开(公告)日:2008-12-31
申请号:CN200610135745.4
申请日:2001-10-31
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: H01L21/768 , H01L21/28 , H01L21/8242
CPC classification number: H01L21/28194 , H01L21/02057 , H01L21/02068 , H01L21/02071 , H01L21/0217 , H01L21/02211 , H01L21/0223 , H01L21/02238 , H01L21/02255 , H01L21/02271 , H01L21/28061 , H01L21/28176 , H01L21/28247 , H01L21/31662 , H01L21/67115 , H01L21/76838 , H01L21/823437 , H01L21/84 , H01L27/10814 , H01L27/10873 , H01L27/10894 , H01L27/1214 , H01L29/4941 , H01L29/518
Abstract: 在形成一种其中在一个多晶硅膜上层叠一个WNx膜和一个W膜的多金属结构的栅电极7A之后,当执行使栅绝缘膜6再生的氧化处理时,在使各栅电极7A的侧壁上的氧化钨27还原的条件下,使晶片1加热和冷却。结果,使晶片1的表面上淀积的氧化钨27的量减少。
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公开(公告)号:CN1928508A
公开(公告)日:2007-03-14
申请号:CN200610001247.0
申请日:2006-01-10
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: G01F1/684
CPC classification number: G01F1/6845 , G01F1/699 , G01P5/10
Abstract: 本发明提供一种流量传感器,能够通过在半导体衬底上隔着绝缘膜形成具有相对较高的TCR的金属膜来实现高灵敏度。作为热式流体流量传感器的测量元件包括:由第1金属膜构成的发热电阻体(3)、测温电阻体(上游侧测温电阻体(4a)和下游侧测温电阻体(4b))、以及空气温度测温电阻体(5),由用溅射法在含金属的非晶质膜(9)上淀积得到的具有Ta结晶块的3倍或3倍以下电阻率的α-Ta膜形成上述第1金属膜。
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公开(公告)号:CN1897651A
公开(公告)日:2007-01-17
申请号:CN200610099979.8
申请日:1995-04-08
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: H04N5/235
Abstract: 与动图像摄像时每1场的曝光量相比,增大静止图像摄像时的曝光量。最好使后者为前者的2倍。进行静止图像摄像时,将光圈闭锁,同时,利用电子快门清除摄像器件的电荷,调节曝光量。当在光圈的闭锁动作中产生误差时,静止图像摄像时的曝光量就成为与设计值不同的值。根据曝光量的设计值与实测值之差,修正图像信号的增益。进行动图像摄像时,调节光圈和电子快门速度,特别是通过使电子快门速度成为1/100秒,防止在进行室内摄像时荧光灯引起的闪烁。
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公开(公告)号:CN1187813C
公开(公告)日:2005-02-02
申请号:CN99106677.4
申请日:1999-05-20
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: H01L21/82 , H01L21/28 , H01L21/316 , H01L21/8238 , H01L27/092
CPC classification number: H01L21/28247 , H01L21/28044 , H01L21/28061 , H01L21/32105 , H01L21/67098 , H01L21/67115 , H01L21/823842 , H01L21/823857 , H01L27/1214 , H01L29/4941 , H01L29/4983
Abstract: 轻度氧化工艺技术,在采用多晶硅及金属栅结构和双栅结构的CMOS LSI中,向半导体晶片A1的主表面提供含氢气及由氧气和氢气合成的蒸汽的混合气体,在难熔金属膜基本上不被氧化,且包含于构成栅极一部分的p型多晶硅膜中的硼不会通过栅氧化膜扩散到半导体衬底的低热负载条件下,进行热处理,以改善栅极边缘部分之下被腐蚀掉的栅绝缘膜的外形。
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公开(公告)号:CN1534370A
公开(公告)日:2004-10-06
申请号:CN200410005443.6
申请日:1995-04-08
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H04N5/2357 , H04N5/2352
Abstract: 与动图像摄像时每1场的曝光量相比,增大静止图像摄像时的曝光量。最好使后者为前者的2倍。进行静止图像摄像时,将光圈闭锁,同时,利用电子快门清除摄像器件的电荷,调节曝光量。当在光圈的闭锁动作中产生误差时,静止图像摄像时的曝光量就成为与设计值不同的值。根据曝光量的设计值与实测值之差,修正图像信号的增益。进行动图像摄像时,调节光圈和电子快门速度,特别是通过使电子快门速度成为1/100秒,防止在进行室内摄像时荧光灯引起的闪烁。
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